请问北京什么地方可以做薄膜反射谱的测试，急，急，急！！！

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我们是北京燕京电子有限公司 联系电话 010-58237160   liusp@beijingec.com 6\\jhDP@`9  
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测量类型：薄膜厚度，反射光谱，透射光谱，折射率 JDi\\?m d.  
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7 E) q# c0 }4 ~产品规格 HE>6A|rgDr  
波长范围：250nm到1100 nm {G _ :#cep  
光斑尺寸：500μm至5mm `;?`XC"m  
. R5 A% {) c# e: S样品尺寸：100mmx100mm QahM)Gb  
3 D' J4 a* k5 M2 K基板尺寸：最多可至50毫米厚 cj=6_k  
测量厚度范围*：5nm-50μm 6Z2a5zO8  
测量时间：最快2毫秒 o Ho@rGU  
% l5 H, R- U& G精确度：优于0.5％（通过使用相同的光学常数，让椭偏仪的结果与热氧化物样品相比较） pP JhF8Dt  
! [/ Z  b" d6 ?* M: U重复性误差*：小于1A :Kc9k(3&r  
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3 y' U; {4 {! g. d0 g& ?, Z# q产品应用: IIrp-EMXJ  
2 c1 y6 K; K' d& k半导体制造（PR，Oxide, Nitride..) [nL{n bli  
0 s/ _2 x4 Y+ j9 r+ B液晶显示（ITO，PR，Cell gap... ..） " n, ? )  
) h" L( [. ~) ^/ t. Z7 F  F医学，生物薄膜及材料领域等 /XfE6SBz  
! d7 g" y' Y# Z& `2 _( ]油墨，矿物学，颜料，调色剂等 &w4~0J>v!  
医药，中间设备 =8Bq2.nlR  
8 ~$ V1 `& Z& g* h7 z5 S光学涂层，TiO2, SiO2, Ta2O5... .. B4 XN  
半导体化合物 G a1B&@T  
- W+ C* C' `' ?) O在MEMS/MOEMS系统上的功能性薄膜 $F^p5EXkc6  
( D& k9 f; `( p* t) ~' O非晶体，纳米材料和结晶硅