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EMD代理美国SCI高精准薄膜度量 系统 与 软件分析 产品，
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美国SCI为世界薄膜度量系统和分析软件行业的领军者，; z: s% B9 `- F7 R
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其产品广泛应用于半导体，OLED/LCD, 光电，数据存储，显示器，微型机电系统以及光附膜产业，SCI的薄膜特性度量系统品种丰富，从台式研发设备到全自动生产工具以及分析/设计软件应有尽有。 Z5 A1 \9 T* g7 _- X
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1) Film Wizard™ 软件 : 市面上功能最强大的，多用途，界面友好的薄膜测试模拟软件
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应用实例，目前已经有多套Film Wizard™软件应用于中国光电，半导体行业的研发和生产行业。
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2) FilmTek™ 系统: 为SCI出产的基于分光光度技术的度量系统，有多种不同配置，配合不同需求.
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1.多层厚度（1Å 到 250 microns）/ H2 P' c1 ~% X' X% i9 Y
2.折射率n
' n7 h, M9 S# K6 U3.吸收系数k# R0 L6 L3 f# |% w x
4.双折射率) y1 N% C* H+ P: W0 P/ K
5.能隙（Eg）
- x, O( h2 |. _8 D+ q& G+ m) B9 |6.表面粗糙度和损伤, d" l }9 ^: T# O
7.多孔性，薄膜成份，结晶度（EMA模式）
' x' G n$ ?# C+ B$ F8.薄膜温度特性
} V4 C2 J3 t$ [3 i; t9.晶元曲率和薄膜耐压性; H; L" I! v$ w3 X
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应用实例，上海***研发中心2007年成功引进SCI的FilmTek™2000。
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详细信息请电话或邮件联系EMD上海办事处或前往SCI网站查询，联系方式如下：" u% |8 m/ R7 q) H, H+ i
电话021-61021226转820/818 王小姐/陈先生
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发表于 2009-8-29 03:01:55
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