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发表于 2008-5-31 01:19:21
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利用TFC求膜层的N与K图文教程
# |. |" c. Q: ]- ~1． 首先利用晶控控制沉积单层膜，厚度约4－7个1/4个中心波长，，这里假设在K9基底上沉积单层ZnS薄膜，晶控显示厚度390nm； \\ __gi B
Z' `+ T" K# E8 Q& b9 G2． 然后利用分光光度计测量单层膜的反射率或透射率，测量范围最好宽些，这里测量400－1500nm，利用list选项导出所测量数据，并保存为TXT格式，这里命名ZnS.TXT,如图所示：
+ t: [9 X2 P9 ] H7b 2 1 B) v" {/ D6 _2 U/ P: F
3. 打开TFC，选择modify－materials . `. c4 a0 `% p L$ W5 m3 `/ a
M=~W`* / m; {. b! g4 Q+ t) q* l
4．继续选择Add Material,填写材料名称，选择合适的N与K的拟合公式，这里选择Cauchy与Sellmeier公式，如果不合适，可试选别的公式，点OK结束。 ( ~. J) W) s( A/ Y
2 Y! e" g& `* k
2 G2 g8 j' r( l, x- [/ o% k+ x
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