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光学薄膜测量仪(膜厚仪)F20(北京高光科技)

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发表于 2009-1-8 06:06:18 | 显示全部楼层 |阅读模式
产品名称:
8 Y9 C2 j; A' L" y: q8 q    F20 便携式膜厚测量系统: A- T' E2 Q$ {& }9 t8 Y
   
( W( W" I; R' P7 Q- Z产品简介:
5 a; u2 d+ T$ I% a- J    利用光谱反射原理,进行非接触式测量.可对薄膜厚度、n、k值进行测量.常规可测4层膜.有五种不同波长选择(波长范围从紫外220nm至近红外1700nm)。薄膜厚度的测量范围是: 3nm~250um,精度为0.1nm。
& n* y1 J4 d- L/ x. t0 H产品背景:
- Z( j3 T$ n5 [$ A) S4 X- S    美国FILMETRICS公司成立于1995年,总部位于美国加州的圣地亚哥,是经济、快速膜厚测量系统的顶尖制造商,FILMETRICS公司的产品曾获得全美“100项重大科技成就奖”和“25项新产品奖”。1 ~& P1 l% C) t6 j* F6 p
产品特性:   
3 F& q& e- F* ]' {* ], H- m    操作简单、使用方便;8 w4 [# j. ?- s
    测量快速、准确; 1 I. g$ w- P$ `
    体积小、重量轻;
0 J5 |% W" Z* y6 ~5 F# e; D    价格便宜; 5 C" m& A: M  s- a& z
产品应用: 8 R$ s0 X0 I/ d# B& t+ K, g/ Y2 M/ _
    半导体行业:光阻、氧化物、氮化物; & s0 `& J+ ]( n" _/ p+ [
    LCD行业:液晶盒间隙厚度、 Polyimides;
6 s# M/ |- X$ n: e    光电镀膜应用:硬化膜、抗反射膜、滤波片 7 P3 l7 C( d, d. i* N
>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>> 0 M# w# Y' _/ l1 S! ~
联系方式:  + V- O+ e& r3 a7 o2 x; C
北京高光科技有限公司
+ Q6 t7 H% `# n" M1 j- ~# I1 G联系人: 田小姐
# R5 V: u' J3 v% ~E-mail: ty@clight.com.cn
# f9 O; @7 t* R- [0 \1 I电  话: 010-58816816 7 v0 r  q5 Q+ o' Z+ S: T
网 址: http://www.clight.com.cn

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 楼主| 发表于 2009-1-8 06:07:07 | 显示全部楼层
产品名称:
* X1 z$ m2 H9 B7 v" ~# E8 v( }    F20 便携式膜厚测量系统; A2 o9 J5 N. `5 ^1 _  v

* p: [7 N- T& H3 A: X. L( h产品简介:
1 W; M* F- J8 w4 T  g* l    有五种不同波长选择(波长范围从紫外220nm至近红外1700nm)。薄膜厚度的测量范围是: 3nm~250um,精度为0.1nm。$ d% S( k! x$ N3 m
产品特性:
. k. A3 ~" T+ D* P' k    操作简单、使用方便;5 g$ Y- D6 B9 e
    测量快速、准确;2 v6 l0 |0 T3 E1 P) s
    体积小、重量轻;
' D6 R) G6 |$ B9 `7 G; p! ]1 b    价格便宜;
7 I/ J4 {6 l& x6 C5 U. v" K产品应用:" s4 m8 w6 P: ~- A
    半导体行业:光阻、氧化物、氮化物;2 X1 s# [/ b/ v3 A; C' J! {+ z
    LCD行业:液晶盒间隙厚度、 Polyimides;
9 ^+ Y+ F. k4 V* z    光电镀膜应用:硬化膜、抗反射膜、滤波片4 t8 P1 X- i8 q! }. U- c- c8 }
>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>! H' P3 {: O5 [! Q# `
联系方式:5 B6 d8 x* g6 \
北京高光科技有限公司
# T+ A+ Z* m" i/ ^联系人: 田小姐
6 k" c/ B5 @/ @E-mail: ty@clight.com.cn) J4 A+ b3 j2 d0 s3 ], w4 M2 l
电  话: 010-58816816% z8 f' X/ e1 D. X! [
网 址:http://www.clight.com.cn
 楼主| 发表于 2009-1-8 06:23:28 | 显示全部楼层
产品名称:) J* ]0 O6 {; S+ I- E/ T
    F20-HC 经济型高级膜厚测量系统
* ]1 o0 F+ F) E8 H5 @7 a& M. ?' U- U0 _
产品简介:& C. u! V- C& ?" n
    是在F20系统的基础上在软件中采用了仿真计算来测试单层或多层膜,波长范围是400~1000nm,薄膜厚度的测量范围是: 0.1~50um,精度好于0.4%。
* a9 O8 w% N$ b# ?  G应用领域:' R% G& p; e* z6 s" l7 ~) T
    硬化膜、曲面薄膜、宽带增透膜(AR-Coating)
! y1 _0 w2 @- S& g+ t7 p / h" k7 v# ]7 C8 ^
>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>> : m# w8 S% k& G( s
联系方式: 北京高光科技有限公司
9 W. M" S7 W( @6 W/ y4 n联系人: 田小姐 / B9 x. T  m# Y( N. N
E-mail: ty@clight.com.cn 4 u# P) @% J6 u# d; `
电  话: 010-58816816
( y( y; I1 S) q. R+ g网 址:http://www.clight.com.cn
 楼主| 发表于 2009-1-15 05:49:36 | 显示全部楼层
顶~~~~~~~~~~~~
 楼主| 发表于 2009-1-19 22:53:19 | 显示全部楼层
提前祝大家新年快乐,身体健康,工作顺利!祝我们的论坛人气越来越旺!
 楼主| 发表于 2009-3-10 07:06:31 | 显示全部楼层
如果您对我们的产品感兴趣,您可以按以下联系方式联系我,或者可以寄样品给我,我们可以免费为您测量.
+ U+ X7 t5 p- \2 G, y>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>> + Q0 Q8 k2 w* B) \. L  t
联系方式:
0 o3 c/ C, K/ m$ o北京高光科技有限公司" m" }7 M& c2 {. Y% ^$ H6 _
联系人: 田小姐
& E" a# t: @2 m3 v; tE-mail: ty@clight.com.cn . c! _3 R) a+ m! T$ A" f
电  话: 010-58816816
* }  c9 C3 p; w3 n  q7 @- F5 Z1 S网 址:http://www.clight.com.cn
 楼主| 发表于 2009-7-16 23:34:34 | 显示全部楼层
如果您对我们的产品感兴趣,您可以按以下联系方式联系我,或者可以寄样品给我,我们可以免费为您测量
) z! T8 {4 V3 a+ G( @( S- u; v- V联系方式: & ?( K$ ^% J; n$ Z: v
北京高光科技有限公司
. f. R' e) T9 f( U- p% e联系人: 田小姐
# o- [) \+ h4 H7 l( XE-mail: ty@clight.com.cn
0 [/ y5 t7 v( w4 H+ M, t电  话: 010-58816816 $ @9 h  x- ?' ]" M( n( O5 A
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 楼主| 发表于 2009-12-12 05:00:59 | 显示全部楼层
产品名称: TG'A'wXxy  6 C- Q% d* ^, K! T, }/ s
    F20 便携式膜厚测量系统 3{ `fT5]U  
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产品简介: .\\i9}ye  3 Q; P, g) [8 h! e  b
    有五种不同波长选择(波长范围从紫外220nm至近红外1700nm)。薄膜厚度的测量范围是: 3nm~250um,精度为0.1nm。 tV%M2 DxS  
& m" g, `7 V' X: S产品特性: ;c~6^s`2  
9 n  c2 h7 C" a6 ?" X! s/ B    操作简单、使用方便; :0V<  0 [4 c1 B4 M2 I4 g2 _
    测量快速、准确; /J1O {L  
! m2 {7 c4 R) S1 ?# Q4 x    体积小、重量轻; }9{6{TD  
* ~# O2 e8 c1 Y& m! P: L    价格便宜; :MpIx&  - j; J. O% r1 [9 W8 f
产品应用: "o% N`Xlx  , `7 W& Y# R$ u9 o8 a
    半导体行业:光阻、氧化物、氮化物; hE+6z%A8  & W. f# Q# K' m/ f" d
    LCD行业:液晶盒间隙厚度、 Polyimides; 7*uG9iX  
* |- A, J) p0 t, q- e& Z    光电镀膜应用:硬化膜、抗反射膜、滤波片 j[9xF<I  2 C: H5 A% o' r) \* o) `1 R
>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>> ;OE{&  " l; ?" [9 y* M
联系方式: {WT"\\Xj>B?  
4 E- Q( P  f1 C: A3 A/ ?% @: a北京高光科技有限公司 }yC ve  " }6 I8 c: Y1 j* n6 u: I4 y
联系人: 田小姐 %TvunV7NQS  
  F; ^  t7 x* A" N  Y) qE-mail: ty@clight.com.cn AZxOq !B  
6 s$ Z* r: U7 E9 ]3 ?. Q电  话: 010-58816816 q^>$YY>F  # K2 x! n8 N0 h7 S% T
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发表于 2009-12-15 23:16:46 | 显示全部楼层
3nm以下的薄膜厚度就测得不准了吗?还是?
 楼主| 发表于 2009-12-17 00:54:38 | 显示全部楼层
回复8楼的朋友:* |7 M2 ]1 f  e' ~( J0 z9 Q
仪器最薄只能测到3nm的厚度      也就是说测量范围是 3nm~250um    如果薄膜厚度小于3纳米,测量肯定是不准的了。
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