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密封器件压氦和预充氦细检漏判定漏率合格的条件

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发表于 2013-3-18 10:05:41 | 显示全部楼层 |阅读模式
密封器件压氦和预充氦细检漏判定漏率合格的条件
! q' ^) r" z- M# A. O2 c  薛大同1 肖祥正1 王庚林2
6 |: E3 l/ x2 c3 \2 @& i! B: f  (1.兰州空间技术物理研究所真空低温技术与物理国家级重点实验室;2. 北京市科通电子继电器总厂)% l& P0 x! t2 k7 L( s) M$ p+ r7 ]
    摘要:密封器件的氦质谱细检漏技术分压氦法(即背压法)和预充氦法两种。由于密封器件氦质谱细检漏技术的特殊性,同一个测量漏率所对应的可能是小漏孔,也可能是大漏孔。
/ R% x; p$ ]1 i* h" a& B) P- Y9 ~    对于压氦法,公认的先细检再粗检方法受最长候检时间的限制,过短不利于表面吸附氦气的净化,过长可能造成漏检。6 \3 \$ _: @- {% y0 a
    预充氦法的优点是可用于检测压氦法检测不到的小漏孔。然而,用户复检预充氦密封器件的漏率时,候检时间往往已很长,其中可能存在的大漏孔会处于分子流状态,因而不能靠粗检法鉴别,而单纯靠压氦法复检加粗检,又发挥不出预充氦法的优点。
9 }" V! V  Q% l% [    本文改进了预充氦法大小漏孔均在分子流范围时的鉴别方法:
% X' y; n  t% K8 v% O! C6 z* K0 a    (1)提出候检时间存在两个特征点,一个是保证大漏率可以靠粗检法鉴别的最长候检时间,一个是保证任务允许的最大测量漏率不超过测量漏率~等效标准漏率关系曲线极大值点的最长候检时间。采用我们提出的检测方法,即使候检时间超过了这两个特征点时间,仍有可能判断漏率是否合格,并在漏率合格时给出被检器件的等效标准漏率;
: F0 G( |% H  ^: S    (2)预充氦密封器件氦质谱细检时经常会辅以压氦法复检加粗检,我们对压氦法复检加粗检赋于了一项更重要的职能,即主要用于判断被检器件等效标准漏率是否超过预充氦法测量漏率~等效标准漏率关系曲线极大值点。然后分别各种情况对漏率合格的被检器件或者用压氦法公式,或者用预充氦法公式确定其等效标准漏率。3 J! r7 i1 u5 }0 X' ?: Y6 n- s
    这样做,充分发挥了预充氦法可用于检测压氦法检测不到的小漏孔这一优点,有利于保证航天密封器件的长寿命、高可靠。
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