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光学薄膜基本理论及技术

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发表于 2006-8-18 00:12:23 | 显示全部楼层 |阅读模式
光学薄膜应用于各种反射和投射光学元件,常用的典型光学薄膜的例子有: 减少光在元件表面反射的增透膜;使光在给定波长范围内透过的滤光片窗口;在反射镜中使用的高反射膜等。 9 Z4 H/ A2 K) a+ i+ m
* R; b, b  P8 n1 A7 j$ ]- @
  如果入射光有角度,光通过元件时将产生偏振,光学薄膜可以针对入射角度、S偏振光、P偏振光和随机偏振光进行设计。如果光学薄膜按照0度入射光进行设计,就不能在45度表现出我们预期的光学性能。
- H3 Q' I1 L/ ]# k# R! {: J) I9 J( R+ ?" @. w
  光学薄膜的镀制是通过在元件表面沉积介质和金属材料如SiO2,TiO2, 或铝,典型的薄膜其每一层的厚度相当于1/4所使用的波长,高折射率的材料和低折射率的材料交替沉积,产生所需要的干涉效果。  
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光学薄膜技术: $ q) C- n$ x( ]  n

9 i* \& H  e  B4 H2 eIBS: 离子束溅射,由离子源产生带能量的离子,溅射到基片表面。 7 o% g0 D8 \1 b6 ^; L: r+ `
PVD: 物理蒸发沉积,通过电子枪作用于镀膜材料上, 产生电子束,均匀沉积于镀膜元件上。
1 [4 a6 N+ B" q( l8 H3 I; Z, e( n1 J  j, D
相关名词:
: k; q0 y6 J, r8 \5 h+ T4 l# `! K+ O
  石英晶体膜厚控制(Crystal Thickness Control):石英晶体的重量的微小变化将会导致其振荡频率的变化,因此,在镀膜过程中,我们把石英具体探测头置于真空室内,通过石英晶体的频率变化来控制镀膜的厚度。 8 }) x. A/ h  \/ |

3 O/ E: K; J2 s7 Q# ]8 R  介质(Dielectric):从紫外、可见到近红外波长都有较高的透过率(很小吸收)的材料称为介质材料。8 A0 [+ e% N; h$ i- X
$ B( q6 B7 S. E+ q6 y8 `& k
  光学监控(Optical Monitoring):在镀膜过程中,直接测量置于真空室内的比较片的反射或透射的设备。在一些情况下,光控有比较高的测量精度。 & ~' {+ C4 z: o9 s) b/ U
' O& W: G$ _% }: n
  光学薄膜(Thin Film):任何在光线透过或反射时产生增加或减少干涉效果的薄膜。

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发表于 2006-8-22 01:43:35 | 显示全部楼层
有点太基本了吧,呵呵,]不过还是要鼓励下。。
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发表于 2006-10-7 18:02:52 | 显示全部楼层
有没有具体一点的,比如针对棱镜方面的一些技术要点。
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发表于 2006-11-28 03:37:24 | 显示全部楼层
光学薄膜基本理论及技术
, D  x2 j" J0 Q0 j: w1 j8 C# [7 Q5 n
* G6 a/ S; A5 j  p  B7 m& a- f光学薄膜应用于各种反射和投射光学元件,常用的典型光学薄膜的例子有: 减少光在元件表面反射的增透膜;使光在给定波长范围内透过的滤光片窗口;在反射镜中使用的高反射膜等。 [_ATAWx  ' o  U  u/ L4 n# `, q
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如果入射光有角度,光通过元件时将产生偏振,光学薄膜可以针对入射角度、S偏振光、P偏振光和随机偏振光进行设计。如果光学薄膜按照0度入射光进行设计,就不能在45度表现出我们预期的光学性能。 ";@L83PN  
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光学薄膜的镀制是通过在元件表面沉积介质和金属材料如SiO2,TiO2, 或铝,典型的薄膜其每一层的厚度相当于1/4所使用的波长,高折射率的材料和低折射率的材料交替沉积,产生所需要的干涉效果。   LlE(*aE  / r! ]1 c+ U: _( w) Y5 W
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. N( e8 W3 u) ^5 v8 r( F( u光学薄膜技术: mQx&"{.Q  
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  n" A/ G. E* N+ vPVD: 物理蒸发沉积,通过电子枪作用于镀膜材料上, 产生电子束,均匀沉积于镀膜元件上。 k|9=V=  / w3 q: C' H3 N
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相关名词: 0)|SJx  9 L$ j6 `  [7 b" p$ y( {1 g9 Z1 x
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石英晶体膜厚控制(Crystal Thickness Control):石英晶体的重量的微小变化将会导致其振荡频率的变化,因此,在镀膜过程中,我们把石英具体探测头置于真空室内,通过石英晶体的频率变化来控制镀膜的厚度。 N|B?^jr(|,  2 C. y8 G7 S* }
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介质(Dielectric):从紫外、可见到近红外波长都有较高的透过率(很小吸收)的材料称为介质材料。 izRye"tq  
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光学监控(Optical Monitoring):在镀膜过程中,直接测量置于真空室内的比较片的反射或透射的设备。在一些情况下,光控有比较高的测量精度。 FFcCUivV_  & ]% G' W9 j; H- _( _* R$ j5 r
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光学薄膜(Thin Film):任何在光线透过或反射时产生增加或减少干涉效果的薄膜。
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发表于 2007-4-7 00:33:10 | 显示全部楼层
hehe
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发表于 2007-4-28 18:16:47 | 显示全部楼层
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发表于 2007-4-30 03:41:56 | 显示全部楼层
不错的  不过干吗都要钱要威望的 累 急用阿
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发表于 2007-7-7 15:43:11 | 显示全部楼层
ddddddddd非常感谢
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发表于 2007-7-17 16:11:46 | 显示全部楼层
达到了,很好
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