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[原创] 晶控仪 XDM-3K

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发表于 2013-11-17 21:12:51 | 显示全部楼层 |阅读模式
大家好,
. S8 f. g! X1 p  w上海膜林科技有限公司的新一代晶控仪 XDM-3K,全中文触摸屏,操作简单,含有多项专利技术,国产镀膜机轻松实现自动化。表现优异,详情请见公司网站:morningtech.cn- ~. U! t* F$ U: r
欢迎 各位不吝赐教,帮助我们进步,也帮助大家共同进步。
7 j3 J$ E3 k, U7 q$ u& R9 h4 [4 E+ I4 M6 F; R
5 v* K; Z9 @! S. z
 楼主| 发表于 2013-11-19 08:31:29 | 显示全部楼层
公司网站 morningtech.cn 内有问答形式的晶控介绍,欢迎批评指正., f* ~) g4 b6 K* u/ M6 W
/ D; F* M9 d6 K8 l1 [
问:影响速率稳定性的因素有哪些?$ j) _- M4 u# {; O
要从速率的形成、检测、控制这几个方面来看这个问题。
2 c, E9 W1 \+ j- Z. f' C& M从蒸发源来看,电子枪灯丝、焦斑、扫描、材料状态(包括放气、高低、挖坑、多少、熔融等)、电极的连接情况、坩埚的冷却、离子源辅助情况等都有影响。这些因素不仅影响速率稳定性,而且会影响蒸发功率的大小。# d1 e- w! F4 z' P! ^/ p
速率检测方面,晶振片的状态(在XDM中可参考阻力损耗值)、电极连接状态、晶振片附件是否有漏气、真空度是否稳定、探头冷却水是否通畅等。
* O) T7 B& ]0 C/ w' m控制方面,要看材料的PID参数的合适程度。1 D5 x; }3 I) W
可见,即使同一台机器,不同工艺及状态,要达到同样的速率控制,PID参数也可能不一样。幸运的是,PID参数的容差较大,即一般情况下,PID参数无需做很多调整,也能较好的对应多个状态。
 楼主| 发表于 2013-11-19 08:33:04 | 显示全部楼层
问:如何调整PID参数?
2 I% f7 T' h7 j( i: c9 ~在上述影响速率稳定性因素中,其他参数相对稳定的情况下,PID参数是否设置合理,才最终决定能否实现快速稳定可重复的速率控制。  R1 f( G* A6 {& Q* [
(图形 a,b,c,d请参见 网站 morningtech.cn )
' d: k! s& T8 n2 P( P9 D8 N" a(a)速率过冲大,减小 P。若仍过冲,减小I,增强积分作用。
. w& {/ s/ ~' A/ b' A2 Z/ [7 k( Q6 B, X(b)偏差明显,减小 I,增强积分作用。
( _$ p* q5 G! T& \(c)起动时间长,增大 P,减小I,增强积分作用。
- L* S& @2 ]" [  `- L& ~(d) 振荡,增大I,减弱积分作用。若仍振荡,增大P。; K7 [- b- _  S' l5 T/ b
上述是一般规律。鉴于晶控初始阶段的特殊性,起始速率过冲及起动时间长,预熔功率、挡板延迟、最大功率延迟、电子枪灯丝及坩埚等关系也比较大。
 楼主| 发表于 2013-11-21 08:31:41 | 显示全部楼层
上个某用户用XDM-3K的成膜曲线图,速率与厚度全部由XDM-3K全自动控制,一个晶振片做到底。

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 楼主| 发表于 2013-12-8 20:35:49 | 显示全部楼层
可用晶振片     6MHz      1 h' H  v: ]3 h) w' \
频率范围     5MHz~6MHz, 0 X' q* u7 F' ^
频率分辨率     0.005Hz      + v( J* c4 K/ U3 C
频率稳定度     1ppm      
5 ~$ |+ m% H* `& a  C膜厚分辨率     0.002A     
: y1 u1 t$ J; L/ ~9 S测量更新率     10Hz ) D# E9 q6 Y, c: t
材料数     112 ; M6 j# l1 Q0 @- n& @& j* J( Z
膜系数     20, 可自动串接
. i7 l" W# U2 T( H" v可设定层数     112层/每膜系
; M* Y' ~4 B7 q9 s3 |可控制蒸发源数     3个, 0~10V, 16bit
4 |. U$ \0 ?( }6 ~3 h" a数字输入     8路兼容LVTTL,功能自定义 & T$ q, F! V, y( H2 Y! L+ }5 e
数字输出     10路常开继电器,功能自定义 ' ]8 a* p( ]/ W8 V# ~/ }
探头数     1,支持六探头      ! U! F& U/ w6 Q( Z0 h9 b
电源     90V~240V,AC, 20W
7 I3 o8 @9 l; p3 v主机尺寸 XDM-3K     438*88*300 (mm,标准工业机柜宽, 2U高度, 深300mm)
- u: M! Z; k! b控制方法     PID     
; X/ Z# V3 N% t, I语言     多国语言(中、英、…)         
1 K, Z! W+ F$ U通信接口     RS232   
 楼主| 发表于 2014-7-19 14:16:45 | 显示全部楼层
我们公司将参加2014年9月2日-5日的深圳光博会,展位7H19,欢迎您到现场指导我们将膜厚过程控制(晶控)做得更好;7 i/ ?$ Z' Q. K( H6 J0 x& |! y
我们也将参与2014年10月20-24日 在同济大学召开的第三届光学薄膜前沿国际会议
) A! C" s) X1 l9 ]" D4 k
 楼主| 发表于 2014-10-21 11:07:03 | 显示全部楼层

8 b% N: N# N7 @2014.10.20~24 第三届光学薄膜前沿国际会议(foc 2014) 同济大学中法中心
1 E' ~5 o% d' G( ~; nOct. 20th, 2014 ---- Oct. 24th, 2014 Sino-French Center, Tongji University
0 w$ l$ V) x; e5 M会议日程表 请去会议网站 或 我司网站下载 morningtech.cn
9 m1 {( P3 y3 ^! R( b, I' X: D8 |+ r( S, W" A2 D+ |6 ~$ f
2014.10.22 17:10~18:10, 张贴报告 PII-4,与您相约.  Shanghai MorningTech
 楼主| 发表于 2014-12-9 10:47:59 | 显示全部楼层
上个晶控仪的图片4 C2 O* t/ ?, q; [' s5 d4 U- y
可以去本公司网站浏览更多关于此晶控的信息 www.morningtech.cn

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 楼主| 发表于 2015-1-2 09:51:03 | 显示全部楼层
上海膜林系列晶控仪精度高,稳定性好。
0 @( o* K% H% b功能强大,操作简单。
7 \3 s7 z6 y$ m上海膜林科技有限公司竭力提供最优秀的光学镀膜膜厚过程控制,让镀膜简单起来。
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