全自動光學監控離子輔助蒸鍍系統 % P( L1 x: i7 f% Q! B' |( @6 B, D. k
全自動光學膜厚控制是預先估算膜厚與穿透率或光譜的關係,利用光源、光機的結構,量取穿透率換算為膜厚的變化量,在製程中即時量取穿透率或光譜與預估結果比對藉以控制膜厚。日前公司已自工研院光電所技術移轉此技術,並將程式修改而大幅提升解析度與穩定性,膜厚監控系統的波長解析度提升至1nm,穿透率的雜訊約0.2%以下,以提高鍍膜產品的品質與良率,並且視窗化人機操作介面,全自動且可調整彈性製程參數的設計,並配合離子輔助蒸鍍系統,而成為高品質且具競爭優勢的鍍膜量產機台。下圖是全自動光學系統的示意圖。