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楼主 |
发表于 2007-7-7 18:47:13
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谢谢大家的指教,我现在用反推法,
+ P5 A! `$ ?, L& c1。我先用TFC模拟镀单层膜TIO2,参考波长700nm,5个peak,然后将模拟出来的T保存起来,
, u, o; }8 w/ V) k( A2。将模拟出来的T值当作实际镀膜后的测量值,并将这些T值带入到formula算法要的测量值中。( t( n2 @& Y0 [7 c8 k. c, [% d
3。虽然选用不同的公式,甚至K值(取K=0)和膜厚(D=375.86nm)都有取过第一步模拟时的值,但模拟出来的值始终都有很大的偏差(15%以上)。?????????6 L- o* ^) B1 ]
4.我记得曾经有一次有取K值(取K=0)和膜厚(D=375.86nm),算出的值比较接近第一步的NK(但其它公式或膜厚估计值时就相差非常大).而这次不管我怎么变都相差很大??????????
: E( z! s% B- T: `, o# ]4 {: a; i8 y) J, K; X8 U' D3 X3 V8 N2 h! h( t
还请各位大侠指教!!!!! |
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