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[原创] 基本薄膜材料特点(3)

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发表于 2012-2-23 21:19:03 | 显示全部楼层 |阅读模式
基本薄膜材料特点(3)/ u& s# G# ^0 p  n! O/ `, I
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3 E; Q5 V! J  h名称:三氧化二铝(AL2O3)
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普遍用作中间材料,该材料有很好的堆积密度并且在200—7000nm区域的透明带,该制程是否需要加氧气以试验分析来确定,提高基板温度可提高其折射率,在镀膜程式不可更改情况下,以调整蒸发速率和真空度来提高其折射率。- F3 Q$ z" e/ B: {) Y
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1 Q" B$ _1 f7 O0 A/ C. N制程特性:白色颗粒状或块状,结晶颗粒状等。$ l( f4 {( h. Q- U( C; Z6 r
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非结晶状材料杂气排放量高,结晶状材料相对较少
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' |8 U/ P! o; S6 a, i折射率受蒸着真空度和蒸发速率的影响较大,真空不好即速率低则膜折射率变低;真空度好蒸发速率较快时,膜折射率相对增大,接近1?62。
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1 o4 d, ]: m; }1 V* wAL2O3蒸发时,会産生少量的AL分子,造成膜吸收现象,加入适当的O2时,可避免其吸收産生。  k$ p% X/ P# E% O- d# a! h7 q) ^

8 s) o" y4 |1 C5 Y& K* z0 b名称:OS—10(TIO2+ZrO2)# S( w& X+ b- a& y7 R
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制程特性:棕褐色颗粒状。
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; k& u5 B1 R7 g* v杂气拜谢量大,预熔不充分或真空度 ?5*10-5 Torr时蒸发,其折射率会比2?3小,故必须充分预熔且蒸发真空度希望?2*10-5 Torr.- ]% R2 f' `) X2 c, A- M& G2 X
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率有成反比的趋向,蒸发此种材料时宜控制衡定的蒸发速率。
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3 C, \/ d1 T3 o& O% x材料可添加重复使用,为减少杂气排放量,尽量避免全数使用新材料。/ z/ k! g4 E# s, B  h
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蒸气中的TI和TIO和O2反应生成TIO2。
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常用於制备抗反射膜和SIO2叠加制备各种规格的截止膜系和滤光片等。* j8 Y& x/ h5 S( o9 C5 E

0 @  |  u& w, N4 z6 ?3 y名称:锗(Ge)
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" O. Z6 _* T/ z9 j% @9 G 稀有金属,无毒无放射性,主要用於半导体工业,塑胶工业,红外光学器件,航天工业,光纤通讯等。
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2 T  y) D/ c- q% O4 j$ t7 o4 [ 透光范围2000nm—14000nm,n =4甚至更大,937℃时熔化并且在电子枪中形成一种液体,然後在1400℃轻易蒸发。用电子枪蒸发时它的密度比整体堆积密度低,而用离子助镀或者镭射蒸着可以得出接近於松散密度。
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在Ge基板上与ThF4制备几十层的8000—12000nm带通滤光片,如果容室温度太高吸收性将有重大变化,在240--280℃范围内,在从非晶体到晶体转变的过程中Ge有一个临界点。3 j+ `2 C& g2 K5 Z, H

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名称:锗化锌(ZnGe)1 p' p" v. M/ C+ ~: _. r+ P

. q, g! H! O2 Y4 S7 x 疏散的ZnGe具有一个比其相对较高的折射率,在500nm n=2?6
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,在可见光谱区以及12000—14000nm区域具有较少的吸收性并且疏散的ZnGe没有其材质那麽硬。使用钽舟将其蒸发到150℃的基板上制备Si/ZnGe及ZnGe/LaF3膜层试图获到长波长IR渐低折射率的光学滤镜。
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名称:氧化铪(HfO2)
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在150℃的基板用电子枪蒸着,折射率在2?0左右,用氧离子助镀可能取得2?05--2?1稳定的折射率,在8000—12000nm区HfO2用作铝保护外层好过SiO2。7 |$ u, o# r/ I2 R4 g/ i
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无色圆盘状或灰色颗粒和片状。6 H2 ~+ C4 t& z5 N& U. |
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名称:碲化铅(PbTe)
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是一种具有最高折射率的IR材料,作为薄膜材料在3800—40000nm是透明的,在红外区n=5?1—555,该材料昇华,基板温度250℃是有益的,健康预防是必要的。在高达40000nm时使用效果很好。别的材料常常用在超过普通的14000nm红外线边缘。; w5 U8 W" G# R& v3 `
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名称:铝氟化物(ALF3)
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可以在钼中昇华,在190nm—1000nm区域有透过性,n =1?38,有些人声称已用过Eximer激光镜,它无吸收性,在250--1000nm区域透过性良好。ALF3是冰晶石,是NaALF4的一个组成部分,且多年来一直在使用,但是在未加以保护层时耐久性还未为人知。& s) z0 L1 }; c) o, j
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名称:铈(Ce)氟化物
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  N3 u2 f. a+ _9 u Hass等人研究CeF3,他们使用高密度的钨舟蒸发发现在500nm时n =1?63,并且机械强度和化学强度令人满意,他们指出在234nm和248nm的吸收最大,而在波长大过大300nm时吸收可以忽略。Fujiwara用钼舟蒸蒸日上发CeF3和CeO2混合物,得到一个1?60--2?13的合乎需要的具有合理重复性的折射率,他指出该材料的机械强度和化学强度都令人满意。
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名称:氟化钙(CaF2)
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CaF2是Heavens提出来的,它可以在10-4以上的压力下蒸发获得一个约为 1?23-- 1?28的折射率。可是他说最终的膜层不那麽令人满意。在室温下蒸着氟化钙其堆积密度大约0?57,这与Ennos给出的疏散折射率1?435相吻合,这说明该材料不耐用并容易随温度变化而变化。,原圾的高拉应力随膜厚而降低,膜厚增大导致大量的可见光散射。可以用钨,钽或钼舟蒸发且会昇华,在红外线中其穿透性超过12000nm,它没有完整的致密性似乎是目前其利用受到限制的原因,随着IAD蒸着氟化物条件的改善这种材料的使用前景更为广阔。. S4 A5 N# h# T% P3 {) @3 k) Y$ P

, C' V0 t* K- s$ ^名称:氟化钡(BaF2)5 C: F7 X$ W, r0 N- \5 d; ^
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与氟化钙具有相似的物理特性,在室温上蒸着氟化钡,使用较低的蒸着速度时材料的堆积密度约为 0?66,并且密度变化与蒸着速度增大几乎成正比,在速度为20nm/s堆积密度高达0?83,它的局限性又是它缺乏完全致密性。透过性在高温时移到更长的波长。所以目前它只能用在红外膜。8 u: v$ p8 g% B
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, X; K6 w& I. e+ ?' ?7 d1 L 名称:氟化铅(PbF2)$ K9 ]' f- |: B' O' U
, z( Q* k( f- F" n1 ~: G
氟化铅在UV中可用作高折射率材料,在300nm时,n =1?998,该材料与钼,钽,钨舟接触时折射率将降低,因此需要用铂或陶瓷皿。Ennos指出氟化铅具有相对较低的应力,开始是压力,随着膜厚度的增加张力明显增大,但这与蒸着速度无关。
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