推荐可以直接测量薄膜反射率和透射率分光光度计

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一种可以同时测量薄膜反射率、折射率、透射率的光学薄膜测厚仪
7 _. i7 p, X; j4 t6 M& c/ \+ t产品特征：
' p! Z: B7 P2 z2 `0 g· 易于安装
% A( R! ?0 H% h1 v: F· 基于视窗结构的软件，很容易操作
· 先进的光学设计，以确保能发挥出最佳的系统性能
· 基于阵列设计的探测器系统，以确保快速测量
6 O. M9 P" j3 V, o$ b* Z· 独特的光源设计，有着较好的光源强度稳定性
· 最多可测量5层的薄膜厚度和折射率
! F9 L( l. D, D3 Y2 H· 在毫秒的时间内，可以获得反射率、透射率和吸收光谱等一些参数
: I* d1 k; i5 f; z3 V· 能够用于实时或在线的厚度、折射率测量
· 系统配备大量的光学常数数据及数据库
· 对于每个被测薄膜样品，用户可以利用先进的软件功能选择使用NK数据库、也可以进行色散或者复合模型（EMA）测量分析；
· 可升级至MSP（显微分光光度计）系统，SRM成像系统，多通道分析系统，大点测量。
; Z1 f9 o1 H2 x4 }5 F4 f· 通过模式和特性结构直接测量。
( l* b9 u3 R$ I" H· 提供的各种配件可用于特殊结构的测量，例如通过曲线表面进行纵长测量。
· 2D和3D的图形输出和友好的用户数据管理界面。
$ S7 J+ E6 x! [5 [0 |# w
5 M! ^/ P1 Q+ }- ?  {系统配置
型号：SRT100
2 ]" [% M/ l6 t检测器：双通道CCD阵列的每个像素2048
5 e6 Y' d1 Z- g$ k光源：氘灯和高功率卤素灯
! J6 u2 {: o) g. `2 C6 x: [$ f光传输：光纤
载物台：黑色铝合金样品测量平台轻松调整高度，100mmx100mm尺寸
通讯：USB
测量类型：薄膜厚度，反射光谱，透射光谱，折射率
( u' g% _$ }: _- e( x7 j, R: I软件：TFProbe 2.3
+ O$ T9 Z" ^  M电脑需要：常规配置
电源：110 - 240伏交流电/ 50 - 60Hz的，1.5A
保修：1年

5 M' E$ D5 Q, x+ J产品规格
; Q# m5 ?. \8 s, L波长范围：250nm到1100 nm
光斑尺寸：500μm至5mm
样品尺寸：100mmx100mm
基板尺寸：最多可至50毫米厚
测量厚度范围*：5nm-50μm
" `  Y4 y6 K6 z测量时间：最快2毫秒
; Z' l' f2 T3 b精确度：优于0.5％（通过使用相同的光学常数，让椭偏仪的结果与热氧化物样品相比较）
重复性误差*：小于1A

产品应用:
半导体制造（PR，Oxide, Nitride..)
- A% h2 d$ m7 O, f* _液晶显示（ITO，PR，Cell gap... ..）
医学，生物薄膜及材料领域等
油墨，矿物学，颜料，调色剂等
' q5 @: w9 t( n6 W0 q, v7 s* K医药，中间设备
光学涂层，TiO2, SiO2, Ta2O5... ..
8 K; W. l; C: J0 P" e半导体化合物
2 B$ k# f0 U4 V, G+ o5 ^% t在MEMS/MOEMS系统上的功能性薄膜
非晶体，纳米材料和结晶硅
; s, e4 C& C+ O
5 ^# l- n2 t$ _3 w5 H0 u# m8 }4 ^我们是北京燕京电子有限公司  
3 M. G, R5 B6 w8 b# |: e) N9 O如有兴趣，请联系 010-58237160  liusp@beijingec.com     msn:   po663340@hotmail.com
' }0 j' z6 \0 ?5 K我公司可以免费给您做样品测试！