|
|
发表于 2008-5-31 01:19:21
|
显示全部楼层
利用TFC求膜层的N与K图文教程
/ ?0 W; F7 r6 b1． 首先利用晶控控制沉积单层膜，厚度约4－7个1/4个中心波长，，这里假设在K9基底上沉积单层ZnS薄膜，晶控显示厚度390nm； \\ __gi B q/ J3 v$ y) F* M- ~2 V) @
2． 然后利用分光光度计测量单层膜的反射率或透射率，测量范围最好宽些，这里测量400－1500nm，利用list选项导出所测量数据，并保存为TXT格式，这里命名ZnS.TXT,如图所示： ' c# \1 {' O* @1 L5 C" u
H7b 2 1
i! h5 v9 T' W: d; t! u8 y' x3. 打开TFC，选择modify－materials / ?8 ]( s6 N" o8 S7 k; Y- ~
M=~W`* * C6 q! x, p' h$ t2 p! _% }
4．继续选择Add Material,填写材料名称，选择合适的N与K的拟合公式，这里选择Cauchy与Sellmeier公式，如果不合适，可试选别的公式，点OK结束。
9 E+ {$ N; j, e. P6 f# G " D0 ~$ a8 F ?3 _- a- K6 T3 w7 L
Q, y4 m5 h" K
本文来自: 光学薄膜论坛http://coating.18ms.net/bbs/index.php 更多精彩等着您!eeeeee |
|
窥视卡
雷达卡
显身卡
