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EMD代理美国SCI高精准薄膜度量 系统 与 软件分析 产品，" `5 v% a ?4 j; Q: u+ Q
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美国SCI为世界薄膜度量系统和分析软件行业的领军者，
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. ^( h: H. ~3 w7 a$ T- u, o- b其产品广泛应用于半导体，OLED/LCD, 光电，数据存储，显示器，微型机电系统以及光附膜产业，SCI的薄膜特性度量系统品种丰富，从台式研发设备到全自动生产工具以及分析/设计软件应有尽有。; A. a5 c7 S% n: E: z( v! [
( }1 k3 j- E {; Z" _1) Film Wizard? 软件 : 市面上功能最强大的，多用途，界面友好的薄膜测试模拟软件; q0 C, `) k9 e# ^6 H9 n9 e( d4 z
5 z, W8 m1 | u; }$ `, t应用实例，目前已经有多套Film Wizard?软件应用于中国光电，半导体行业的研发和生产行业。
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2) FilmTek? 系统: 为SCI出产的基于分光光度技术的度量系统，有多种不同配置，配合不同需求.3 a+ P/ E+ T; u: Q$ w
) b+ L n: w* e1 t7 I
1.多层厚度（1? 到 250 microns）( \( f9 h t' I! J
2.折射率n
1 |+ x+ L. u9 g4 e3.吸收系数k* e, A& U( M Y. C
4.双折射率
( O0 [$ e$ f# r7 q9 C5.能隙（Eg）
* i) M$ F- C; B7 q+ t6 q/ k6.表面粗糙度和损伤
1 Z5 Y+ J! O; k7.多孔性，薄膜成份，结晶度（EMA模式）
2 r7 O& R' @5 i0 ]; Y% y9 ~; g( J; |8.薄膜温度特性8 f8 x$ t# V% r, ] V0 b
9.晶元曲率和薄膜耐压性% p& g) Z& h8 a! y/ c ]' _
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应用实例，上海***研发中心2007年成功引进SCI的FilmTek?2000。
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$ T% w/ c" G% I% I/ t2 `详细信息请电话或邮件联系EMD上海办事处或前往SCI网站查询，联系方式如下：1 e, U' B1 C( X( ?1 u! n
电话021-61021226转820/818 王小姐/陈先生2 m& ^. H1 c# I9 Y' |; v
邮件：wangdongmei@eccn.com / benchan@eccn.com5 V! A8 {4 ?2 C# s
网址：http://www.emdeccn.com' D: V! X5 N+ v; N
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发表于 2010-4-30 01:26:49
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