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产品名称: " u7 _7 Q- `/ G) r( X' M& G( A3 T
F20 便携式膜厚测量系统
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产品简介:
. w; s4 R/ e2 ] 利用光谱反射原理,进行非接触式测量.可对薄膜厚度、n、k值进行测量.常规可测4层膜.有五种不同波长选择(波长范围从紫外220nm至近红外1700nm)。薄膜厚度的测量范围是: 3nm~250um,精度为0.1nm。 9 e& X0 s5 l, h1 ~( o: r1 y
产品背景:
7 }- r, G" n0 X 美国FILMETRICS公司成立于1995年,总部位于美国加州的圣地亚哥,是经济、快速膜厚测量系统的顶尖制造商,FILMETRICS公司的产品曾获得全美“100项重大科技成就奖”和“25项新产品奖”。
z" L" i( P2 T$ f$ ^, V3 v* e产品特性: ' Y0 t6 Y2 p! W, x, Q/ Y+ \' K& |* ^
操作简单、使用方便;
# p, B4 j4 n% F7 s5 ^ 测量快速、准确;
% E, i# y6 N) X! x2 ~- ]/ e 体积小、重量轻; # U" h8 d- F( a
价格便宜; ; M" O6 e# v5 B# h v( { m; w
产品应用:
0 D& f, X e8 R( R$ D' R* `" H) n 半导体行业:光阻、氧化物、氮化物; - H# \! d# C- u" C S
LCD行业:液晶盒间隙厚度、 Polyimides; - D" p& n# a/ S& `8 S
光电镀膜应用:硬化膜、抗反射膜、滤波片 5 b0 T5 I% M, ~) m! d4 T, A2 R
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联系方式: # J0 v; J. k( Z8 c* \
北京高光科技有限公司 * o7 v f4 J5 h, N' V8 j
联系人: 田小姐 ; y% v' a" z- \, w
E-mail: ty@clight.com.cn
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