光 学薄膜 弱吸收测试装置参数优化

bomoaa

光 学薄膜 弱吸收测试装置参数优化
6 z/ ~( ^" b3 H# q# Y4 z0 u* M' u黄 祖 鑫 。 ， 赵 建 林 ， 胡 晓 阳 ， 彭  勇
(1． 西北工业大学 理学院 ， 陕西 西安 710072；
$ v% T5 t* T' T! i% b% S8 q2． 中国工程物理研 究院应 用, E f t-学研 究所 ， 四川 绵阳 621900)
摘 要 ：光学薄膜对入射光的弱吸收特性是评价元件质量的重要参数 。 在高能激光作用下 ， 即使十分
) j0 U! C5 I, V, u  w2 ~) u5 `微弱的吸收也将足 以导致薄膜元件的灾难性破坏。 因此 ， 有必要对光学薄膜的平均吸收及局部吸收进
行精 确 、快速 、实时 的检 测 。从 光热偏 转技 术 发展 而 来的表 面 热透镜 法 由于其 对 测试 装置要 求的放
3 X) t! o' U, R% r/ ~; p4 a宽，并且同样拥有较高的测试精度，是测试元件薄膜弱吸收特性的有效方法之一。通过建立实验系
( S9 t: X, W0 M; S) S0 T% K0 |统 ， 测试并确定了各个装置参数在 不同设置情况下弱吸收信号的稳定性及强度 ， 从而为测试装置的固
% e3 i+ ?6 v( H6 a( M) h化提 供 了关键 的布局 数 据 ， 并在 此 实验 系统上 开展 了初 步 的弱 吸收 测试 实验 。
关键词 ：光学薄膜 ； 弱吸收 ；  表面热透镜 法； 优化
中图分 类号 ：TN 247  文献标 志 码 ：A  文章编 号 ： 1007— 2276(20l1)09—1779— 0
# n3 W* o( T. u- g$ K
* H8 a1 X( b+ m+ o  L8 b) @# d

jixingyilai

为什么没人关注这个