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椭偏仪薄膜特性表征(仪器信息)

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发表于 2009-8-6 16:29:37 | 显示全部楼层 |阅读模式
我所拥有进口光谱椭偏仪一台,相关实验、测试可面向社会开放,并可进行椭偏仪的校准服务;我们在椭偏仪应用、设计方面拥有丰富的研究经验,如果您在使用、建模、拟合方面有什么问题,我们将很乐意提供服务和咨询,同时欢迎合作研究。
" c1 J$ l+ T; W* s* b* M7 ~: _7 E- B  q. C7 e: Y, y
应用简介:$ W+ l" e. l: y8 T) n7 a" i

8 V8 S2 s$ k2 z3 a8 P0 z( d! C1. 薄膜膜厚及其光学常数(折射率、消光系数)等, ?: V" T6 x6 @: S$ ~. N

. x/ I# m0 a" {0 R5 P- X" e$ w2. 多层薄膜材料的结构和表面、界面粗糙度- k1 t' u* G* \" s
% Q4 _/ _0 K$ W/ a0 `8 n5 \
仪器简明特性:
6 g& H3 |, E3 V2 l/ h/ N光源波段:245~2100nm,  M' w8 w0 k. e  U
入射角范围:45~90deg(步长最小0.01度),
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( K* r% _$ A3 j; t* P' f7 o2 A1 ^
地址:中国计量科学研究院(www.nim.ac.cn)光学所,北京北三环东路18号,1000139 P7 N4 s; W4 p$ ~# S
联系方式:010-64524816,陈老师- D( f% k& @: ^
邮箱:luwnd@126.com

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发表于 2009-11-11 03:43:50 | 显示全部楼层
原来是广告啊
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