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各位大侠,本人在做双面AR,为了生产的方便,希望在优化时,front layer和 back layer对应起来,
# Q/ u; O |) T& w3 y: `- H' i9 d: Z* a: p( M9 O6 R
也即,在优化时,对应膜层厚度按相同比例变化,
0 g. d) \% K$ {9 p3 M6 |1 l2 X1 W6 w
结果是基材两侧的第一,第二,第三等膜层光学厚度和材料分别相同。
3 l& J( |4 S3 n) m1 R5 ~ \, t) F; v7 t- o9 w
例:% Y, M! d* r0 N* a# z2 @
* v- O. ~. N" j: i7 l
front layer :sub/20.54/31.98/93.34/111.67/air sub/zro2/sio2/zro2/sio2/air
% w/ B, S9 S" N
( R5 G4 b: N9 C" ?, lback layer :air/111.67/93.34/31.98/20.54/sub air/sio2/zro2/sio2/zro2/sub0 a- h' e" }* I* G% A) o# g5 M
8 A3 L9 z/ A$ P. q不知道,tfc有这种功能没有,在group里,我没有搞定
/ T* E! s5 K# r. o; J7 `8 t+ \, T* b& ?1 K
万分感激呀 |
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