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椭偏仪薄膜特性表征(仪器信息)

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发表于 2009-8-7 00:29:37 | 显示全部楼层 |阅读模式
我所拥有进口光谱椭偏仪一台,相关实验、测试可面向社会开放,并可进行椭偏仪的校准服务;我们在椭偏仪应用、设计方面拥有丰富的研究经验,如果您在使用、建模、拟合方面有什么问题,我们将很乐意提供服务和咨询,同时欢迎合作研究。* @8 x9 F5 c8 u$ _9 z
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应用简介:
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1. 薄膜膜厚及其光学常数(折射率、消光系数)等6 A8 _; u" }6 g

4 \! o+ c& O# {2. 多层薄膜材料的结构和表面、界面粗糙度
6 _- X# s0 f" n& J3 Y* L- J: C3 o0 i0 I8 @
仪器简明特性:  e' O/ b0 Q0 G, J$ P: E( M* Q% M1 X$ v
光源波段:245~2100nm,- t- ]4 d& i) {! e7 k9 I! k
入射角范围:45~90deg(步长最小0.01度),
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  H3 i4 E4 }( d7 Z! H0 }
地址:中国计量科学研究院(www.nim.ac.cn)光学所,北京北三环东路18号,100013
; m6 c% T+ T7 N; a9 T: P4 B联系方式:010-64524816,陈老师4 a9 n) B2 Y  D* R+ L( o: U
邮箱:luwnd@126.com
发表于 2009-11-11 11:43:50 | 显示全部楼层
原来是广告啊
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