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[转贴] 光谱分析方法

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发表于 2011-3-15 10:52:00 | 显示全部楼层 |阅读模式
 光谱分析方法作为一种重要的分析手段,在科研、生产、质控等方面都发挥着极大的作用。无论是穿透吸收光谱,还是荧光光谱,拉曼光谱,获得单波长辐射是不可缺少的手段。由于现代单色仪可具有很宽的光谱范围(UV-IR),高光谱分辨率(0.001nm),自动波长扫描,完整电脑控制功能,极易和其它周边设备配合为高性能自动测试系统,使用电脑自动扫描多光栅光谱仪已成为光谱研究的首选。2 T4 W6 ~% ~: L+ v
  在光谱学应用中,获得单波长辐射是不可缺少的手段。除了用单色光源(如光谱灯、激光器、发光二极管)、颜色玻璃和干涉滤光片外,大都使用扫描选择波长的单色仪。尤其是当前更多地应用扫描光栅单色仪,在连续的宽波长范围(白光)选出窄光谱(单色或单波长)辐射。
% o6 X! i' `1 @3 p3 O  当一束复合光线进入光谱仪的入射狭缝,首先由光学准直镜准直成平行光,再通过衍射光栅色散为分开的波长(颜色)。利用不同波长离开光栅的角度不同,由聚焦反射镜再成像于出射狭缝。通过电脑控制可精确地改变出射波长。! A4 x0 ~, c6 y/ |$ g& c2 W
光栅基础
: S) E7 Q) k# _1 P# w  光栅作为重要的分光器件,他的选择与性能直接影响整个系统性能。为更好协助用户选择,在此做一简要介绍。% f7 o, L( q8 ^$ Y4 r
  光栅分为刻划光栅、复制光栅、全息光栅等。刻划光栅是用钻石刻刀在涂有金属的表面上机械刻划而成;复制光栅是用母光栅复制而成。典型刻划光栅和复制光栅的刻槽是三角形。全息光栅是由激光干涉条纹光刻而成。全息通常包括正弦刻槽。刻划光栅具有衍射效率高的特点,全息光栅光谱范围广,杂散光低,且可作到高光谱分辨率。0 r2 z9 Y: Y; u, ?/ T
光栅方程
5 m* I+ o* M6 K( `$ Y0 ^' q  反射式衍射光栅是在衬底上周期地刻划很多微细的刻槽,一系列平行刻槽的间隔与波长相当,光栅表面涂上一层高反射率金属膜。光栅沟槽表面反射的辐射相互作用产生衍射和干涉。对某波长,在大多数方向消失,只在一定的有限方向出现,这些方向确定了衍射级次。如图1所示,光栅刻槽垂直辐射入射平面,辐射与光栅法线入射角为α,衍射角为β,衍射级次为m,d为刻槽间距,在下述条件下得到干涉的极大值:' b  n1 h  a, w7 [8 ~
  mλ=d(sinα+sinβ); i4 ~" D1 ?1 B0 j. S3 J: S2 m
  定义φ为入射光线与衍射光线夹角的一半,即φ=(α-β)/2;θ为相对与零级光谱位置的光栅角,即θ=(α+β)/2,得到更方便的光栅方程:0 D1 _- e" [1 c: _2 t0 d' t* H
  mλ=2dcosφsinθ7 p: D7 M0 ^. ~
  从该光栅方程可看出:) v6 ^( Y2 x7 A5 q$ b9 ~
  对一给定方向β,可以有几个波长与级次m相对应λ满足光栅方程。比如600nm的一级辐射和300nm的二级辐射、200nm的三级辐射有相同的衍射角。
' K* V5 |5 F% S  f2 g衍射级次m可正可负。
: _- h* W: y9 f& D+ @+ c* R  J- i  对相同级次的多波长在不同的β分布开。
5 m6 t1 K9 ~9 C. E; m  含多波长的辐射方向固定,旋转光栅,改变α,则在α+β不变的方向得到不同的波长。
. u: `' \8 E7 C1 v" V+ d9 t如何选择光栅
  Y5 D1 L: ~2 k0 c* O  选择光栅主要考虑如下因素:
8 g5 l' o- e0 B  刻槽密度G=1/d,d是刻槽间隔,单位为mm。
- `$ @( X( j* l/ y; W' v, u* d: M闪耀波长$ j: `7 P3 p: u, \# c/ I  Y: {' x
  闪耀波长为光栅最大衍射效率点,因此选择光栅时应尽量选择闪耀波长在实际需要波长附近。如实际应用在可见光范围,可选择闪耀波长为500nm。3 a/ O, x. M8 F& t8 y
光栅刻线
: _$ W! h7 B" a  @; c* ^  光栅刻线多少直接关系到光谱分辨率,刻线多光谱分辨率高,刻线少光谱覆盖范围宽,两者要根据实验灵活选择。, x% M- F9 C' r
光栅效率$ F. {, f6 `! r$ U4 L
  光栅效率是衍射到给定级次的单色光与入射单色光的比值。光栅效率愈高,信号损失愈小。为提高此效率,除提高光栅制作工艺外,还采用特殊镀膜,提高反射效率。
; Q, i" a2 f. W8 y* h光栅光谱仪重要参数:3 v& ]: w( {* _, x
分辨率(resolution)% T3 G, s" B5 B9 ]% M
  光栅光谱仪的分辨率R是分开两条临近谱线能力的度量,根据瑞利判据为:; U0 @' ?3 T5 V9 M: V" u
  R==λ/Δλ
6 k4 @+ x; w4 O8 ?' z7 W3 A( O  光栅光谱仪有实际意义的定义是测量单个谱线的半高宽(FWHM)。实际上,分辨率依赖于光栅的分辨本领、系统的有效焦长、设定的狭缝宽度、系统的光学像差以及其它参数等。% m. [, c: c$ v7 I7 v
R∝M.F/W: d: X; d6 `5 k+ O9 `
M--光栅线数  F--谱仪焦距  W--狭缝宽度% ]2 |  ?! K9 u
色散
) K5 y' a& Q8 q: P3 J) `1 C1 e& }) E  光栅光谱仪的色散决定其分开波长的能力。光谱仪的倒线色散可计算得到:沿单色仪的焦平面改变距离χ引起波长λ的变化,即:
5 i  A# j; D& b8 j5 M+ l! s  Δλ/Δχ=dcosβ/nF
3 s1 }$ E; h+ @* l3 o. @  这里d、β、F分别是光栅刻槽的间距、衍射角和系统的有效焦距,n为衍射级次。由方程可见,倒线色散不是常数,它随波长变化。在所用波长范围内,改变化可能超过2倍。根据国家标准,在本样本中,用1200 l/mm光栅色散的中间值(典型的为435.8nm)时的倒线色散。
0 w8 _0 d+ D4 o1 C带宽
9 I6 f. ~& b: N6 U2 T  带宽是忽略光学像差、衍射、扫描方法、探测器像素宽度、狭缝高度和照明均匀性等,在给定波长,从光谱仪输出的波长宽度。它是倒线色散和狭缝宽度的乘积。例如,单色仪狭缝为0.2mm,光栅倒线色散为2.7nm/mm,则带宽为2.7*0.2=0.54nm。7 n6 W/ t. O1 [+ f  C+ ^
波长精度、重复性和准确度" u( K1 G% L: c' i
  波长精度是光谱仪确定波长的刻度等级,单位为nm。通常,波长精度随波长变化,本样本中为最坏的情况。; A5 _0 w& S" |* U# B2 R: z
  波长重复性是光谱仪设定一个波长后,改变设定,再返回原波长的能力。这体现了波长驱动机械和整个仪器的稳定性。卓立汉光的光谱仪的波长驱动和机械稳定性极佳,其重复性超过了波长精度。  C: }3 n( T* a+ \
 波长准确度是光谱仪设定波长与实际波长的差别。每台单色仪都要在很多波长检查波长准确度。- v& V; E$ Q; ^  {! O
F/## e$ E/ l. x. e2 M" {% ?5 S
  F/#定义为光谱仪的直径与焦距的比值。这是对光谱仪接收角的度量,这是调整单色仪与光源及探测器耦合的重要参数。当F/#匹配时,可用上光谱仪的全部孔径。但是大多数单色仪应用长方形光学部件。这里F/#定义为光谱仪的等效直径与焦距的比值,长方形光学件的等效直径是具有相同面积的园的直径。

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