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[转贴] 光谱分析方法

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发表于 2011-3-15 10:52:00 | 显示全部楼层 |阅读模式
 光谱分析方法作为一种重要的分析手段,在科研、生产、质控等方面都发挥着极大的作用。无论是穿透吸收光谱,还是荧光光谱,拉曼光谱,获得单波长辐射是不可缺少的手段。由于现代单色仪可具有很宽的光谱范围(UV-IR),高光谱分辨率(0.001nm),自动波长扫描,完整电脑控制功能,极易和其它周边设备配合为高性能自动测试系统,使用电脑自动扫描多光栅光谱仪已成为光谱研究的首选。$ l, X) k: x' q: F
  在光谱学应用中,获得单波长辐射是不可缺少的手段。除了用单色光源(如光谱灯、激光器、发光二极管)、颜色玻璃和干涉滤光片外,大都使用扫描选择波长的单色仪。尤其是当前更多地应用扫描光栅单色仪,在连续的宽波长范围(白光)选出窄光谱(单色或单波长)辐射。' B/ I: h1 D2 W; l" C
  当一束复合光线进入光谱仪的入射狭缝,首先由光学准直镜准直成平行光,再通过衍射光栅色散为分开的波长(颜色)。利用不同波长离开光栅的角度不同,由聚焦反射镜再成像于出射狭缝。通过电脑控制可精确地改变出射波长。
! `! {/ Z# F8 n* r! K) c* @; R光栅基础
, ]% H% V3 t. t  光栅作为重要的分光器件,他的选择与性能直接影响整个系统性能。为更好协助用户选择,在此做一简要介绍。) C' ~1 o, d3 t! n0 g
  光栅分为刻划光栅、复制光栅、全息光栅等。刻划光栅是用钻石刻刀在涂有金属的表面上机械刻划而成;复制光栅是用母光栅复制而成。典型刻划光栅和复制光栅的刻槽是三角形。全息光栅是由激光干涉条纹光刻而成。全息通常包括正弦刻槽。刻划光栅具有衍射效率高的特点,全息光栅光谱范围广,杂散光低,且可作到高光谱分辨率。
. G8 J/ Q) |  g4 |( y, i" }9 q! v光栅方程' y6 j3 u0 Z* K' k/ M
  反射式衍射光栅是在衬底上周期地刻划很多微细的刻槽,一系列平行刻槽的间隔与波长相当,光栅表面涂上一层高反射率金属膜。光栅沟槽表面反射的辐射相互作用产生衍射和干涉。对某波长,在大多数方向消失,只在一定的有限方向出现,这些方向确定了衍射级次。如图1所示,光栅刻槽垂直辐射入射平面,辐射与光栅法线入射角为α,衍射角为β,衍射级次为m,d为刻槽间距,在下述条件下得到干涉的极大值:9 r; d. q3 b; a: l6 ~* Z
  mλ=d(sinα+sinβ)
7 f: N# b: j. ?9 B% |9 }* ?: T4 h. t  T  定义φ为入射光线与衍射光线夹角的一半,即φ=(α-β)/2;θ为相对与零级光谱位置的光栅角,即θ=(α+β)/2,得到更方便的光栅方程:9 a) q' Y& i0 E( h, W( n# g3 w6 P
  mλ=2dcosφsinθ
6 n* F# n+ h' E4 a$ Z  v. _  从该光栅方程可看出:
4 U6 t; g4 C( |2 {  对一给定方向β,可以有几个波长与级次m相对应λ满足光栅方程。比如600nm的一级辐射和300nm的二级辐射、200nm的三级辐射有相同的衍射角。
2 ~0 U9 F1 I7 Z& r衍射级次m可正可负。
1 K( y4 n% E$ x5 v* B+ g. s  对相同级次的多波长在不同的β分布开。
( Q. \  l, I7 J: {7 v9 J  含多波长的辐射方向固定,旋转光栅,改变α,则在α+β不变的方向得到不同的波长。; s1 _" d) b- o$ Y4 f  Z
如何选择光栅' M& J1 e: {/ u( }
  选择光栅主要考虑如下因素:; A0 x- k. S  p  l# u: u
  刻槽密度G=1/d,d是刻槽间隔,单位为mm。6 F5 \1 ?: |' _8 r8 u0 `+ m% `
闪耀波长
! F# b& j2 L% E+ _- X  闪耀波长为光栅最大衍射效率点,因此选择光栅时应尽量选择闪耀波长在实际需要波长附近。如实际应用在可见光范围,可选择闪耀波长为500nm。
/ B9 L6 _5 p) W) M9 U光栅刻线
% `3 k3 L8 B) Z' R/ w  光栅刻线多少直接关系到光谱分辨率,刻线多光谱分辨率高,刻线少光谱覆盖范围宽,两者要根据实验灵活选择。
, ~1 p! {6 }8 S5 M/ h8 g( J0 m% {* C光栅效率
+ p9 y, f3 q" g3 H2 E  光栅效率是衍射到给定级次的单色光与入射单色光的比值。光栅效率愈高,信号损失愈小。为提高此效率,除提高光栅制作工艺外,还采用特殊镀膜,提高反射效率。) U+ F; \3 b; X/ j  y3 p1 x
光栅光谱仪重要参数:
6 y/ O2 ^1 o7 u7 B4 _2 m% }分辨率(resolution)$ |" ?, [9 R- B3 |. I3 O& g) V! L
  光栅光谱仪的分辨率R是分开两条临近谱线能力的度量,根据瑞利判据为:
( T5 z/ g+ y! U8 L3 O" u5 Q% o; E  R==λ/Δλ8 x+ \6 g2 }6 H; c' p
  光栅光谱仪有实际意义的定义是测量单个谱线的半高宽(FWHM)。实际上,分辨率依赖于光栅的分辨本领、系统的有效焦长、设定的狭缝宽度、系统的光学像差以及其它参数等。% r) M$ I9 d1 E  A; u. W
R∝M.F/W( M! N/ o8 `) \
M--光栅线数  F--谱仪焦距  W--狭缝宽度) K! k+ _, o* Z& s4 E9 l; ~
色散
/ T! w0 `% K0 f; h* e  光栅光谱仪的色散决定其分开波长的能力。光谱仪的倒线色散可计算得到:沿单色仪的焦平面改变距离χ引起波长λ的变化,即:: a! L' d: _5 m( m1 n4 D
  Δλ/Δχ=dcosβ/nF! U: ^" e4 m* ?7 O1 V
  这里d、β、F分别是光栅刻槽的间距、衍射角和系统的有效焦距,n为衍射级次。由方程可见,倒线色散不是常数,它随波长变化。在所用波长范围内,改变化可能超过2倍。根据国家标准,在本样本中,用1200 l/mm光栅色散的中间值(典型的为435.8nm)时的倒线色散。# n# H. x+ V3 _) B$ k
带宽
  N$ R) P; N" \, V8 h  n  带宽是忽略光学像差、衍射、扫描方法、探测器像素宽度、狭缝高度和照明均匀性等,在给定波长,从光谱仪输出的波长宽度。它是倒线色散和狭缝宽度的乘积。例如,单色仪狭缝为0.2mm,光栅倒线色散为2.7nm/mm,则带宽为2.7*0.2=0.54nm。. L$ X. w4 N/ T: g( W' Z/ h2 |
波长精度、重复性和准确度
. |0 Q  n" [5 Y2 f0 p5 t0 b  波长精度是光谱仪确定波长的刻度等级,单位为nm。通常,波长精度随波长变化,本样本中为最坏的情况。
: o3 [8 V; ]6 ~+ `  波长重复性是光谱仪设定一个波长后,改变设定,再返回原波长的能力。这体现了波长驱动机械和整个仪器的稳定性。卓立汉光的光谱仪的波长驱动和机械稳定性极佳,其重复性超过了波长精度。- y$ ^3 e# g3 Z
 波长准确度是光谱仪设定波长与实际波长的差别。每台单色仪都要在很多波长检查波长准确度。
; i; [' @  c3 P/ I& H$ W1 @9 ~F/#
" l. b9 G" i$ S' {. l, e  F/#定义为光谱仪的直径与焦距的比值。这是对光谱仪接收角的度量,这是调整单色仪与光源及探测器耦合的重要参数。当F/#匹配时,可用上光谱仪的全部孔径。但是大多数单色仪应用长方形光学部件。这里F/#定义为光谱仪的等效直径与焦距的比值,长方形光学件的等效直径是具有相同面积的园的直径。

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