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晶控仪 XDM-3K

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发表于 2013-11-17 13:12:51 | 显示全部楼层 |阅读模式
大家好,* h/ ^0 g. e: t" u$ L6 c% A
上海膜林科技有限公司的新一代晶控仪 XDM-3K,全中文触摸屏,操作简单,含有多项专利技术,国产镀膜机轻松实现自动化。表现优异,详情请见公司网站:morningtech.cn
2 }% W$ C4 W7 F! c9 E. @+ @3 m欢迎 各位不吝赐教,帮助我们进步,也帮助大家共同进步。
7 ]8 M9 w' Z: K# P' ?8 o: D$ P, r& [5 p3 `, c

' W! E8 v# G0 {

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 楼主| 发表于 2013-11-19 00:31:29 | 显示全部楼层
公司网站 morningtech.cn 内有问答形式的晶控介绍,欢迎批评指正.1 C# w& G5 U/ R7 o
! n) m' c5 V9 f  _
问:影响速率稳定性的因素有哪些?, A( r, Z9 E2 j# S! K; W
要从速率的形成、检测、控制这几个方面来看这个问题。( Q- t# K* Z8 S8 J1 S" N# p
从蒸发源来看,电子枪灯丝、焦斑、扫描、材料状态(包括放气、高低、挖坑、多少、熔融等)、电极的连接情况、坩埚的冷却、离子源辅助情况等都有影响。这些因素不仅影响速率稳定性,而且会影响蒸发功率的大小。
" J5 p! }* x3 D" c& }速率检测方面,晶振片的状态(在XDM中可参考阻力损耗值)、电极连接状态、晶振片附件是否有漏气、真空度是否稳定、探头冷却水是否通畅等。
3 [  c, R6 p. M# L: H2 G1 `4 C4 j+ e控制方面,要看材料的PID参数的合适程度。
4 p  Q* A0 \( f! U9 \2 |可见,即使同一台机器,不同工艺及状态,要达到同样的速率控制,PID参数也可能不一样。幸运的是,PID参数的容差较大,即一般情况下,PID参数无需做很多调整,也能较好的对应多个状态。
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 楼主| 发表于 2013-11-19 00:33:04 | 显示全部楼层
问:如何调整PID参数?
2 p$ b6 p( G8 G( a( V- G' o在上述影响速率稳定性因素中,其他参数相对稳定的情况下,PID参数是否设置合理,才最终决定能否实现快速稳定可重复的速率控制。  [( ~0 X. u/ ~: G) t/ s7 \
(图形 a,b,c,d请参见 网站 morningtech.cn )2 |* z) ]* W/ a; }1 m# t2 {& e
(a)速率过冲大,减小 P。若仍过冲,减小I,增强积分作用。# B3 E0 V7 v0 T" }" ~( F# s
(b)偏差明显,减小 I,增强积分作用。. b1 d1 U7 }3 Y5 a# @
(c)起动时间长,增大 P,减小I,增强积分作用。
. I2 L+ [0 J" p' i8 M, r(d) 振荡,增大I,减弱积分作用。若仍振荡,增大P。
. r3 p& K/ m' j$ R, _8 C3 r上述是一般规律。鉴于晶控初始阶段的特殊性,起始速率过冲及起动时间长,预熔功率、挡板延迟、最大功率延迟、电子枪灯丝及坩埚等关系也比较大。
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 楼主| 发表于 2013-11-21 00:31:41 | 显示全部楼层
上个某用户用XDM-3K的成膜曲线图,速率与厚度全部由XDM-3K全自动控制,一个晶振片做到底。

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 楼主| 发表于 2013-12-8 12:35:49 | 显示全部楼层
可用晶振片     6MHz      
1 f5 ~& R5 q8 p4 d2 m+ C频率范围     5MHz~6MHz, 7 g% E5 t; J8 m& P4 z. B/ P
频率分辨率     0.005Hz      
6 ]4 v& o' r0 k9 Y  U, E频率稳定度     1ppm      / t2 {5 u! w0 B' ^/ i3 P
膜厚分辨率     0.002A     2 }1 x, G: f. P2 [' ^) M! R  V1 o
测量更新率     10Hz 8 d. F+ f! q6 K5 p( F2 e! T" X9 G( [
材料数     112
) H- f7 O8 b" `3 E膜系数     20, 可自动串接
0 G8 v" U8 ]& P7 v- A可设定层数     112层/每膜系 + e, e4 D0 b9 T
可控制蒸发源数     3个, 0~10V, 16bit 5 H7 f9 u  e# _( \, a0 U
数字输入     8路兼容LVTTL,功能自定义
3 e* E/ _' _0 R) j, }+ r数字输出     10路常开继电器,功能自定义
0 o# m' j; ~6 U7 {探头数     1,支持六探头      
) @( X3 }: y% T: z: m电源     90V~240V,AC, 20W ( S* K2 b" d( ~) F
主机尺寸 XDM-3K     438*88*300 (mm,标准工业机柜宽, 2U高度, 深300mm) 9 a8 Q! c$ Y4 V3 }. S
控制方法     PID     ' J( T: b! F! H+ f: `
语言     多国语言(中、英、…)         9 X: f) ], u" ?! A( R$ x
通信接口     RS232   
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发表于 2014-2-13 00:27:13 | 显示全部楼层
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 楼主| 发表于 2014-7-19 06:16:45 | 显示全部楼层
我们公司将参加2014年9月2日-5日的深圳光博会,展位7H19,欢迎您到现场指导我们将膜厚过程控制(晶控)做得更好;! @9 T0 A9 q8 A0 F' ^1 U
我们也将参与2014年10月20-24日 在同济大学召开的第三届光学薄膜前沿国际会议
7 z! ~! x: ], U: L; s/ z" k) x% H7 `- F
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 楼主| 发表于 2014-10-21 03:07:03 | 显示全部楼层

; z9 q# p  X6 R, u! W' y2014.10.20~24 第三届光学薄膜前沿国际会议(foc 2014) 同济大学中法中心! n- ^' C* A& c$ s, E
Oct. 20th, 2014 ---- Oct. 24th, 2014 Sino-French Center, Tongji University  [, f' D$ |) ?: ?: q/ T- j
会议日程表 请去会议网站 或 我司网站下载 morningtech.cn
. f- ?, T, r' {* y& J! ^, a1 N* z9 ?! q4 C* _# z
2014.10.22 17:10~18:10, 张贴报告 PII-4,与您相约.  Shanghai MorningTech
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 楼主| 发表于 2014-12-9 02:47:59 | 显示全部楼层
上个晶控仪的图片
0 r6 f# N* }9 Y$ h3 q) X# C可以去本公司网站浏览更多关于此晶控的信息 www.morningtech.cn

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 楼主| 发表于 2015-1-2 01:51:03 | 显示全部楼层
上海膜林系列晶控仪精度高,稳定性好。: j2 g& g% }6 G) g3 k* E# j4 I
功能强大,操作简单。9 y) h5 F0 f1 Y! F7 N
上海膜林科技有限公司竭力提供最优秀的光学镀膜膜厚过程控制,让镀膜简单起来。
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