高精度薄膜光学测量仪器FilmTek系列产品

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高精度薄膜光学测量仪器FilmTek系列产品
可测参数：
1）单层或多层薄膜(可达50层)，厚度 （<1Å to 250 um)
2）反射率R和透射率T
9 x8 t3 g* G$ a; k3）折射率n和吸收系数k
- \0 g9 z& d* a4）能带间隙
4 W$ ]( Q% K+ Z5）表面粗糙度和损伤度
6）成份和结晶程度
适用于高精度的薄膜量测，广泛应用于OLED, LCD, 半导体行业和光电行业等。