|
|
世界顶级高精度薄膜光学测量仪器FilmTek系列产品，厂商：美国SCI 公司$ ?. a# j! `" W
; h3 o1 P2 H$ [
可测参数：* l6 ] ?$ D8 t- W' |/ b6 v% N
1）单层或多层薄膜(可达50层)，厚度 （<1Å to 250 um)3 w! @4 x: l% S
2）反射率R和透射率T$ \: h8 T6 c4 ~7 i0 v- }* l, |
3）折射率n和吸收系数k& `! {, \4 A; x. }& d! s2 U9 C
4）能带间隙1 m) r0 K' s& y2 t2 ]5 q; D- z
5）表面粗糙度和损伤度% q/ o5 S4 r8 G' ^9 G; B; q3 H
6）成份和结晶程度5 m6 d. C2 e% b1 ~( W- W
$ [4 b8 j, J7 R# g适用于高精度的薄膜量测，广泛应用于OLED, LCD, 半导体行业和光电行业等。
( U; t0 r4 Y" ?! W8 m1 Q& L5 ?7 [; S) r7 N9 f) y
联系方式：
. N% r1 Y+ Q' ~- n0 Y- W+ R中电网EMD是从属于信息产业部CCID的从事国际半导体制造设备与材料引进及介绍的专业代理机构； |
|
窥视卡
雷达卡
发表于 2006-8-18 21:58:47
提升卡
置顶卡
沉默卡
喧嚣卡
变色卡
抢沙发
显身卡
