【推荐】薄膜厚度测量仪 F20 (美国FILMETRICS)

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产品名称：
    F20 便携式膜厚测量系统
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* _8 A6 m4 n5 d产品简介：
    利用光谱反射原理,进行非接触式测量.可对薄膜厚度、n、k值进行测量.常规可测4层膜.有五种不同波长选择(波长范围从紫外220nm至近红外1700nm)。薄膜厚度的测量范围是： 3nm～250um，精度为0.1nm。
产品背景:
    美国FILMETRICS公司成立于1995年，总部位于美国加州的圣地亚哥，是经济、快速膜厚测量系统的顶尖制造商，FILMETRICS公司的产品曾获得全美“100项重大科技成就奖”和“25项新产品奖”。
- d1 l" ?3 P0 ~! ^9 A: V! {产品特性：   
    操作简单、使用方便；
    测量快速、准确；
$ s( M* s# x+ g' L) D: a2 H    体积小、重量轻；
) U) _5 U/ E( F% P4 n3 y    价格便宜；
产品应用：
    半导体行业:光阻、氧化物、氮化物；
1 E  W' W8 [: c9 m  \9 x  o6 b4 r    LCD行业:液晶盒间隙厚度、 Polyimides；
8 T2 C- M) L2 y  ^1 q    光电镀膜应用:硬化膜、抗反射膜、滤波片
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联系方式:
3 A. M+ C! |0 v. Y北京高光科技有限公司   
联系人: 田小姐
: L6 O0 r6 G, y7 @* |" k8 AE-mail: ty@clight.com.cn
* p# |: J# V% Q! D7 q3 @" G+ j2 N3 y电  话: 010-58816816
  f7 d4 h0 \- S  z( U" N6 `网 址: http://www.clight.com.cn

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3 f6 ~$ _0 u$ f& t- i. G联系方式: un4fnoc  
北京高光科技有限公司 P;o  {t  
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E-mail: ty@clight.com.cn cc3B}^@p=  
电  话: 010-58816816 Xdx8HB@L  
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