|
|
我所拥有进口光谱椭偏仪一台,相关实验、测试可面向社会开放,并可进行椭偏仪的校准服务;我们在椭偏仪应用、设计方面拥有丰富的研究经验,如果您在使用、建模、拟合方面有什么问题,我们将很乐意提供服务和咨询,同时欢迎合作研究。
+ v$ H8 U, S" j2 D( i n
$ C- D% t& x8 o0 d应用简介:
5 [3 I$ ]( u+ Z+ P1 z! y8 B7 |; @: Y" q$ Z
1. 薄膜膜厚及其光学常数(折射率、消光系数)等4 t4 ?: i6 i5 y. S; p* ]
' |# g/ b% v, i0 \; c) @
2. 多层薄膜材料的结构和表面、界面粗糙度$ z, `9 j+ E& t
2 S. a& z) q8 d9 Y9 Z/ y5 _6 B
仪器简明特性:. `0 m7 S# a/ n- F' `$ ]% ]
光源波段:245~2100nm,
) x+ H& [ h7 q入射角范围:45~90deg(步长最小0.01度),
) D8 d0 n9 ?2 g/ _: \
, g- h( d4 T9 U& h$ L# u# @$ _8 F v9 K% [0 c W2 m2 A
地址:中国计量科学研究院(www.nim.ac.cn)光学所,北京北三环东路18号,100013
: y0 R" a1 \; E, [/ O联系方式:010-64524816,陈老师" R( h1 p" t% ^( U
邮箱:luwnd@126.com |
|