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上海EMD销售美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品

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发表于 2010-4-30 01:26:49 | 显示全部楼层 |阅读模式
EMD代理美国SCI高精准薄膜度量 系统 与 软件分析 产品,
/ Q) _; f# W$ `! C, d# ^' }+ A6 ]" f4 G7 x$ l2 \. W
美国SCI为世界薄膜度量系统和分析软件行业的领军者,) C) u# _' k" e& J" s9 W1 ^  {

( `& r' n4 t$ W* p% L! p9 T! c其产品广泛应用于半导体,OLED/LCD, 光电,数据存储,显示器,微型机电系统以及光附膜产业,SCI的薄膜特性度量系统品种丰富,从台式研发设备到全自动生产工具以及分析/设计软件应有尽有。
7 ~' z7 ]. L; x1 U6 g/ A7 H1 @
+ l/ {. a$ R5 R' S+ u' [9 `1) Film Wizard? 软件 : 市面上功能最强大的,多用途,界面友好的薄膜测试模拟软件" r5 _9 q% W( b, c  ~. y1 q

0 r; U1 v  @' `7 a+ r应用实例,目前已经有多套Film Wizard?软件应用于中国光电,半导体行业的研发和生产行业。+ N8 e, F+ i. l9 e( b

( e/ n% i* ?3 t, y3 L; X& k( E( L; u9 j/ J2) FilmTek? 系统: 为SCI出产的基于分光光度技术的度量系统,有多种不同配置,配合不同需求.2 ~* T! J) i, G. ]  E8 A

! A$ b0 z. [" g/ z1.多层厚度(1? 到 250 microns)
& L/ e: O6 B8 L( u2.折射率n. Q( ]8 M- A% B" ?2 T; J
3.吸收系数k. r! c" r  o, c  c0 a2 \6 d1 Z( z5 k
4.双折射率
/ q; ]9 x; D$ ?+ u! R5.能隙(Eg)
2 @9 N/ a8 M! U* y" b  o6 F- z6.表面粗糙度和损伤
8 B* j# b8 i, f6 Q3 @7 Q5 `7.多孔性,薄膜成份,结晶度(EMA模式)
) k4 ^% X4 N# \' [1 f8.薄膜温度特性
  W% A" s! t5 P+ I, W+ t9.晶元曲率和薄膜耐压性$ a# c3 ]# |9 o1 W
! d8 g& B3 ^3 q3 p8 {7 y
应用实例,上海***研发中心2007年成功引进SCI的FilmTek?2000。
- E3 G! u# R9 g) I- g* R
+ G  X4 D! C4 t) d. f4 r# }! h4 W" o
详细信息请电话或邮件联系EMD上海办事处或前往SCI网站查询,联系方式如下:* _2 M0 u, y! x0 t
电话021-61021226转820/818    王小姐/陈先生4 c8 C( p7 D, E* n, f3 S
邮件:wangdongmei@eccn.com / benchan@eccn.com
9 O3 o/ j* F' i, f网址:http://www.emdeccn.com
8 j" [4 O; m+ i, [, U, _0 O* X; S& L) v" _5 z. a$ C
) j1 K" k0 b& Q7 U
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