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上海中电网供应SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品

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发表于 2010-10-21 07:36:19 | 显示全部楼层 |阅读模式
高精准薄膜度量 系统 与 软件分析 产品
. i" y1 V, V( m% l* V( x0 I6 L- |8 c9 l& H2 V5 k
美国SCI为世界薄膜度量系统和分析软件行业的领军者,
9 L# [. V  h$ o+ M$ O  D
& Q/ X7 H' ]( s8 R, j7 S8 [$ J) ^其产品广泛应用于半导体,OLED/LCD, 光电,数据存储,显示器,微型机电系统以及光附膜产业,SCI的薄膜特性度量系统品种丰富,从台式研发设备到全自动生产工具以及分析/设计软件应有尽有。0 w9 D! W  W: z) N1 H

6 H1 Y9 T0 S0 w, }9 \1) Film Wizard 软件 : 市面上功能最强大的,多用途,界面友好的薄膜测试模拟软件7 }+ ^; T9 `' \6 \: }' _
% O% r1 o- W  v4 s& A
应用实例,目前已经有多套Film Wizard?软件应用于中国光电,半导体行业的研发和生产行业。0 O1 D# c& Y; h+ M
0 V, L" _- w4 ]# b7 K6 @
2) FilmTek 系统: 为SCI出产的基于分光光度技术的度量系统,有多种不同配置,配合不同需求.
0 _- l7 M  h" C6 L1 f: z) j4 y2 L1 r# c( o2 g9 }: k, s
1.多层厚度(1 纳米 到 250 微米)2 Q6 e, d, U4 r
2.折射率n4 Y- w& N: b! M6 y- |
3.吸收系数k" K8 H% T; u' {0 Z1 A' \9 O
4.双折射率
7 a- A1 ^! U" a3 E: L( j- y5.能隙(Eg)
( n  q& ]2 M- E* W0 [6.表面粗糙度和损伤% N: k) @. e. j8 C
7.多孔性,薄膜成份,结晶度(EMA模式)% |" j! f, B% N$ w, |) o7 @
8.薄膜温度特性6 ?/ k! |( f7 A$ h7 D3 ~7 R
9.晶元曲率和薄膜耐压性
/ Q$ R& {6 X7 H6 N3 H
" V, p% z; I; M! G: p应用实例,上海半导体研发中心成功引进SCI的FilmTek 2000。
. |' r6 ?7 M! c1 Q9 P9 ?% b  j) K

5 S% _" G3 n$ O" j- q详细信息请电话或邮件联系EMD上海办事处或前往SCI网站查询,联系方式如下:
& L! j6 L  y+ ]) u8 c4 e  q, W电话021-61021226转820/818    王小姐/陈先生
9 g3 x2 q/ X6 X: D邮件:wangdongmei@eccn.com / benchan@eccn.com
& e$ d% G. `1 J网址:http://www.emdeccn.com
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