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用干涉显微镜测量薄膜厚度的分析
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(天津大学物理系)
5 L/ O- s( [- e7 x p+ A3 _ Q" K7 E$ H摘要
1 B# R% ~4 k" g. p" G5 K0 R6 Y摘要:分析了国产6JA 型干涉显微镜测量薄膜厚度所产生的误差,给出了修正系数及实验结果./ g3 _4 u- o! B6 Z, ~1 }
关键词:干涉显微镜,薄膜,厚度,波长,误差.0 p2 b4 l0 g1 K1 p1 d
中图分类号: TH742 |
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