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椭偏仪薄膜特性表征(仪器信息)

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发表于 2009-8-6 16:29:37 | 显示全部楼层 |阅读模式
我所拥有进口光谱椭偏仪一台,相关实验、测试可面向社会开放,并可进行椭偏仪的校准服务;我们在椭偏仪应用、设计方面拥有丰富的研究经验,如果您在使用、建模、拟合方面有什么问题,我们将很乐意提供服务和咨询,同时欢迎合作研究。2 T2 B# F) t, P2 X
! }: X: {! I7 X0 J+ Y0 f
应用简介:. P. m, f# i% {  u  W

; e/ [, U+ z% v# d. j( j& {1. 薄膜膜厚及其光学常数(折射率、消光系数)等9 K" q) Z. L  }) x7 S- i

: A% H+ K  u5 w4 ~2. 多层薄膜材料的结构和表面、界面粗糙度
& e6 i  h: ^7 x0 @2 A8 P: d3 I( j+ x5 P, Y1 F6 B2 z- G3 {" P
仪器简明特性:2 S$ ^( }4 A2 }
光源波段:245~2100nm,
3 T6 }% W8 G; D入射角范围:45~90deg(步长最小0.01度),* H) \% H! G0 V5 N+ J% b( L
" a8 K/ K* ^: b0 U
  i! I( U# C/ A
地址:中国计量科学研究院(www.nim.ac.cn)光学所,北京北三环东路18号,1000137 B& ~$ j- }' H$ P
联系方式:010-64524816,陈老师
. d: R- m9 `) k& o$ d邮箱:luwnd@126.com

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发表于 2009-11-11 03:43:50 | 显示全部楼层
原来是广告啊
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