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光学薄膜论坛» › 薄膜工艺 › 薄膜工艺 › 如何测试基材的N和K
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查看: 1135|回复: 4

[求助] 如何测试基材的N和K

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发表于 2014-10-27 21:26:48 | 显示全部楼层 |阅读模式
大家好：" d% k9 s( B. K7 ]2 n+ B; E
    我想测试PET的N和K，请问如何计算或者测出？谢谢！
" }0 B+ o0 R2 e  w
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发表于 2014-10-28 10:27:25 | 显示全部楼层
用 ellipsometer， 可以测出。
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发表于 2014-10-29 19:30:31 | 显示全部楼层
没有椭偏仪的话，用macload包络法可以根据光谱曲线计算。
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 楼主| 发表于 2014-10-29 22:47:10 | 显示全部楼层
谢谢两位！请问Macleod包络法是怎样测试的？我有这个软件，是不是要先测其对应波长的反射率？
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