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论文标题: Spectrum GX型傅立叶变换红外光谱仪在光谱测量中的几个常见问题 4 c$ f' o+ f% J$ H7 ~
2 Z+ j: W* Q6 e. c1 i8 Y作者: 张莉, 中国科学院上海技术物理研究所,上海,200083 李大琪, 中国科学院上海技术物理研究所,上海,200083 刘定权, 中国科学院上海技术物理研究所,上海,200083 ( D! u& D( Q. ~1 }) J( i' y$ U
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会议名称: 全国十五届十三省光学学会学术大会 3 x/ q1 O5 ?: ~# u# T
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主办单位: 中国光学学会 山西省光学学会
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2 K/ H9 h, F& S+ f会议时间: 20061000 ! Z! s7 B3 l# `( i
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会议地点: 太原 ; k) ?8 ^2 D9 O" c* }
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母体文献: 全国十五届十三省光学学会学术大会论文集
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出版时间: 20061000 5 T3 b, o( ^/ T( U; X) c2 H
4 F/ e% s. t# J# N$ L6 {页码: 276-280 ! e2 d6 O" M! o, U% Q! v
. x3 h& L/ R3 f/ t0 h关键词: 傅立叶变换 红外光谱仪 光谱测量 光学薄膜 4 I4 H8 J$ \ r/ Z& i. x
* ^% z! i/ D+ J, N' Q& v# E摘要: 本文以Spectrum GX型傅立叶变换红外光谱仪为例,对光学薄膜产品在光谱测量时的注意事项以及测量参数的选择做了分析,为改善测量精度提供参考. |
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