EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品

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EMD代理美国SCI高精准薄膜度量 系统 与 软件分析 产品，
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美国SCI为世界薄膜度量系统和分析软件行业的领军者，
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' }# L: o1 [" w' _* n) @其产品广泛应用于半导体，OLED/LCD, 光电，数据存储，显示器，微型机电系统以及光附膜产业，SCI的薄膜特性度量系统品种丰富，从台式研发设备到全自动生产工具以及分析/设计软件应有尽有。
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1)    Film Wizard™ 软件 : 市面上功能最强大的，多用途，界面友好的薄膜测试模拟软件
" W; o! I, a2 a, Y/ E+ @
应用实例，目前已经有多套Film Wizard™软件应用于中国光电，半导体行业的研发和生产行业。
' I: ^0 @7 L/ J! M, t9 ?5 l
1 h1 O8 L/ U9 U& N0 b2) FilmTek™ 系统: 为SCI出产的基于分光光度技术的度量系统，有多种不同配置，配合不同需求.
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) @6 n: H" W$ l8 ^1.多层厚度（1Å 到 250 microns）
2.折射率n
3.吸收系数k
4.双折射率
5.能隙（Eg）
6.表面粗糙度和损伤
2 k! A1 b2 W- v! O% y7.多孔性，薄膜成份，结晶度（EMA模式）
8.薄膜温度特性
) h) O9 R/ n5 _0 K1 `9.晶元曲率和薄膜耐压性

& v- @9 F6 x/ v应用实例，上海***研发中心2007年成功引进SCI的FilmTek™2000。

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% ~) j: d1 |; K' |  o; p详细信息请电话或邮件联系EMD上海办事处或前往SCI网站查询，联系方式如下：
电话021-61021226转820/818    王小姐/陈先生
邮件：wangdongmei@eccn.com / benchan@eccn.com
网址：http://www.emdeccn.com