高精度薄膜光学测量仪器FilmTek系列产品

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高精度薄膜光学测量仪器FilmTek系列产品
可测参数：
+ n$ n9 C$ W8 A8 y1）单层或多层薄膜(可达50层)，厚度 （<1Å to 250 um)
9 G0 x$ v$ r/ w7 H) y) Q2）反射率R和透射率T
# Y# V( p: `/ I( p3）折射率n和吸收系数k
4）能带间隙
5）表面粗糙度和损伤度
7 D5 A9 h! m0 e6）成份和结晶程度
适用于高精度的薄膜量测，广泛应用于OLED, LCD, 半导体行业和光电行业等。