薄膜培训班

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首 届 薄 膜 检 测 及 监 控 培 训 班 2010.03

【培训班背景】
1 {8 ?, G3 N4 g9 z! {中国真空网自2006年以来已在上海、深圳、杭州等地先后成功举办了八届“真空镀膜技术培训班”、为我国真空与镀膜产业培训了大批专业人才。学员普遍反应培训班突出了理论联系实际，针对产业发展的需要，信息量大，实用性强，在理论与实际技术两方面都得到了很大的收获。
然而，随着我国经济的持续发展和高新技术的不断涌现，对真空镀膜提出了更高的要求。在总结历届培训班成功经验的基础上，通过对毕业学员的问卷调查和电话回访，中国真空网了解到，作为真空镀膜和其它表面涂层技术的基础和重要组成部分的薄膜检测及监控是获得优良的功能薄膜的保证。为了满足镀膜行业对提高薄膜检测及监控的理论、改进薄膜检测及监控的实用技术的迫切要求，进一步促进薄膜新产品、新材料的研究和开发，中国真空网拟定于2010年3月举办首届薄膜检测及监控培训班，欢迎广大业内工程技术人员及大专院校、科研院所相关专业的人员参加。
　　中国真空网是中国科协所属的中国真空学会主办的唯一门户网站，本次培训班已列入中国真空学会2010年年度计划，并上报中国科技协会。
  }4 E6 N) N  i【宣传媒体】
　在中国真空网首页的会议信息、真空论坛、真空书店、培训信息等版块上进行发布。同时在《中国真空网》、《真空》、《真空电子技术》、《上海真空报》、各地方真空学会及相关的真空专业媒体上宣传。
【培训班内容】
$ }% k" ?0 }9 @/ y$ b※ 触针法（台阶仪）测量薄膜厚度的原理与技术
# c+ I1 _$ y/ X0 v& S※ 椭圆偏振法（椭偏仪）测量薄膜厚度和折射率的原理与技术
※ 石英晶体振荡法监控沉积薄膜的厚度和沉积速率的原理与技术
※ 极值法监控沉积光学薄膜厚度的原理与技术
9 z  [/ l+ t8 L8 h※ 反应溅射沉积薄膜的过程监控和等离子体发射光谱监控仪的应用
※ 四探针法（四探针测试仪）测定薄膜方块电阻和厚度的原理与技术
※ 介质薄膜的透视率、反射率、吸收系数和光谱特性的测试；分光光度计的测试原理及其应用
※ 薄膜的颜色；薄膜的颜色的表征及其测定
※ 薄膜对基体的附着机理；影响薄膜附着力的因素；薄膜附着力的测试方法
※ 薄膜的硬度及其测试方法；显微硬度计与划痕仪
※ 薄膜的耐磨特性及其测试方法
. c. \# I2 \# X/ A※ 薄膜的表面形貌与表面粗糙度；原子力显微镜（AFM）的测试原理及其应用
0 ~5 E) k9 K: @9 G- S3 I※ 薄膜的表面形貌与断面结构的观察；扫描电子显微镜(SEM)的工作原理及其应用
- y: a" s/ ?3 _2 h※ 俄歇电子能谱（AES）测定薄膜成分的原理与技术
4 `$ F, p" ^0 u& B※ 薄膜的结晶结构；X射线衍射（XRD）测定薄膜的结晶结构的原理与技术
% B/ J1 {3 D; @& I5 S) l% ^【授课专家】
' d6 X+ Z2 U: R& @本届培训班邀请从事薄膜科学和技术研究的高校著名教授和活跃在薄膜制备与分析第一线的国内知名厂商资深高级工程师进行讲授。　
【培训对象与要求】
- H6 M' s+ @2 r! ~$ u1 D. n- `& G薄膜行业的工程技术人员和大专院校、科研院所相关专业的研发人员。薄膜的检测与监控涉及到许多物理基础概念，有些内容有一定深度，因此要求参加培训的学员需具有大学本科的学历。

【报名及联系方式】
联 系 人：王小姐、蒋小姐
地 　址：上海市江宁路1306弄10号燕兴大厦1604室 邮 编：200060
电 话：021-62778259 /62463311 传 真：021- 62463350
热线电话：021-62463311/15021294600