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EMD代理美国SCI高精准薄膜度量 系统 与 软件分析 产品，4 H( I2 ?; Z1 T3 _
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美国SCI为世界薄膜度量系统和分析软件行业的领军者，) Z. V1 N3 u* E# h
' K Z, o/ Y: k# f其产品广泛应用于半导体，OLED/LCD, 光电，数据存储，显示器，微型机电系统以及光附膜产业，SCI的薄膜特性度量系统品种丰富，从台式研发设备到全自动生产工具以及分析/设计软件应有尽有。
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2 [& Z$ V# c- N( T* Y; D1) Film Wizard? 软件 : 市面上功能最强大的，多用途，界面友好的薄膜测试模拟软件& M$ {; T$ }& S# T# a& b1 y, }
; S% m: d" x* N应用实例，目前已经有多套Film Wizard?软件应用于中国光电，半导体行业的研发和生产行业。
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+ b, Q7 z+ T1 b2 p1 T2) FilmTek? 系统: 为SCI出产的基于分光光度技术的度量系统，有多种不同配置，配合不同需求.
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1.多层厚度（1? 到 250 microns）
7 C; R0 k' t/ U# g: h( [8 p" L2.折射率n
9 c2 s/ Z O% Y. I) u2 |$ c3.吸收系数k' u9 Z, m+ ~2 G# A
4.双折射率
/ h- l* _- D( c1 u5 v* p5.能隙（Eg）
' ^. q" x5 B6 o1 X6.表面粗糙度和损伤
' l& c' X- q: D& j6 S0 A, y! l7.多孔性，薄膜成份，结晶度（EMA模式）
5 d+ A9 A9 U! I1 r8.薄膜温度特性
! Z- R& f% T/ Q$ l: `* b$ ]9.晶元曲率和薄膜耐压性
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. m, A% G6 j. {1 \5 k. a应用实例，上海***研发中心2007年成功引进SCI的FilmTek?2000。
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详细信息请电话或邮件联系EMD上海办事处或前往SCI网站查询，联系方式如下：
5 y8 C8 |9 v# L8 o电话021-61021226转820/818 王小姐/陈先生
. ^$ l; B! N6 o5 v2 a" D; _ P k2 u6 w邮件：wangdongmei@eccn.com / benchan@eccn.com
& ]9 w+ W6 ^! Y6 h网址：http://www.emdeccn.com( | k! e* h9 c
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雷达卡
发表于 2010-4-30 01:26:49
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