定制高端激光薄膜

光学薄膜论坛

 找回密码
 注册
搜索
本站邀请注册说明!
查看: 8127|回复: 33

镀膜,大家都用什么设备来监控膜厚呢?

[复制链接]
发表于 2006-8-11 05:56:19 | 显示全部楼层 |阅读模式
我家的MAXTEK 360C 为什么设定厚度和实际基片测量厚度差别大,而且设定厚度
8 [* O/ B" ~( o0 w- l- Q1500A,测量的片子有时候是750A, 2100A,, x$ A1 U( _0 U5 }

2 Q/ q/ \% [2 F% Z  i  哪里有问题了呢?! ?8 e/ |. c2 N" g" V/ r+ m8 w& ^
. N6 N8 w8 s# Q/ l
$ c& {' p4 H& s( ?
帮忙分析,谢谢
发表于 2006-8-14 06:31:37 | 显示全部楼层
我们用的是IC/5控制膜厚的!
 楼主| 发表于 2006-8-14 11:01:09 | 显示全部楼层
设定膜厚和实际需要(测量得到)的一样么?
发表于 2006-8-27 04:13:00 | 显示全部楼层
你测的地方刚好是最高和最低点吧 呵呵 偶也是猜的
发表于 2006-9-6 15:53:04 | 显示全部楼层
我做的膜层经常也是设计的膜厚和实测的差别很大
发表于 2006-9-14 10:29:50 | 显示全部楼层
我们使用光控来控制厚度
发表于 2006-9-23 05:29:06 | 显示全部楼层
To txlyaya $ ?4 M. u- Y$ h' I2 ^+ L
你测的是同一材料相同设定参数下的膜层厚度呢?4 b8 [7 P5 w  E8 f
还有你设的Tooling是多少呢?
发表于 2006-9-24 03:06:59 | 显示全部楼层
晶振转换器有故障
发表于 2006-9-28 11:18:30 | 显示全部楼层
[s:1]  [s:1]
发表于 2006-10-9 04:55:00 | 显示全部楼层
Tooling
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

本站邀请注册说明!

小黑屋|手机版|Archiver|光学薄膜信息网  

GMT+8, 2024-7-1 16:56 , Processed in 0.031920 second(s), 18 queries .

Powered by Discuz! X3.4 Licensed

Copyright © 2001-2021, Tencent Cloud.

快速回复 返回顶部 返回列表