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楼主: huamu_2008

请问北京什么地方可以做薄膜反射谱的测试,急,急,急!!!

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发表于 2009-8-6 10:54:13 | 显示全部楼层
北京电子部11所
发表于 2010-8-11 04:06:00 | 显示全部楼层
我们是北京燕京电子有限公司 联系电话 010-58237160   liusp@beijingec.com 6\\jhDP@`9  
: i6 \1 E; A* r% c. ^G.CkceWRn  
2 F( n" S. x* E' d测量类型:薄膜厚度,反射光谱,透射光谱,折射率 JDi\\?m d.  
- ^5 Q$ R4 Q, `3 o- j[I*zZ`  ( o! m5 ~- \4 o/ T
产品规格 HE>6A|rgDr  
2 `* p3 k' p: r8 `0 Y5 {+ f/ s波长范围:250nm到1100 nm {G _ :#cep  9 p+ p0 S0 i* o0 r
光斑尺寸:500μm至5mm `;?`XC"m  
* i- z9 p+ Q, w3 @3 C( ~4 v% j+ X/ o样品尺寸:100mmx100mm QahM)Gb  
, t( M( x/ u, P+ d基板尺寸:最多可至50毫米厚 cj=6_k  : K) x+ @) Z# g0 k" X* i1 Z* c
测量厚度范围*:5nm-50μm 6Z2a5zO8  8 @* R! u& R  w+ d/ B3 D; a4 P# ?
测量时间:最快2毫秒 o Ho@rGU    I+ v& k9 j) I& T1 X. o
精确度:优于0.5%(通过使用相同的光学常数,让椭偏仪的结果与热氧化物样品相比较) pP JhF8Dt  
0 Y2 L, \3 T6 I- e重复性误差*:小于1A :Kc9k(3&r  . {9 b* r0 T8 J5 ?' H
HB+{vuN*L  
/ J' h; b9 |1 ^+ d( S, `产品应用: IIrp-EMXJ  ' h4 v4 C+ d# X0 b0 A
半导体制造(PR,Oxide, Nitride..) [nL{n bli  6 K' Q4 w- t: W
液晶显示(ITO,PR,Cell gap... ..) " n, ? )  & E" d6 e; J7 K4 y2 X
医学,生物薄膜及材料领域等 /XfE6SBz  
( _6 R% ~, W  X5 {5 R, q' k油墨,矿物学,颜料,调色剂等 &w4~0J>v!  ( Z7 o9 Z, t, s3 `  X
医药,中间设备 =8Bq2.nlR  
7 M! E4 M' M# \; P8 ?( V光学涂层,TiO2, SiO2, Ta2O5... .. B4 XN  5 m+ W0 U' L3 j/ M7 y
半导体化合物 G a1B&@T  
: \1 N/ D* O. o* A* r& h在MEMS/MOEMS系统上的功能性薄膜 $F^p5EXkc6  
" Z9 q) a, z! E非晶体,纳米材料和结晶硅
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