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EMD代理美国SCI高精准薄膜度量 系统 与 软件分析 产品，: P! F9 Y7 _( G/ B) Q
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美国SCI为世界薄膜度量系统和分析软件行业的领军者，$ u0 N) B; ~+ O2 r* V
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其产品广泛应用于半导体，OLED/LCD, 光电，数据存储，显示器，微型机电系统以及光附膜产业，SCI的薄膜特性度量系统品种丰富，从台式研发设备到全自动生产工具以及分析/设计软件应有尽有。# l9 ^ s7 Y% q+ F0 i4 M
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1) Film Wizard? 软件 : 市面上功能最强大的，多用途，界面友好的薄膜测试模拟软件
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1 Q+ V7 ~! o: ~: ~' y- `应用实例，目前已经有多套Film Wizard?软件应用于中国光电，半导体行业的研发和生产行业。( |+ o$ d! {3 Z4 z* c! H
9 Z+ A/ Q/ ^$ s2) FilmTek? 系统: 为SCI出产的基于分光光度技术的度量系统，有多种不同配置，配合不同需求.
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1.多层厚度（1? 到 250 microns）: c; ~4 t. n! C5 N( P
2.折射率n3 M$ w# ^5 w M5 K2 a5 f/ U
3.吸收系数k
1 j! p S5 d' @; j3 b' P/ ?4.双折射率
' e. M. p( _' _* k) M8 ~6 f4 O5.能隙（Eg）
8 R5 g [1 l! @9 W+ ?( [/ X6.表面粗糙度和损伤
( ]3 A e% h4 S3 t7 Z( V7.多孔性，薄膜成份，结晶度（EMA模式）
6 }) I4 B' B# ]3 h: x0 w8.薄膜温度特性
$ d! R# a# U+ V- `( a! g6 K9.晶元曲率和薄膜耐压性$ B& `6 b( y* k3 M2 N, X% e( O& K
* o L5 X" Q/ p' \应用实例，上海***研发中心2007年成功引进SCI的FilmTek?2000。) v% ]' ~* Z1 ?. t
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6 K3 M! L: S1 A% \* Q# K8 Z, A8 R+ x详细信息请电话或邮件联系EMD上海办事处或前往SCI网站查询，联系方式如下：7 c/ `& d! r8 A7 e* d( L/ }
电话021-61021226转820/818 王小姐/陈先生
+ _ f/ b( H& L$ ?$ }邮件：wangdongmei@eccn.com / benchan@eccn.com& ]! K/ J7 I2 d, |% T
网址：http://www.emdeccn.com |
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发表于 2010-3-22 00:30:53
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