导电薄膜是目前薄膜研究的一个重要重要方向,如TCO,LOw-E等多个领域,除了关心其电阻外,如若讨论更深一步的问题,即机理问题或提高薄膜电阻率等,就不可避免的要涉及到薄膜载流子浓度及迁移率的测量。这方面的研究已经很多,其中van de Pauw方法是目前应用较多的一种薄膜hall效应测量方法。关于van de pauw的资料很多,可以从网上很容易的得到。这里给大家提供一个PPt,对Hall效应测量从原理和实验上进行了介绍,结合一定的基础,基本上可以按照讲义测量hall效应。希望是一份有意的材料,也可以和我沟通,也许能提供有用的建议。