An Analysis of the Relationship Between the Functions of the Addition of Thin Film Transmission / Reflection and Its Thickness / Refraction Index
: y4 R7 e( O$ G2 ` _" n【作者中文名】 蓝海江;
7 U4 {+ F' P6 l7 P! R【作者英文名】 Lan Hai-jiang （Physics Department; Liuzhou Teachers' College; Liuzhou; Guangxi 546300）; - s. `: ?! i v1 ]0 W5 \& c
【作者单位】 柳州师范高等专科学校物理系 广西柳州;
4 K6 }! N% ~9 B* }【文献出处】 河池师专学报, Journal of Hechi Normal College, 编辑部邮箱 2001年 02期
9 U! a8 u A! F7 D5 Y; u期刊荣誉：ASPT来源刊 CJFD收录刊
/ S1 l6 w; o/ a; u$ E: P【关键词】 薄膜; 反射率; 厚度; 折射率; 3 h' p- c G2 i
【英文关键词】 thin film; reflectivity; thickness; refraction index.; ! l) G7 j! p+ N6 V
【摘要】 以单层薄膜为例 ,首先应用多光束干涉原理 ,推导出光强反射率公式 ,然后讨论薄膜的增透、增反作用与其厚度、折射率之间的关系。
. @' E V7 j* c【英文摘要】 In the paper, the author takes one-layer thin film for example and, based on the Theory of Multiple-beam Interfernce, the formula of the light reflectivity of intensity is deduced. Then is analyzed the relationship between the functions of the addition of thin film transmission / reflection and its thickness / refraction index. 5 [( o A1 B$ S Q, b3 J
【DOI】 cnki:ISSN:1005-765X.0.2001-02-012 |
发表于 2007-11-7 01:49:51
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