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EMD代理美国SCI高精准薄膜度量 系统 与 软件分析 产品," `5 v% a ?4 j; Q: u+ Q
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美国SCI为世界薄膜度量系统和分析软件行业的领军者,
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. ^( h: H. ~3 w7 a$ T- u, o- b其产品广泛应用于半导体,OLED/LCD, 光电,数据存储,显示器,微型机电系统以及光附膜产业,SCI的薄膜特性度量系统品种丰富,从台式研发设备到全自动生产工具以及分析/设计软件应有尽有。; A. a5 c7 S% n: E: z( v! [
( }1 k3 j- E {; Z" _1) Film Wizard? 软件 : 市面上功能最强大的,多用途,界面友好的薄膜测试模拟软件; q0 C, `) k9 e# ^6 H9 n9 e( d4 z
5 z, W8 m1 | u; }$ `, t应用实例,目前已经有多套Film Wizard?软件应用于中国光电,半导体行业的研发和生产行业。
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2) FilmTek? 系统: 为SCI出产的基于分光光度技术的度量系统,有多种不同配置,配合不同需求.3 a+ P/ E+ T; u: Q$ w
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1.多层厚度(1? 到 250 microns)( \( f9 h t' I! J
2.折射率n
1 |+ x+ L. u9 g4 e3.吸收系数k* e, A& U( M Y. C
4.双折射率
( O0 [$ e$ f# r7 q9 C5.能隙(Eg)
* i) M$ F- C; B7 q+ t6 q/ k6.表面粗糙度和损伤
1 Z5 Y+ J! O; k7.多孔性,薄膜成份,结晶度(EMA模式)
2 r7 O& R' @5 i0 ]; Y% y9 ~; g( J; |8.薄膜温度特性8 f8 x$ t# V% r, ] V0 b
9.晶元曲率和薄膜耐压性% p& g) Z& h8 a! y/ c ]' _
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应用实例,上海***研发中心2007年成功引进SCI的FilmTek?2000。
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$ T% w/ c" G% I% I/ t2 `详细信息请电话或邮件联系EMD上海办事处或前往SCI网站查询,联系方式如下:1 e, U' B1 C( X( ?1 u! n
电话021-61021226转820/818 王小姐/陈先生2 m& ^. H1 c# I9 Y' |; v
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