日开发出正电子纳米显微技术

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<><xoYu_CMS_CODE:NEWS:NEWS_INFO><>    新华网东京８月９日电（记者 钱铮）日本原子能研究开发机构开发出一种正电子纳米显微新技术。它可利用正电子束，对表面纳米物质内部的原子排列精密观测，这项技术将帮助开发新的表面纳米技术。 </P>
0 p4 M( E: W& ^" m7 G
, }4 K* F+ J2 ?9 y# z<>    表面纳米技术是纳米材料技术与表面技术相交叉的高新技术，指通过表面技术处理纳米材料，使金属或非金属表面形成纳米层。这种纳米层具备高硬度、耐磨、耐腐蚀和耐高温等特性。 </P>

<>    这种纳米层的组成物质被称为表面纳米物质。表面纳米物质是未来半导体产业的尖端材料，高精度显微技术是研究这种尖端材料的首要工具。然而，普通的显微设备都会探测进入物体内部，不可能只对表面的纳米层进行观测，这影响了观测的精度。 </P>
8 k+ K% [# l; Y; A3 r- c
, D' ^- N. k9 @/ T( T* E; R# k<>    根据原子能研究开发机构日前发布的新闻公报，该机构一直致力于开发正电子束显微技术。由于电荷的斥力，带正电荷的正电子束难以进入物体内部，而是在物体表面被全部反射。利用这一特性，科学家开发出了这种显微新技术。 </P>

$ R, U# G4 p8 s2 ?0 W0 O<>    据研究人员说，他们在试验中利用正电子束照射覆盖在硅表面厚约０．２纳米的超薄银膜，并完全看清了这种表面纳米物质的原子排列。（完）</P>