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镀膜,大家都用什么设备来监控膜厚呢?

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发表于 2006-8-10 21:56:19 | 显示全部楼层 |阅读模式
我家的MAXTEK 360C 为什么设定厚度和实际基片测量厚度差别大,而且设定厚度/ l( i  m" `" a4 y4 Q- x7 g
1500A,测量的片子有时候是750A, 2100A,; u$ S' Y5 K  K5 ~

; }& H, T- t$ ?& `  哪里有问题了呢?9 }" j. U( a7 N% `; x

6 Q: _- }, y0 Z6 u5 }5 T' w' L2 e3 s: N4 e! F  g
帮忙分析,谢谢
发表于 2006-8-13 22:31:37 | 显示全部楼层
我们用的是IC/5控制膜厚的!
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 楼主| 发表于 2006-8-14 03:01:09 | 显示全部楼层
设定膜厚和实际需要(测量得到)的一样么?
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发表于 2006-8-26 20:13:00 | 显示全部楼层
你测的地方刚好是最高和最低点吧 呵呵 偶也是猜的
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发表于 2006-9-6 07:53:04 | 显示全部楼层
我做的膜层经常也是设计的膜厚和实测的差别很大
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发表于 2006-9-14 02:29:50 | 显示全部楼层
我们使用光控来控制厚度
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发表于 2006-9-22 21:29:06 | 显示全部楼层
To txlyaya ) y* j: i7 m7 X" D" `
你测的是同一材料相同设定参数下的膜层厚度呢?& f% v% Q) d. p3 P6 V8 U
还有你设的Tooling是多少呢?
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发表于 2006-9-23 19:06:59 | 显示全部楼层
晶振转换器有故障
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发表于 2006-9-28 03:18:30 | 显示全部楼层
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发表于 2006-10-8 20:55:00 | 显示全部楼层
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