棱镜耦合仪测量薄膜参数的注意事项

wellwater

我在玻璃上制备了一层薄膜材料（玻璃衬底的折射率比薄膜的高），寄到外单位请求用棱镜耦合仪测量该薄膜的折射率和厚度。
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: t) H5 w" ^# }! l5 H- V但是样品被退回，说不能测，理由是薄膜形貌不好，厚度不够。
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$ u1 P0 k* l1 X! g0 I但是我认为是因为没有制备成波导的缘故，也就是说（玻璃）衬底的折射率应比薄膜的低。模式本征方程也支持这一点。
6 C  d, O( B" N. y而我的同事都认为不是这个原因，不需要制备成波导结构。
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/ k" K1 j9 b' H4 I在这里，想请教下有使用过、或者熟悉棱镜耦合仪的大虾们，使用棱镜耦合仪测量薄膜折射率和厚度，是否需要将衬底材料的折射率小于待测薄膜材料的折射率？
4 m! O( d$ b. E0 b7 s谢谢咯～！

111220013

不知道，但也顶以下！！希望能者能帮忙解答