找回密码
 注册
楼主: huamu_2008

请问北京什么地方可以做薄膜反射谱的测试,急,急,急!!!

[复制链接]

1

主题

1

主题

1

主题

积分
448
发表于 2009-8-6 02:54:13 | 显示全部楼层
北京电子部11所
回复

使用道具 举报

7

主题

7

主题

7

主题

积分
199
QQ
发表于 2010-8-10 20:06:00 | 显示全部楼层
我们是北京燕京电子有限公司 联系电话 010-58237160   liusp@beijingec.com 6\\jhDP@`9  
# J; s/ e; H1 F8 pG.CkceWRn  ( a, A6 h% d4 F# R7 O1 b7 G, E( s9 v
测量类型:薄膜厚度,反射光谱,透射光谱,折射率 JDi\\?m d.  
+ N3 w4 G( G) S$ r% v[I*zZ`  8 E; z- w8 ^7 g" h7 P# \, ~
产品规格 HE>6A|rgDr  % j1 ~% ?0 V) H; I( b- f4 m+ x/ J
波长范围:250nm到1100 nm {G _ :#cep  
: P7 _' s6 c" e, c/ r1 B! t光斑尺寸:500μm至5mm `;?`XC"m  ' m, R) D; d# L( L& C
样品尺寸:100mmx100mm QahM)Gb  
( Z+ c& g& S1 j  p: j2 L基板尺寸:最多可至50毫米厚 cj=6_k  & c( |+ f9 e$ N7 C* }# j" P8 z; _4 J4 q5 q
测量厚度范围*:5nm-50μm 6Z2a5zO8  
5 D+ p  }* W5 U7 W4 ?测量时间:最快2毫秒 o Ho@rGU  
. M4 V( G3 \" s4 [8 ~8 T精确度:优于0.5%(通过使用相同的光学常数,让椭偏仪的结果与热氧化物样品相比较) pP JhF8Dt  : l& u- s) U1 c, D+ n
重复性误差*:小于1A :Kc9k(3&r  + J9 N' |2 \4 d
HB+{vuN*L  + q- v- r: s9 u$ r3 ?2 {) i3 l
产品应用: IIrp-EMXJ  
2 ?- \8 s* c1 g, X3 {半导体制造(PR,Oxide, Nitride..) [nL{n bli  6 r) d1 w8 g2 g5 Y* F0 w& w) O
液晶显示(ITO,PR,Cell gap... ..) " n, ? )  ! H& r0 R9 @6 ?1 Z
医学,生物薄膜及材料领域等 /XfE6SBz  
% {, q: v4 f/ S9 U5 Z! l油墨,矿物学,颜料,调色剂等 &w4~0J>v!  ; W+ u! v2 a# @- r6 G
医药,中间设备 =8Bq2.nlR  
9 S4 L1 \+ b8 z) ]; z光学涂层,TiO2, SiO2, Ta2O5... .. B4 XN  
: \! U( Q/ ]; Z) n半导体化合物 G a1B&@T  
8 R4 e0 Z$ b3 N3 G) Y在MEMS/MOEMS系统上的功能性薄膜 $F^p5EXkc6  
: x( B/ f$ H% D3 L, E* r* _# c非晶体,纳米材料和结晶硅
回复

使用道具 举报

您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

Archiver|手机版|小黑屋|光学薄膜论坛

GMT, 2025-12-19 , Processed in 0.022798 second(s), 21 queries .

Powered by Discuz! X3.5 Licensed

© 2001-2025 Discuz! Team.

快速回复 返回顶部 返回列表