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EMD代理美国SCI高精准薄膜度量 系统 与 软件分析 产品， F- f1 u" E, B8 x# l
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美国SCI为世界薄膜度量系统和分析软件行业的领军者，9 Z2 a7 C/ _& @% a9 U) Q) o! q; D
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其产品广泛应用于半导体，OLED/LCD, 光电，数据存储，显示器，微型机电系统以及光附膜产业，SCI的薄膜特性度量系统品种丰富，从台式研发设备到全自动生产工具以及分析/设计软件应有尽有。) [( V& p4 s" S: o/ ~3 m: G: M0 Q
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1) Film Wizard? 软件 : 市面上功能最强大的，多用途，界面友好的薄膜测试模拟软件
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" F' b. D* k: P; K& F5 J$ Z应用实例，目前已经有多套Film Wizard?软件应用于中国光电，半导体行业的研发和生产行业。1 G z$ U6 |( o9 W
4 G7 z: K: G) ~6 q# J7 |2) FilmTek? 系统: 为SCI出产的基于分光光度技术的度量系统，有多种不同配置，配合不同需求.
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4 [0 [3 ^; g% A- ]8 R1.多层厚度（1? 到 250 microns）; j; t* Y; p: o% Y+ |7 A# G$ _5 M" ?$ N
2.折射率n
( T: ]" l( D2 k( U4 a0 T% q3.吸收系数k
# t' C4 L* B: R4.双折射率- _' t. J/ D: P4 u/ T7 m$ l6 U
5.能隙（Eg）
, }! g4 P$ w% G, L- m! o6 k6.表面粗糙度和损伤
% G! ?. [3 r, H6 a# j0 P% a9 h* V X7.多孔性，薄膜成份，结晶度（EMA模式）3 d5 S1 V2 K* P. K
8.薄膜温度特性1 u" S$ I1 _0 Y. z( d& N: G1 L
9.晶元曲率和薄膜耐压性7 q# L1 d+ k& M( L
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应用实例，上海***研发中心2007年成功引进SCI的FilmTek?2000。% y4 L9 b6 T4 I* F7 K0 g
c9 h1 Q& ^1 c8 d' U8 Q2 G8 B- ^! S/ f% u
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网址：http://www.emdeccn.com6 m* d2 v: n. @8 ?! W" O
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发表于 2010-4-30 09:26:49
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