EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品

aqingsy

EMD代理美国SCI高精准薄膜度量 系统 与 软件分析 产品，

3 R7 s' O" Q8 K6 e0 ?3 T$ D美国SCI为世界薄膜度量系统和分析软件行业的领军者，

; l/ J9 u! I8 f4 p' Y8 g7 Q5 b其产品广泛应用于半导体，OLED/LCD, 光电，数据存储，显示器，微型机电系统以及光附膜产业，SCI的薄膜特性度量系统品种丰富，从台式研发设备到全自动生产工具以及分析/设计软件应有尽有。

1 ?! [: r0 b. ^/ ~1) Film Wizard? 软件 : 市面上功能最强大的，多用途，界面友好的薄膜测试模拟软件

应用实例，目前已经有多套Film Wizard?软件应用于中国光电，半导体行业的研发和生产行业。

2) FilmTek? 系统: 为SCI出产的基于分光光度技术的度量系统，有多种不同配置，配合不同需求.

5 |; U+ ?) p4 s7 }/ }- r$ s1.多层厚度（1? 到 250 microns）
2 Q6 o6 w+ x" c% Y) |) J3 r2.折射率n
( B& P4 F( x: z' e* `' W4 `" j  `3.吸收系数k
4.双折射率
7 T0 H7 i. }  x5 S3 l; M  E5.能隙（Eg）
5 l. n( H0 D8 u; Q# L8 ]5 N' M. Q6.表面粗糙度和损伤
3 x- A: A1 u: J5 C1 G& W+ z7.多孔性，薄膜成份，结晶度（EMA模式）
9 h5 d. U' _! C8.薄膜温度特性
9.晶元曲率和薄膜耐压性

应用实例，上海***研发中心2007年成功引进SCI的FilmTek?2000。
5 x* V3 Q5 ], A) j/ f+ L7 I

0 q) t7 c+ n1 F" G8 L2 T, F( h0 l详细信息请电话或邮件联系EMD上海办事处或前往SCI网站查询，联系方式如下：
电话021-61021226转820/818    王小姐/陈先生
) X  P- r' \. ~' i/ h% Y: J邮件：wangdongmei@eccn.com / benchan@eccn.com
网址：http://www.emdeccn.com