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发表于 2010-8-11 04:06:00
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8 @* {- m2 ]: q- z9 R测量类型:薄膜厚度,反射光谱,透射光谱,折射率 JDi\\?m d.
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产品规格 HE>6A|rgDr
! y3 p9 Y' \; R3 R波长范围:250nm到1100 nm {G _ :#cep 0 n9 H: M! \8 u: x
光斑尺寸:500μm至5mm `;?`XC"m 7 l2 L9 G% x- w/ o7 }- \/ p
样品尺寸:100mmx100mm QahM)Gb 1 z! }1 {! q- S( O% w. E7 \
基板尺寸:最多可至50毫米厚 cj=6_k 0 |& o$ I2 v9 Y$ i2 c4 _
测量厚度范围*:5nm-50μm 6Z2a5zO8
2 q k/ _5 F9 s6 U1 [, T/ C0 v测量时间:最快2毫秒 o Ho@rGU
+ t: e3 V! k) T! h精确度:优于0.5%(通过使用相同的光学常数,让椭偏仪的结果与热氧化物样品相比较) pP JhF8Dt
2 L6 g. B5 X, l2 _4 W, M. ^% ]重复性误差*:小于1A :Kc9k(3&r
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& s/ u0 m3 s0 z a9 p. t+ q产品应用: IIrp-EMXJ
8 c7 o9 R8 @ ~8 O0 {半导体制造(PR,Oxide, Nitride..) [nL{n bli
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医学,生物薄膜及材料领域等 /XfE6SBz
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医药,中间设备 =8Bq2.nlR
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在MEMS/MOEMS系统上的功能性薄膜 $F^p5EXkc6 2 Z+ O! L! R. C" A+ d
非晶体,纳米材料和结晶硅 |
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