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NanoCalc是一款功能强大，配置丰富的薄膜测量系统，是快速，可靠，便捷的测量透明和半透明薄膜的理想工具。对于不同的层状和衬底样品，样品的测量厚度可以从10nm到几百微米。从250nm(UV)到1100nm(NIR)的超宽光谱范围，配合灵活的仿真算法，使得仪器不仅可以测量氧化物，氮化物等标准样品，也可用于测量类似硅晶元和玻璃等的理想衬底。3 {* M# m0 e* s, B8 P3 N
3 L: ?. Q) z1 V; [8 l依靠粗糙和缺陷许可算法，NanoCalc-2000同样适合于在广泛的医学，消费品和工业领域的非光学应用。Tyvek和镀在金属上的透明膜层的临界钝化和硬度(DLC-金刚石碳)的测量，还有在粗糙钢面上的薄层的测量都可以轻松的进行。' B. `- e; ~1 O- h* |/ ~- a- U
* n6 |/ Z9 ^# M8 M% M4 t0 J8 {* E高速测量和灵活的光纤探头位置使得将系统整合到已有的机器设备中成为可能，例如适合与几乎所有的显微镜和in-situ过程控制。用于短多层堆栈的测量附件，带有马达驱动的150mm或300mm的3维厚度绘图附件，在线测量和基于ActiveX的远程控制都是可选组件。
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发表于 2006-1-6 13:41:53
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