导电薄膜是目前薄膜研究的一个重要重要方向，如TCO，LOw-E等多个领域，除了关心其电阻外，如若讨论更深一步的问题，即机理问题或提高薄膜电阻率等，就不可避免的要涉及到薄膜载流子浓度及迁移率的测量。这方面的研究已经很多，其中van de Pauw方法是目前应用较多的一种薄膜hall效应测量方法。关于van de pauw的资料很多，可以从网上很容易的得到。这里给大家提供一个PPt，对Hall效应测量从原理和实验上进行了介绍，结合一定的基础，基本上可以按照讲义测量hall效应。希望是一份有意的材料，也可以和我沟通，也许能提供有用的建议。
窥视卡
雷达卡
发表于 2009-5-20 20:42:18
提升卡
置顶卡
沉默卡
喧嚣卡
变色卡
抢沙发
显身卡
