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摘 要:本工作采用化学气相淀积方法,以GcH4为反应气源,以InN/CaN/Al2O3(0001)复合衬底作陪片,在CaN/Al2O3(0001)复合衬底上外延生长了Ge薄膜,并对生长机理进行了探讨.研究结果表明:直接在N2气氛下外延得到了多晶Ge薄膜,表面较平整,由吸收光谱得出其带隙宽度为0.78 eV;经过H2预处理,CaN/Al2O3复合衬底表面出现金属In的沉积,外延Ge薄膜沿(111)方向择优生长,晶体质量较高. & a! d# v/ y& d
# f7 v3 W: c$ ]4 e$ @ 关键词:化学气相淀积;Ge薄膜;GaN;金属In ; }$ y5 w; N5 m6 V# F5 C
& v! y; p$ K9 P& e3 J+ A6 N% i 分类号:TN304.055 文献标识码:A ) t* z# x* X7 B# b5 p, g9 q
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文章编号:1672-7126(2008)增刊-009-04
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Chemical Vapor Deposition of Ge on GaN/Al2O3(0001) Substrates
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0 v f2 u& n) V; r Wang Ronghua Han Ping Cao Liang Mei Qin Wu Jun Ge Ruiping Xie Zili Chen Peng Lu Hai Gu Shulin Zhang Rong Zheng Youliao # B" _( I! j2 ]. _$ y
7 [$ n4 L9 R U5 {9 b* r 基金项目:国家重点基础研究发展规划(No.2006CB604900);国家高技术研究发展规划(No.2006AA03A103,2006AA03A142);国家自然科学基金(No.60421003);高等学校博士学科点专项科研基金(No.20050284004)和单片集成电路与模块国家级重点实验室2006年度基金(No.9140C1404010605)
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作者简介:韩平,联系人:E-mail:hanping@nju.edu.cn
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作者单位:王荣华(南京大学物理学系江苏省光电信息功能材料重点实验室,南京,210093) " `: v4 L' p1 G9 P8 I& M4 c
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韩平(南京大学物理学系江苏省光电信息功能材料重点实验室,南京,210093) $ j$ L/ l# i; X- n& n5 o5 j
/ T0 Z9 W {# ^ 曹亮(南京大学物理学系江苏省光电信息功能材料重点实验室,南京,210093)
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, U# j' V9 V8 u6 ^7 W 梅琴(南京大学物理学系江苏省光电信息功能材料重点实验室,南京,210093) 0 f5 [' ?) h3 N! a8 {# K$ X" P; }* F
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吴军(南京大学物理学系江苏省光电信息功能材料重点实验室,南京,210093)
6 C3 E+ H3 K. A6 P, I8 C8 l% B9 S6 C
葛瑞萍(南京大学物理学系江苏省光电信息功能材料重点实验室,南京,210093)
1 R! _6 @6 ]3 G$ V- e4 {% T+ ^9 S8 U) `. F
谢自力(南京大学物理学系江苏省光电信息功能材料重点实验室,南京,210093) 6 a) B6 s: \& p' P3 t8 g0 G1 j4 T3 w
0 d- p P- Z" S5 z; M" u. C
陈鹏(南京大学物理学系江苏省光电信息功能材料重点实验室,南京,210093) 3 s. W8 `2 k( O
6 S" r k- E( j0 ~: J* P# I: s 陆海(南京大学物理学系江苏省光电信息功能材料重点实验室,南京,210093) ) l Q" v" B' I- e! B
- d$ ~$ J% v; a5 i& [ 顾书林(南京大学物理学系江苏省光电信息功能材料重点实验室,南京,210093) 5 n2 w* S$ J6 |% V' O# Z! h
! N5 s1 [2 A9 _( e. y% z" T1 } 张荣(南京大学物理学系江苏省光电信息功能材料重点实验室,南京,210093) ! Y, |8 e* ^ Z+ o
* A: w3 w& [" T( O* N; I 郑有��(南京大学物理学系江苏省光电信息功能材料重点实验室,南京,210093) + I% B( A4 U4 C9 v$ M C* E1 i$ o
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参考文献: 9 f3 [) o" S5 c
3 J, m4 V2 O+ b% E7 [% ^2 ^" k [1]Lieten R R,Degroote S,Cheng K,et al.Growth of GaN on Ge (111) by molecular beam epitaxy.Apply Physics Letter,2006,89:252118
8 e+ {; R i |6 w4 z
U3 K9 L* V3 T A+ E5 P# h [2]Lieten R R.Cormaniurn-a surprise base for high-quality nitrides.Compound Semiconductor,2007,13,(3):14 6 q+ X& j# n. S! f ^3 o! ?
: T6 o' \* S4 u0 R, |
[3]Draxler M,Walker M,McConville C F.Formation of metallic indium during atomic hydrogen cleaning of InN(0001) surfaces.Nuclear Instrument & Methods in Physics Research,B,2006,249:886
; e# C3 |8 H9 x i) U" G( i) J: W) C) W$ l3 i2 {( b, r
[4]刘成祥,谢自力,韩平,等.InxGa1-xN合金薄膜In的表面分凝现象.半导体学报,2006,27,增刊:97
: l* b4 n p& G- O4 A& b: B% G+ k- S- f% d" B* l* K
[5]Elaissa Trybusa,Con Namkoonga,Walter Henderson,et al.Journal of Crystal Growth,2005,279:311
: b3 X- F6 a; J# E1 H, @ U- r! x% v. @6 F. x4 i
[6]McAlister A J,Murray J L.Binary Alloy Phase Diagrams,2nd ed.ASM International,Metals Park,OH,1990,2:1956 $ L6 }! D; v0 k) F2 v
1 S9 N7 \) G; k9 s% Q0 h/ R
[7]杨根,谷锦华,卢景霄,等.射频PECVD高速沉积微晶硅薄膜.真空科学与技术学报,2007,27(3):350 & L, s$ C% n, V0 l, N, u- d/ M
: ^* w; o# ]9 `. f( T4 N4 \ [8]沈学础.半导体光学性质.科学出版社,第1版,1992:22 |
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