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薄膜的应力控制技术研究现状

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发表于 2025-7-22 10:34:40 | 显示全部楼层 |阅读模式
  摘 要:薄膜应力普遍存在于薄膜元器件中,从而影响薄膜器件性能,限制了其良好的应用前景.所以控制薄膜的应力,消除其不良影响,是薄膜生产工艺中不可或缺的技术手段.本文对此详细阐述了几种常用的薄膜应力控制方法,并对以后研究工作的开展提出几点要求.
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+ E  p0 x9 X. m   关键词:薄膜;应力;控制技术
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2 o% ~" A% b1 Y   分类号:O484.2 文献标识码:A % \+ b6 L  Z9 C0 g" n& H1 h

4 T7 B$ c1 W$ [) g5 S1 ^4 A& n: D9 \   文章编号:1672-7126(2008)增刊-017-05
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Stress Release and Control of Thin Films materials Used in Devices Fabrication
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# b6 `- c; n( M Jiang Zhao  Chen Xuekang
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$ Z; p# H! C" j1 U4 Z   蒋钊,联系人:Tel:13893225634;E-mail:qqq-128@163.com 4 Q, C" n0 Z: ^# i# E* H. c# q
* x( C" R9 E( |# V) V' |
  作者单位:蒋钊(兰州物理研究所,表面工程技术国家级重点实验室,兰州,730000)
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  陈学康(兰州物理研究所,表面工程技术国家级重点实验室,兰州,730000)
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