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各位前辈,我们都知道,镀膜最重要的两个参数之一是膜层厚度.因此如何控制膜层厚度接近理论设计值,就显得非常重要.大家都知道,目前国内的不论是光控还是晶控都是监测的是膜层厚度,不管是物理的,几何的还是光学的,这些实际做出来的结果和理论值的差距都是蛮大的.% R! |, a( X8 D# {: e# p# f
现在莱宝镀膜机膜厚控制系统采用的是宽光谱实时监测系统,就是采用监测镀制膜层的光学特性,而不是膜层厚度,这个可以说是一个里程碑,可能从这里开始,监测膜层厚度的时代即将成为历史.这个可以说是莱宝公司的一个核心技术,目前,国内的镀膜机厂家几乎是做不出来的.- L5 T* d/ Q$ e) L
晚辈这些话是现学现卖,班门弄斧.不过只是想抛砖引玉,希望前辈多多指点.
2 u% C! g. M; T) p. M5 j 晚辈想问的问题是:
6 ?1 ~ m# ]4 V' g 1.莱宝机子本身就装有膜系设计软件,可以实时评价镀制膜层的光学性能,然后对缺陷进行后 续弥补吗?4 a" T D H, D; ~7 \2 H4 v2 O
2.如果是这样子,是不是说,以后的膜系设计就可以很不费劲的变成实际的产品?
7 ]1 ]6 R f5 t- C 希望大师给予指点! |
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