【推荐】薄膜厚度测量仪 F20 (美国FILMETRICS)

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产品名称：
7 [" V# I& ~( a0 C+ G9 C2 e% i    F20 便携式膜厚测量系统
- R% C; m* H5 E5 L  N   
产品简介：
    利用光谱反射原理,进行非接触式测量.可对薄膜厚度、n、k值进行测量.常规可测4层膜.有五种不同波长选择(波长范围从紫外220nm至近红外1700nm)。薄膜厚度的测量范围是： 3nm～250um，精度为0.1nm。
/ l  p  ^3 i% @# Y7 n: [7 y! X产品背景:
    美国FILMETRICS公司成立于1995年，总部位于美国加州的圣地亚哥，是经济、快速膜厚测量系统的顶尖制造商，FILMETRICS公司的产品曾获得全美“100项重大科技成就奖”和“25项新产品奖”。
8 {! z. c) A1 ^" `4 t1 m1 P产品特性：   
    操作简单、使用方便；
1 `$ {9 x$ D. k$ Z) n% h8 m  M    测量快速、准确；
    体积小、重量轻；
    价格便宜；
: ^  \) O  V# u. Q产品应用：
    半导体行业:光阻、氧化物、氮化物；
    LCD行业:液晶盒间隙厚度、 Polyimides；
    光电镀膜应用:硬化膜、抗反射膜、滤波片
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7 z% }" p6 Q( Q) U+ s. a$ h4 S>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>
+ S* ^, O% }) b: ]联系方式:
北京高光科技有限公司   
0 K, H6 C2 n7 ^# Q8 M联系人: 田小姐
4 ~/ S7 Z6 s( u4 ?# L* ~! o  AE-mail: ty@clight.com.cn
- i7 K8 d4 j+ l# D; i1 J1 c电  话: 010-58816816
9 c3 T$ T7 C) w7 n4 j" n网 址: http://www.clight.com.cn

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人过留名，雁过留声。
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  B$ i. Q3 V& I/ d- W5 O# N联系方式: un4fnoc  
北京高光科技有限公司 P;o  {t  
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