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等离子体制备低表面能薄膜性能研究

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发表于 2005-12-27 13:21:52 | 显示全部楼层 |阅读模式
【题名】  等离子体制备低表面能薄膜性能研究     
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【关键词】 等离子体;;等离子体聚合;;结构性能  2 J  ~3 i; e! L5 S6 y+ D. \% g( h

+ J- y4 Y5 u- ]3 x& {$ J8 Q) O: D【摘要】 以六甲基二硅氧烷为反应单体,采用连续与脉冲射频(RF)等离子体两种放电模式聚合低表面能薄膜,研究了连续放电不同功率、脉冲放电不同脉冲宽度和间隔对聚合薄膜性能的影响.通过对薄膜性能的表征:接触角的测量,红外光谱、X 光电子能谱和原子力显微镜的结构和表面分析,发现在低输入功率和脉冲等离子体大占空比条件下,可得到表面能低、疏水性能好、表面结构可控的低表面能薄膜.  
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2 t& M. i; v3 W0 u  x8 f【会议名称】 中国物理学会静电专业委员会第十二届学术年会

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