显微图像的光学薄膜缺陷密度统计

显示全部楼层 · 发表于 2007-3-18 03:31:46

[/free]显微图像的光学薄膜缺陷密度统计
薄膜表面缺陷密度统计是改进薄膜表面质量的重要依据。阐述了基于遗传算法的二维最大熵分割算法的原理及实现步骤。采用这种算法对薄膜缺陷图像进行分割，对分割后的图像进行了薄膜缺陷密度的测量。实验结果表明，这种方法对薄膜表面缺陷提取简单且易于测量，为分析缺陷原因提高薄膜质量起到重要的指导作用。
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60m · 发表于 2007-6-27 07:10:34

没看到不知是否值得啊？

hanz · 发表于 2007-6-30 04:01:43

有没有免费的提供啊？

nanajj76 · 发表于 2010-9-21 03:53:18

不顶不是我性格！！！！！！！！！！！！！！！！

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gds 该用户已被删除	发表于 2007-3-18 03:31:46 \| 显示全部楼层 \|阅读模式 [/free]显微图像的光学薄膜缺陷密度统计薄膜表面缺陷密度统计是改进薄膜表面质量的重要依据。阐述了基于遗传算法的二维最大熵分割算法的原理及实现步骤。采用这种算法对薄膜缺陷图像进行分割，对分割后的图像进行了薄膜缺陷密度的测量。实验结果表明，这种方法对薄膜表面缺陷提取简单且易于测量，为分析缺陷原因提高薄膜质量起到重要的指导作用。 [free] 购买主题本主题需向作者支付 5 RMB金钱才能浏览
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