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[求助] 光谱仪测试曲线发生该变,请教大家

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发表于 2012-12-15 02:27:25 | 显示全部楼层 |阅读模式
最近我的一个膜系不稳定,要求在420nm的反射率是在1.5以下,最近发生改变跳到4.0以上了
( ~$ c: V7 p) [& P2 S我们用的sio2和TI3O5,请问大师们,这是怎么一回事啊
发表于 2012-12-16 06:11:50 | 显示全部楼层
你们用什么监控膜厚?是不是工艺参数变了?还是测试原因?
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发表于 2013-11-8 17:04:15 | 显示全部楼层
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