光学薄膜测量仪（膜厚仪）F20（北京高光科技）

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产品名称：
    F20 便携式膜厚测量系统
( D' d( _; t  o* i9 [# n6 S   
产品简介：
    利用光谱反射原理,进行非接触式测量.可对薄膜厚度、n、k值进行测量.常规可测4层膜.有五种不同波长选择(波长范围从紫外220nm至近红外1700nm)。薄膜厚度的测量范围是： 3nm～250um，精度为0.1nm。
) E, z" ~7 _. r- a0 _- _产品背景:
' A4 L) a# x& n1 j    美国FILMETRICS公司成立于1995年，总部位于美国加州的圣地亚哥，是经济、快速膜厚测量系统的顶尖制造商，FILMETRICS公司的产品曾获得全美“100项重大科技成就奖”和“25项新产品奖”。
+ w" H6 |8 ]; t& J' H$ I2 t  @: T% M- a产品特性：   
    操作简单、使用方便；
    测量快速、准确；
" q+ U5 T+ O" q  h4 t1 C    体积小、重量轻；
    价格便宜；
" \1 y! m; e5 c; M' Y9 s" [- P产品应用：
0 {  H9 {, {+ g! p    半导体行业:光阻、氧化物、氮化物；
  A# j3 ?7 C" R  S8 s# |3 P9 x    LCD行业:液晶盒间隙厚度、 Polyimides；
    光电镀膜应用:硬化膜、抗反射膜、滤波片
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联系方式:  
( G. R0 a# F8 g& b北京高光科技有限公司
) O& U; ~% E: c- F% ~7 d, h/ w6 T联系人: 田小姐
& ]; ?$ h# B% I4 @! ME-mail: ty@clight.com.cn
. k5 y" V' g/ W; r4 T电  话: 010-58816816
  }5 a( W$ }  ^% ]2 t" s5 Q0 @网 址: http://www.clight.com.cn

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产品名称：
    F20 便携式膜厚测量系统
; S6 K3 J/ l, P- i: H! _
5 B) A6 n* T) W  k' ?' b4 `产品简介：
    有五种不同波长选择(波长范围从紫外220nm至近红外1700nm)。薄膜厚度的测量范围是： 3nm～250um，精度为0.1nm。
, V5 [! ?+ f+ K# D( B( `1 `产品特性：
    操作简单、使用方便；
    测量快速、准确；
    体积小、重量轻；
# L' o! X7 ?! y4 K    价格便宜；
产品应用：
. v' `' g) M" c) B) O    半导体行业:光阻、氧化物、氮化物；
( H! G) U. g4 {; ^5 n, W6 l  ^    LCD行业:液晶盒间隙厚度、 Polyimides；
0 N2 Q2 A' N, H9 p. e0 _    光电镀膜应用:硬化膜、抗反射膜、滤波片
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. B( h0 l; c  F% |" S联系方式:
8 a2 r5 H* c0 }; O& q北京高光科技有限公司
联系人: 田小姐
- Z, @& ~* H2 J* g8 `: NE-mail: ty@clight.com.cn
7 Q) W/ I  Y" F( s; }2 U7 j5 t电  话: 010-58816816
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产品名称：
    F20-HC 经济型高级膜厚测量系统
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产品简介：
) r& E, Z& W; n    是在F20系统的基础上在软件中采用了仿真计算来测试单层或多层膜，波长范围是400～1000nm，薄膜厚度的测量范围是： 0.1～50um，精度好于0.4%。
; c1 A- P9 V% r* c+ J应用领域：
7 L/ ?3 G& |/ l4 O, l9 C6 v    硬化膜、曲面薄膜、宽带增透膜（AR-Coating）

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; e6 J; v8 V1 \. ~% w联系方式: 北京高光科技有限公司
联系人: 田小姐
" g: L: X% R# V6 h. lE-mail: ty@clight.com.cn
电  话: 010-58816816
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如果您对我们的产品感兴趣,您可以按以下联系方式联系我,或者可以寄样品给我,我们可以免费为您测量.
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* ]- r+ k1 K$ f; E, G联系方式:
7 @5 g' e, A, x! N北京高光科技有限公司
# a/ g: t; Q% {) u+ K联系人: 田小姐
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电  话: 010-58816816
网 址:http://www.clight.com.cn

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北京高光科技有限公司
) M. f. k6 i! p9 x) S联系人: 田小姐
: @+ @/ k1 H: {' m" f6 C% w5 OE-mail: ty@clight.com.cn
电  话: 010-58816816
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产品名称： TG'A'wXxy  
2 F6 |9 T; y' j" K# _    F20 便携式膜厚测量系统 3{ `fT5]U  
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% s. Q6 C8 k$ ^! W0 T& ^& s产品简介： .\\i9}ye  
    有五种不同波长选择(波长范围从紫外220nm至近红外1700nm)。薄膜厚度的测量范围是： 3nm～250um，精度为0.1nm。 tV%M2 DxS  
产品特性： ;c~6^s`2  
    操作简单、使用方便； :0V<  
    测量快速、准确； /J1O {L  
8 z  }6 o1 l& {* a) q( Y    体积小、重量轻； }9{6{TD  
+ c  Q- M$ S' H    价格便宜； :MpIx&  
产品应用： "o% N`Xlx  
    半导体行业:光阻、氧化物、氮化物； hE+6z%A8  
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4 V2 C, a- T! B6 U. u    光电镀膜应用:硬化膜、抗反射膜、滤波片 j[9xF<I  
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weimao_liu

3nm以下的薄膜厚度就测得不准了吗？还是？

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回复8楼的朋友：
仪器最薄只能测到3nm的厚度      也就是说测量范围是 3nm～250um    如果薄膜厚度小于3纳米，测量肯定是不准的了。