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[转贴] 光学薄膜测厚仪的原理

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发表于 2012-2-17 15:43:51 来自手机 | 显示全部楼层 |阅读模式
2007-3-17 01:23 提问者:孙绪伟 | 悬赏分:30 | 浏览次数:2115次7 G% d) J/ v6 H
我是一个初学者8 F8 {/ h# A" X8 `
2007-3-17 01:24 满意回答7 F, N" m9 m) k$ d/ U. r
光学薄膜测厚仪 (SpectraThick Series) 的核心技术介绍和原理说明
# v9 m8 H+ A5 ~, T+ A, M) D. g1 e0 ^4 c: L8 d8 _3 r
  SpectraThick series的特点是非接触, 非破坏方式测量,无需样品的前处理,软件支持Windows操作系统等。ST series是使用可视光测量wafer,glass等substrates上形成的氧化膜,氮化膜,Photo-resist等非金属薄膜厚度的仪器。7 |/ h$ t6 x3 K; F& e6 o
3 y, N: k! \) M  P7 R: s3 E
测量原理如下:在测量的wafer或glass上面的薄膜上垂直照射可视光,这时光的一部分在膜的表面反射,另一部分透进薄膜,然后在膜与底层 (wafer或glass)之间的界面反射。这时薄膜表面反射的光和薄膜底部反射的光产生干涉现象。SpectraThick series就是利用这种干涉现象来测量薄膜厚度的仪器。; D1 _1 q0 H8 Q# B% f

6 e+ t' B% ?, N" O$ }仪器的光源使用Tungsten Lamp,波长范围是400 nm ~ 800 nm。从ST2000到ST7000使用这种原理,测量面积的直径大小是4μm ~ 40μm (2μm ~ 20μm optional)。ST8000-Map作为K-MAC (株) 最主要的产品之一,有image processs功能,是超越一般薄膜厚度测量仪器极限的新概念上的厚度测量仪器。测量面积的最小直径为0.2μm,远超过一般厚度测量仪器的测量极限 (4μm)。顺次测量数十个点才能得到的厚度地图 (Thickness Map) 也可一次测量得到,使速度和精确度都大大提高。这一技术已经申请专利。$ m+ w6 p. n! u  {7 x7 N" K

0 n) Y$ C& ~1 k  T8 h0 z' ]3 h/ oK-MAC (株) SpectraThick series的又一优点是一般仪器无法测量的粗糙表面 (例如铁板,铜板) 上形成的薄膜厚度也可以测量。这是称为VisualThick OS的新概念上的测量原理。除测量薄膜厚度外还有测量透射率,玻璃上形成的ITO薄膜的表面电阻,接触角度 (Contact Angle) 等的功能。
/ i6 h- v/ c/ m2 D( O产品说明
. W: u5 D- O: w* K+ x: K6 _1 Q% ^8 f% O* @3 }" m7 n0 `3 p& R  w
本仪器是把UV-Vis光照在测量对象上,利用从测量对象中反射出来的光线测量膜的厚度的产品。
' E1 d8 E+ R+ ?+ s0 l+ C! |- l" A+ O9 ~
这种产品主要用于研究开发或生产导电体薄膜现场,特别在半导体及有关Display工作中作为' r6 h3 u3 r8 n$ G8 D7 O# S2 u
, ?% H( W4 Q7 x( J4 ?
In-Line monitoring 仪器使用。
: A( w) F2 q& E& B9 X3 d2 w
+ H2 e6 b/ M. |2 K& }& b+ |( N: k* N3 X/ C9 z6 q1 q

  g' p9 S( q4 A% M" O: }6 b( n产品特性) Y7 D, \4 d) f) S6 I, M

! T, p" y2 u& K+ w! g1) 因为是利用光的方式,所以是非接触式,非破坏式,不会影响实验样品。
7 w# D$ m( ^) p+ F( t
5 s" n$ V; v6 ?1 R* t2) 可获得薄膜的厚度和 n,k 数据。
0 E- d1 z; w# G   
' E' F; l4 e+ f2 g7 e9 N$ d( v; M7 H
3) 测量迅速正确,且不必为测量而破坏或加工实验样品。
! ?$ z$ y8 k5 @1 T6 C2 f7 B/ G9 p! I5 _2 l/ |7 i* N% t
4) 可测量 3层以内的多层膜。6 H. l  ~+ C/ M6 D/ r. N# w
% u2 o9 B6 v5 Q$ l! }/ \, e$ z9 G8 v
5) 根据用途可自由选择手动型或自动型。. b! n5 d1 u! ^& m3 I/ k

# h: M6 h) Q- r2 j, L. _+ J6) 产品款式多样,而且也可以根据顾客的要求设计产品。' P1 N+ c: O" E2 ?! b
: m* B6 a* ?& J
7)可测量 Wafer/LCD 上的膜厚度 (Stage size 3“ )
4 |8 l% F+ U2 c* x3 P& X4 e0 E1 t4 x5 }) Z- Q* l  \
8)Table Top型, 适用于大学,研究室等
; E# P* J1 p  q+ E4 A% {参考资料:http://alco.testmart.cn/ProductFile/Html/CN/2005/2/3/64a1e3d6-07e1-4d8e-88b7-c03ef1554ca4.html
: c' a$ @2 R. @& D' F  Z28 g5 w( M) w5 M9 U
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+ J& n- m" z; ~- Z: }
2 V( l4 x/ [& n4 c' H9 U向TA求助) e! [$ Z: @' H/ N
回答者: 成都龙泉洛带 | 二级
" l5 S. h9 D3 ?; Q) W0 O0 H擅长领域: 互联网 C/C++ 理工学科; o* k3 G3 h' l# J: D
参加的活动: 暂时没有参加的活动
+ r) t. }- m' s  ?. V" w4 Z) i% m. M提问者对于答案的评价:
9 V# L, {$ Q4 d: |谢谢,这给了我很大的帮助,可还是有点不太具体/ u5 M) O# n0 h* _& M5 S

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