An Analysis of the Relationship Between the Functions of the Addition of Thin Film Transmission / Reflection and Its Thickness / Refraction Index
; N( H/ \+ l0 I. p3 T【作者中文名】 蓝海江;
! y/ Y1 u* L9 z- @* o【作者英文名】 Lan Hai-jiang （Physics Department; Liuzhou Teachers' College; Liuzhou; Guangxi 546300）; $ v3 y4 J3 c( a+ g2 P) `% |7 T* Z
【作者单位】 柳州师范高等专科学校物理系 广西柳州;
# w5 x% ^1 f9 J8 N, |【文献出处】 河池师专学报, Journal of Hechi Normal College, 编辑部邮箱 2001年 02期 1 g4 S8 T# P- Y _7 b! n. n# X
期刊荣誉：ASPT来源刊 CJFD收录刊 ! |8 [3 K6 c% a3 J2 n* s' P
【关键词】 薄膜; 反射率; 厚度; 折射率; , ` ]% n1 {% I6 q
【英文关键词】 thin film; reflectivity; thickness; refraction index.; 6 D# Y" K H* T( J! I4 L
【摘要】 以单层薄膜为例 ,首先应用多光束干涉原理 ,推导出光强反射率公式 ,然后讨论薄膜的增透、增反作用与其厚度、折射率之间的关系。
" b% a/ o5 f6 K: n【英文摘要】 In the paper, the author takes one-layer thin film for example and, based on the Theory of Multiple-beam Interfernce, the formula of the light reflectivity of intensity is deduced. Then is analyzed the relationship between the functions of the addition of thin film transmission / reflection and its thickness / refraction index.
4 P7 Q3 F4 I: C# q$ s【DOI】 cnki:ISSN:1005-765X.0.2001-02-012 |
发表于 2007-11-7 01:49:51
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