光学薄膜测量仪（膜厚仪）F20（北京高光科技）

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产品名称：
; O$ u1 t. f; S3 x# b0 c    F20 便携式膜厚测量系统
   
产品简介：
    利用光谱反射原理,进行非接触式测量.可对薄膜厚度、n、k值进行测量.常规可测4层膜.有五种不同波长选择(波长范围从紫外220nm至近红外1700nm)。薄膜厚度的测量范围是： 3nm～250um，精度为0.1nm。
产品背景:
' ]" v3 g5 L% J; P7 g    美国FILMETRICS公司成立于1995年，总部位于美国加州的圣地亚哥，是经济、快速膜厚测量系统的顶尖制造商，FILMETRICS公司的产品曾获得全美“100项重大科技成就奖”和“25项新产品奖”。
4 \8 ?; n4 M  A9 ~7 h产品特性：   
. a: @. V0 |) b6 {) ^. d+ v    操作简单、使用方便；
: |2 N# B7 a) K* p6 p9 [  t    测量快速、准确；
! ?. h& _, l2 m* p+ s    体积小、重量轻；
    价格便宜；
! L, h! h& v+ J: J! \产品应用：
- W: M, ]8 N% }: T0 t8 P; R    半导体行业:光阻、氧化物、氮化物；
5 f5 u# o+ w6 C) A( w0 u    LCD行业:液晶盒间隙厚度、 Polyimides；
. `0 f. o- f) `2 S" W    光电镀膜应用:硬化膜、抗反射膜、滤波片
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" ], a. |( b/ @1 Y' ~: T( |% I/ o联系方式:  
, h+ v8 u7 |0 P/ f北京高光科技有限公司
联系人: 田小姐
E-mail: ty@clight.com.cn
8 q( K$ h: l" }7 B) j0 Q4 x电  话: 010-58816816
; E( `' c  Z5 ]  z4 X网 址: http://www.clight.com.cn

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产品名称：
    F20 便携式膜厚测量系统
& L( V/ v$ [3 H2 O$ f6 V
, R+ O7 m) C3 |产品简介：
    有五种不同波长选择(波长范围从紫外220nm至近红外1700nm)。薄膜厚度的测量范围是： 3nm～250um，精度为0.1nm。
产品特性：
" j$ o: z8 _) G6 Q  b    操作简单、使用方便；
    测量快速、准确；
    体积小、重量轻；
    价格便宜；
- c& R  T. A8 Q; K产品应用：
. n0 N5 W2 K% b' T5 k    半导体行业:光阻、氧化物、氮化物；
    LCD行业:液晶盒间隙厚度、 Polyimides；
0 h" s( P! V# Z3 W    光电镀膜应用:硬化膜、抗反射膜、滤波片
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& }9 a. G- q+ n2 u; a4 E$ }联系方式:
. D5 x8 k) q$ q+ j北京高光科技有限公司
联系人: 田小姐
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8 Z! B# [, q* S0 t" Y7 W电  话: 010-58816816
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产品名称：
- I# D4 z% `* x    F20-HC 经济型高级膜厚测量系统
: D; y2 Q3 _+ H2 e  f9 L8 K( V# |
8 l; k$ c' J0 e& J7 F3 m产品简介：
" y3 A" T8 Y9 B6 g5 J    是在F20系统的基础上在软件中采用了仿真计算来测试单层或多层膜，波长范围是400～1000nm，薄膜厚度的测量范围是： 0.1～50um，精度好于0.4%。
应用领域：
+ F7 r, V! v2 w; Y# |: v    硬化膜、曲面薄膜、宽带增透膜（AR-Coating）
: I( S$ E" _: G" U9 ]" C
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联系方式: 北京高光科技有限公司
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如果您对我们的产品感兴趣,您可以按以下联系方式联系我,或者可以寄样品给我,我们可以免费为您测量.
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" R( }8 V" A! X8 b北京高光科技有限公司
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9 ]0 z/ |3 H- s0 a2 D  s# x, Y9 e6 A电  话: 010-58816816
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8 _; F7 b1 V0 p! q% j2 u* t北京高光科技有限公司
9 Y* G% O; ~5 L, u联系人: 田小姐
1 B1 f' i0 x, J4 q* C( sE-mail: ty@clight.com.cn
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3 J& M4 X$ r2 {% o    有五种不同波长选择(波长范围从紫外220nm至近红外1700nm)。薄膜厚度的测量范围是： 3nm～250um，精度为0.1nm。 tV%M2 DxS  
, X+ f2 Z' n( _, I* q- q8 i8 c产品特性： ;c~6^s`2  
1 O1 w& k2 P6 N    操作简单、使用方便； :0V<  
    测量快速、准确； /J1O {L  
    体积小、重量轻； }9{6{TD  
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产品应用： "o% N`Xlx  
    半导体行业:光阻、氧化物、氮化物； hE+6z%A8  
    LCD行业:液晶盒间隙厚度、 Polyimides； 7*uG9iX  
* J, V. f3 ^# ~% O* Q    光电镀膜应用:硬化膜、抗反射膜、滤波片 j[9xF<I  
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weimao_liu

3nm以下的薄膜厚度就测得不准了吗？还是？

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回复8楼的朋友：
仪器最薄只能测到3nm的厚度      也就是说测量范围是 3nm～250um    如果薄膜厚度小于3纳米，测量肯定是不准的了。