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上海EMD销售美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品

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发表于 2010-4-30 01:26:49 | 显示全部楼层 |阅读模式
EMD代理美国SCI高精准薄膜度量 系统 与 软件分析 产品,
4 h! K; J- f3 n, |: J. `9 N+ T9 ?
0 R7 H$ h$ N2 K6 b5 P( N美国SCI为世界薄膜度量系统和分析软件行业的领军者,
& ^1 Q0 E+ F% [$ J8 f6 u& U
% h( ?* v9 H" `1 ^2 D! J( {其产品广泛应用于半导体,OLED/LCD, 光电,数据存储,显示器,微型机电系统以及光附膜产业,SCI的薄膜特性度量系统品种丰富,从台式研发设备到全自动生产工具以及分析/设计软件应有尽有。
: m$ U# j" r. }
. M- |  A' w# c, `2 _! c1) Film Wizard? 软件 : 市面上功能最强大的,多用途,界面友好的薄膜测试模拟软件
$ A' q, L7 b9 t
* f! b5 a( F. c* `! W; X- j应用实例,目前已经有多套Film Wizard?软件应用于中国光电,半导体行业的研发和生产行业。! i( V8 }; \3 d% D6 i, S3 a
& A- J0 Y5 }, a& M( k
2) FilmTek? 系统: 为SCI出产的基于分光光度技术的度量系统,有多种不同配置,配合不同需求.
3 i: C! n# d0 k5 T0 V
/ [- U4 u3 U4 I' [- x3 \1.多层厚度(1? 到 250 microns)
& P9 S+ c& U" |8 {2.折射率n
, O2 o' u$ b( G' Y5 Q8 L% V3.吸收系数k
3 W6 b- V. S4 a  _4.双折射率
8 C* |1 M/ A3 h$ {) c$ ^, M5.能隙(Eg)7 \1 H+ [2 C- k6 u' p. \4 @) s
6.表面粗糙度和损伤
" q1 G6 w! A( F0 m6 r% g: O7.多孔性,薄膜成份,结晶度(EMA模式)* v- h; |0 z2 v; w$ A0 K
8.薄膜温度特性
6 h6 n& Y1 `8 }, Y/ c# a9.晶元曲率和薄膜耐压性# v+ \" D) G9 e/ u. X" Z

5 `3 M( P/ U9 ^& t+ q应用实例,上海***研发中心2007年成功引进SCI的FilmTek?2000。
; E  k$ V& S: D  d( Q
) S& ?" Y+ q1 U8 v. _- r+ Y8 j. y2 U4 c( M* v
详细信息请电话或邮件联系EMD上海办事处或前往SCI网站查询,联系方式如下:& j# a" F( R' Q* U
电话021-61021226转820/818    王小姐/陈先生7 Y& @6 u9 }4 @( p( A% J
邮件:wangdongmei@eccn.com / benchan@eccn.com# n, o4 l/ Q) \! j2 {+ J$ M
网址:http://www.emdeccn.com9 [! J8 D; K! \4 F' i# U  B
3 h/ h, V, N5 x" g% U- V) i

1 Y1 O$ q! x$ `8 A3 I/ V1 C
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