上海EMD销售美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品

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EMD代理美国SCI高精准薄膜度量 系统 与 软件分析 产品，
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0 R7 H$ h$ N2 K6 b5 P( N美国SCI为世界薄膜度量系统和分析软件行业的领军者，
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% h( ?* v9 H" `1 ^2 D! J( {其产品广泛应用于半导体，OLED/LCD, 光电，数据存储，显示器，微型机电系统以及光附膜产业，SCI的薄膜特性度量系统品种丰富，从台式研发设备到全自动生产工具以及分析/设计软件应有尽有。
: m$ U# j" r. }
. M- |  A' w# c, `2 _! c1) Film Wizard? 软件 : 市面上功能最强大的，多用途，界面友好的薄膜测试模拟软件
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* f! b5 a( F. c* `! W; X- j应用实例，目前已经有多套Film Wizard?软件应用于中国光电，半导体行业的研发和生产行业。

2) FilmTek? 系统: 为SCI出产的基于分光光度技术的度量系统，有多种不同配置，配合不同需求.
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/ [- U4 u3 U4 I' [- x3 \1.多层厚度（1? 到 250 microns）
& P9 S+ c& U" |8 {2.折射率n
, O2 o' u$ b( G' Y5 Q8 L% V3.吸收系数k
3 W6 b- V. S4 a  _4.双折射率
8 C* |1 M/ A3 h$ {) c$ ^, M5.能隙（Eg）
6.表面粗糙度和损伤
" q1 G6 w! A( F0 m6 r% g: O7.多孔性，薄膜成份，结晶度（EMA模式）
8.薄膜温度特性
6 h6 n& Y1 `8 }, Y/ c# a9.晶元曲率和薄膜耐压性

5 `3 M( P/ U9 ^& t+ q应用实例，上海***研发中心2007年成功引进SCI的FilmTek?2000。
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电话021-61021226转820/818    王小姐/陈先生
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