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我在玻璃上制备了一层薄膜材料(玻璃衬底的折射率比薄膜的高),寄到外单位请求用棱镜耦合仪测量该薄膜的折射率和厚度。
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但是样品被退回,说不能测,理由是薄膜形貌不好,厚度不够。
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但是我认为是因为没有制备成波导的缘故,也就是说(玻璃)衬底的折射率应比薄膜的低。模式本征方程也支持这一点。& b6 a; O. P' m9 u4 }4 D: t2 H
而我的同事都认为不是这个原因,不需要制备成波导结构。$ B' d% `$ Q8 s T
1 q/ g/ R: b4 S' |- Z在这里,想请教下有使用过、或者熟悉棱镜耦合仪的大虾们,使用棱镜耦合仪测量薄膜折射率和厚度,是否需要将衬底材料的折射率小于待测薄膜材料的折射率?& y% ]4 |5 D+ h a
谢谢咯~! |
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