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[原创] 密封器件压氦和预充氦细检漏判定漏率合格的条件

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发表于 2013-3-18 18:05:41 | 显示全部楼层 |阅读模式
密封器件压氦和预充氦细检漏判定漏率合格的条件
( X) Q; V7 X& d" b# f  薛大同1 肖祥正1 王庚林2
4 v, D. c1 w( X2 r0 k3 A  (1.兰州空间技术物理研究所真空低温技术与物理国家级重点实验室;2. 北京市科通电子继电器总厂)  n. _- u) u4 D! O, h7 w
    摘要:密封器件的氦质谱细检漏技术分压氦法(即背压法)和预充氦法两种。由于密封器件氦质谱细检漏技术的特殊性,同一个测量漏率所对应的可能是小漏孔,也可能是大漏孔。
5 @1 ]9 u+ `  u: H2 e. X    对于压氦法,公认的先细检再粗检方法受最长候检时间的限制,过短不利于表面吸附氦气的净化,过长可能造成漏检。
# I! _2 \3 R. \, ]. Z6 C0 h    预充氦法的优点是可用于检测压氦法检测不到的小漏孔。然而,用户复检预充氦密封器件的漏率时,候检时间往往已很长,其中可能存在的大漏孔会处于分子流状态,因而不能靠粗检法鉴别,而单纯靠压氦法复检加粗检,又发挥不出预充氦法的优点。$ [4 k& C3 T4 ?  }
    本文改进了预充氦法大小漏孔均在分子流范围时的鉴别方法:
" Z6 b* n: Z/ ~- A" f; T4 F  }& _    (1)提出候检时间存在两个特征点,一个是保证大漏率可以靠粗检法鉴别的最长候检时间,一个是保证任务允许的最大测量漏率不超过测量漏率~等效标准漏率关系曲线极大值点的最长候检时间。采用我们提出的检测方法,即使候检时间超过了这两个特征点时间,仍有可能判断漏率是否合格,并在漏率合格时给出被检器件的等效标准漏率;7 H3 \. @* ~: R; D
    (2)预充氦密封器件氦质谱细检时经常会辅以压氦法复检加粗检,我们对压氦法复检加粗检赋于了一项更重要的职能,即主要用于判断被检器件等效标准漏率是否超过预充氦法测量漏率~等效标准漏率关系曲线极大值点。然后分别各种情况对漏率合格的被检器件或者用压氦法公式,或者用预充氦法公式确定其等效标准漏率。1 }( x) Y! s5 L/ O
    这样做,充分发挥了预充氦法可用于检测压氦法检测不到的小漏孔这一优点,有利于保证航天密封器件的长寿命、高可靠。
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