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EMD代理美国SCI高精准薄膜度量 系统 与 软件分析 产品，
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美国SCI为世界薄膜度量系统和分析软件行业的领军者，
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其产品广泛应用于半导体，OLED/LCD, 光电，数据存储，显示器，微型机电系统以及光附膜产业，SCI的薄膜特性度量系统品种丰富，从台式研发设备到全自动生产工具以及分析/设计软件应有尽有。
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$ T, _( i6 z/ h$ E1) Film Wizard? 软件 : 市面上功能最强大的，多用途，界面友好的薄膜测试模拟软件9 [) r3 A Q7 f) D2 j
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应用实例，目前已经有多套Film Wizard?软件应用于中国光电，半导体行业的研发和生产行业。
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2) FilmTek? 系统: 为SCI出产的基于分光光度技术的度量系统，有多种不同配置，配合不同需求.
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- X$ D7 h( e$ \) e# i' ~1.多层厚度（1? 到 250 microns）' C3 \5 D# @6 R/ _1 G- x% q! ^
2.折射率n
7 C2 z# T! U* _' T I* [7 z4 z! ]3.吸收系数k" \2 _9 V0 ?1 ^! r# q7 B; s
4.双折射率' M" G& }& P. P* A* m& N
5.能隙（Eg）0 p! h {3 A, |# q
6.表面粗糙度和损伤
0 ?) p+ A3 ~2 a9 D( E( }3 k7.多孔性，薄膜成份，结晶度（EMA模式）
! D/ h* n6 C6 @* |$ ]8.薄膜温度特性: X5 K3 m! t: q: I0 L* t9 _
9.晶元曲率和薄膜耐压性9 \$ P8 H! @- ^4 I, {! p
5 N5 p6 X7 @' R. q* P, Y `& C应用实例，上海***研发中心2007年成功引进SCI的FilmTek?2000。0 e; T2 w' j. O1 `& ?
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详细信息请电话或邮件联系EMD上海办事处或前往SCI网站查询，联系方式如下：
; }* [7 e% S# z电话021-61021226转820/818 王小姐/陈先生
5 g2 g' ]/ A$ Z- K: ?$ l4 H5 |邮件：wangdongmei@eccn.com / benchan@eccn.com! t" y: H4 d8 k# \8 J& Z
网址：http://www.emdeccn.com |
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发表于 2010-3-22 00:30:53
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