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光谱分析方法作为一种重要的分析手段,在科研、生产、质控等方面都发挥着极大的作用。无论是穿透吸收光谱,还是荧光光谱,拉曼光谱,获得单波长辐射是不可缺少的手段。由于现代单色仪可具有很宽的光谱范围(UV-IR),高光谱分辨率(0.001nm),自动波长扫描,完整电脑控制功能,极易和其它周边设备配合为高性能自动测试系统,使用电脑自动扫描多光栅光谱仪已成为光谱研究的首选。
5 k) X' m$ v ^9 E. |9 T. F 在光谱学应用中,获得单波长辐射是不可缺少的手段。除了用单色光源(如光谱灯、激光器、发光二极管)、颜色玻璃和干涉滤光片外,大都使用扫描选择波长的单色仪。尤其是当前更多地应用扫描光栅单色仪,在连续的宽波长范围(白光)选出窄光谱(单色或单波长)辐射。
1 M& o: R: |. @! g, ~ 当一束复合光线进入光谱仪的入射狭缝,首先由光学准直镜准直成平行光,再通过衍射光栅色散为分开的波长(颜色)。利用不同波长离开光栅的角度不同,由聚焦反射镜再成像于出射狭缝。通过电脑控制可精确地改变出射波长。2 P- f! V, J- B* O6 n0 u
光栅基础
( L+ \: N" M; w. I7 J6 V 光栅作为重要的分光器件,他的选择与性能直接影响整个系统性能。为更好协助用户选择,在此做一简要介绍。
# V- S0 A* K' j! }* V' u' z 光栅分为刻划光栅、复制光栅、全息光栅等。刻划光栅是用钻石刻刀在涂有金属的表面上机械刻划而成;复制光栅是用母光栅复制而成。典型刻划光栅和复制光栅的刻槽是三角形。全息光栅是由激光干涉条纹光刻而成。全息通常包括正弦刻槽。刻划光栅具有衍射效率高的特点,全息光栅光谱范围广,杂散光低,且可作到高光谱分辨率。
; I _8 L/ K- P! }3 h光栅方程! e: h( p$ W3 `9 s7 x
反射式衍射光栅是在衬底上周期地刻划很多微细的刻槽,一系列平行刻槽的间隔与波长相当,光栅表面涂上一层高反射率金属膜。光栅沟槽表面反射的辐射相互作用产生衍射和干涉。对某波长,在大多数方向消失,只在一定的有限方向出现,这些方向确定了衍射级次。如图1所示,光栅刻槽垂直辐射入射平面,辐射与光栅法线入射角为α,衍射角为β,衍射级次为m,d为刻槽间距,在下述条件下得到干涉的极大值:
2 o. a" A+ L9 s5 k$ d: v; g+ V9 ~ mλ=d(sinα+sinβ)" s: x- m1 X. I$ Z
定义φ为入射光线与衍射光线夹角的一半,即φ=(α-β)/2;θ为相对与零级光谱位置的光栅角,即θ=(α+β)/2,得到更方便的光栅方程:! P& O) V& N6 |) c
mλ=2dcosφsinθ Z: P1 q' x- U$ f
从该光栅方程可看出:
, T2 M) B+ X9 s/ f. Y( o0 C. {; U 对一给定方向β,可以有几个波长与级次m相对应λ满足光栅方程。比如600nm的一级辐射和300nm的二级辐射、200nm的三级辐射有相同的衍射角。
$ w3 W) `& m- k$ a! a0 o- Q6 L7 T& u5 c衍射级次m可正可负。
! N7 G4 M* D5 y/ _ H) k9 \5 @9 R 对相同级次的多波长在不同的β分布开。
$ T' g- B- J" A1 K& ?1 O7 T+ d1 T 含多波长的辐射方向固定,旋转光栅,改变α,则在α+β不变的方向得到不同的波长。
d4 `: X6 h& }' ]0 P" c+ Z如何选择光栅, y, o# I" n' j" r* l3 N
选择光栅主要考虑如下因素:
0 N \1 Z" i! s$ P7 r! Q e 刻槽密度G=1/d,d是刻槽间隔,单位为mm。
) S8 f6 {8 U1 n' z; i; e3 r闪耀波长
+ h* z, J H. A* t( O 闪耀波长为光栅最大衍射效率点,因此选择光栅时应尽量选择闪耀波长在实际需要波长附近。如实际应用在可见光范围,可选择闪耀波长为500nm。0 Q. M) F; m$ M8 \# i% Y
光栅刻线3 M- u, p& ~& g L ~
光栅刻线多少直接关系到光谱分辨率,刻线多光谱分辨率高,刻线少光谱覆盖范围宽,两者要根据实验灵活选择。0 r7 @. N1 ~* c: `' E) d
光栅效率
, j9 w' }: Q3 @. R7 u; ] 光栅效率是衍射到给定级次的单色光与入射单色光的比值。光栅效率愈高,信号损失愈小。为提高此效率,除提高光栅制作工艺外,还采用特殊镀膜,提高反射效率。
; `7 l1 ~/ |( P5 G1 r8 w光栅光谱仪重要参数: N" j" E8 `3 D. ]& s6 w
分辨率(resolution)) {7 y8 T' }, x0 i: a4 @ V0 I. {
光栅光谱仪的分辨率R是分开两条临近谱线能力的度量,根据瑞利判据为:9 H3 J% r* {# t! N( ]+ x' E. p
R==λ/Δλ
7 f8 {. |- K/ F0 } 光栅光谱仪有实际意义的定义是测量单个谱线的半高宽(FWHM)。实际上,分辨率依赖于光栅的分辨本领、系统的有效焦长、设定的狭缝宽度、系统的光学像差以及其它参数等。
# w$ y/ O6 k5 a9 [0 iR∝M.F/W9 ?8 ]3 g0 I9 Q: b/ N; X3 _6 U1 r
M--光栅线数 F--谱仪焦距 W--狭缝宽度
Q" K( Z% R. c色散. ~( U+ U# Z# F/ c7 ~$ @' x3 V
光栅光谱仪的色散决定其分开波长的能力。光谱仪的倒线色散可计算得到:沿单色仪的焦平面改变距离χ引起波长λ的变化,即:. _. q# j% Q2 l( y+ z/ j1 A
Δλ/Δχ=dcosβ/nF* U! W2 b" \8 k- y, Q2 k2 ^
这里d、β、F分别是光栅刻槽的间距、衍射角和系统的有效焦距,n为衍射级次。由方程可见,倒线色散不是常数,它随波长变化。在所用波长范围内,改变化可能超过2倍。根据国家标准,在本样本中,用1200 l/mm光栅色散的中间值(典型的为435.8nm)时的倒线色散。: m, {+ t" y1 B; M, b/ N- k
带宽- H4 L' _! d# o0 Y& }* n+ b
带宽是忽略光学像差、衍射、扫描方法、探测器像素宽度、狭缝高度和照明均匀性等,在给定波长,从光谱仪输出的波长宽度。它是倒线色散和狭缝宽度的乘积。例如,单色仪狭缝为0.2mm,光栅倒线色散为2.7nm/mm,则带宽为2.7*0.2=0.54nm。
( B" w- C& C9 S8 _3 U* i波长精度、重复性和准确度
W) B+ r6 ~7 U- g 波长精度是光谱仪确定波长的刻度等级,单位为nm。通常,波长精度随波长变化,本样本中为最坏的情况。) N9 p4 q i$ U% N) C! k' m6 W
波长重复性是光谱仪设定一个波长后,改变设定,再返回原波长的能力。这体现了波长驱动机械和整个仪器的稳定性。卓立汉光的光谱仪的波长驱动和机械稳定性极佳,其重复性超过了波长精度。3 s: k1 t& F- H, @4 |% D6 e
波长准确度是光谱仪设定波长与实际波长的差别。每台单色仪都要在很多波长检查波长准确度。
- i2 O- C0 @8 G6 B0 u2 D0 DF/#
/ ?) o2 J* q5 a H K F/#定义为光谱仪的直径与焦距的比值。这是对光谱仪接收角的度量,这是调整单色仪与光源及探测器耦合的重要参数。当F/#匹配时,可用上光谱仪的全部孔径。但是大多数单色仪应用长方形光学部件。这里F/#定义为光谱仪的等效直径与焦距的比值,长方形光学件的等效直径是具有相同面积的园的直径。 |
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