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日开发出正电子纳米显微技术

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发表于 2006-9-23 02:44:11 | 显示全部楼层 |阅读模式
<><xoYu_CMS_CODE:NEWS:NEWS_INFO><>    新华网东京8月9日电(记者 钱铮)日本原子能研究开发机构开发出一种正电子纳米显微新技术。它可利用正电子束,对表面纳米物质内部的原子排列精密观测,这项技术将帮助开发新的表面纳米技术。 </P>, m. _; f9 W; N

0 W6 E. J2 c* W, A, ~5 w7 M<>    表面纳米技术是纳米材料技术与表面技术相交叉的高新技术,指通过表面技术处理纳米材料,使金属或非金属表面形成纳米层。这种纳米层具备高硬度、耐磨、耐腐蚀和耐高温等特性。 </P>: c3 |6 ~- o. Y0 g) ~! X5 _
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<>    这种纳米层的组成物质被称为表面纳米物质。表面纳米物质是未来半导体产业的尖端材料,高精度显微技术是研究这种尖端材料的首要工具。然而,普通的显微设备都会探测进入物体内部,不可能只对表面的纳米层进行观测,这影响了观测的精度。 </P>2 @, g) u# e5 A" E; e1 e& r1 _

. ^" D! ]0 `/ c1 U+ O<>    根据原子能研究开发机构日前发布的新闻公报,该机构一直致力于开发正电子束显微技术。由于电荷的斥力,带正电荷的正电子束难以进入物体内部,而是在物体表面被全部反射。利用这一特性,科学家开发出了这种显微新技术。 </P>! l* V9 I8 y1 p$ }

' G" c8 q, N5 @7 I4 u<>    据研究人员说,他们在试验中利用正电子束照射覆盖在硅表面厚约0.2纳米的超薄银膜,并完全看清了这种表面纳米物质的原子排列。(完)</P>
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