1. 首先利用晶控控制沉积单层膜,厚度约4-7个1/4个中心波长,,这里假设在K9基底上沉积单层ZnS薄膜,晶控显示厚度390nm;, F' G. r3 e% e8 b
2. 然后利用分光光度计测量单层膜的反射率或透射率,测量范围最好宽些,这里测量400-1500nm,利用list选项导出所测量数据,并保存为TXT格式,这里命名ZnS.TXT,如图所示: " g! l% N2 F. k
3. 打开TFC,选择modify-materials # l0 [5 E9 t. L, D1 w1 Q% R5 [4.继续选择Add Material,填写材料名称,选择合适的N与K的拟合公式,这里选择Cauchy与Sellmeier公式,如果不合适,可试选别的公式,点OK结束。