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光谱分析方法作为一种重要的分析手段,在科研、生产、质控等方面都发挥着极大的作用。无论是穿透吸收光谱,还是荧光光谱,拉曼光谱,获得单波长辐射是不可缺少的手段。由于现代单色仪可具有很宽的光谱范围(UV-IR),高光谱分辨率(0.001nm),自动波长扫描,完整电脑控制功能,极易和其它周边设备配合为高性能自动测试系统,使用电脑自动扫描多光栅光谱仪已成为光谱研究的首选。
; e% @ {4 r# ^$ U: j 在光谱学应用中,获得单波长辐射是不可缺少的手段。除了用单色光源(如光谱灯、激光器、发光二极管)、颜色玻璃和干涉滤光片外,大都使用扫描选择波长的单色仪。尤其是当前更多地应用扫描光栅单色仪,在连续的宽波长范围(白光)选出窄光谱(单色或单波长)辐射。3 J- Q7 ]% A% Q( @3 t3 A
当一束复合光线进入光谱仪的入射狭缝,首先由光学准直镜准直成平行光,再通过衍射光栅色散为分开的波长(颜色)。利用不同波长离开光栅的角度不同,由聚焦反射镜再成像于出射狭缝。通过电脑控制可精确地改变出射波长。' i, ~) v1 p! {, I. g6 t1 a
光栅基础5 R, y& W( p9 i1 |; b! _1 a J' I
光栅作为重要的分光器件,他的选择与性能直接影响整个系统性能。为更好协助用户选择,在此做一简要介绍。
0 e& a3 C, p8 C! Q$ S 光栅分为刻划光栅、复制光栅、全息光栅等。刻划光栅是用钻石刻刀在涂有金属的表面上机械刻划而成;复制光栅是用母光栅复制而成。典型刻划光栅和复制光栅的刻槽是三角形。全息光栅是由激光干涉条纹光刻而成。全息通常包括正弦刻槽。刻划光栅具有衍射效率高的特点,全息光栅光谱范围广,杂散光低,且可作到高光谱分辨率。
* M2 G! I- u% g( T3 r, N光栅方程
7 i+ v* k/ L" q$ I) o. ` 反射式衍射光栅是在衬底上周期地刻划很多微细的刻槽,一系列平行刻槽的间隔与波长相当,光栅表面涂上一层高反射率金属膜。光栅沟槽表面反射的辐射相互作用产生衍射和干涉。对某波长,在大多数方向消失,只在一定的有限方向出现,这些方向确定了衍射级次。如图1所示,光栅刻槽垂直辐射入射平面,辐射与光栅法线入射角为α,衍射角为β,衍射级次为m,d为刻槽间距,在下述条件下得到干涉的极大值:& o/ M. @, e% A' t+ U9 s2 x
mλ=d(sinα+sinβ)
; @+ A. w; `- O6 A2 W6 n2 B' l 定义φ为入射光线与衍射光线夹角的一半,即φ=(α-β)/2;θ为相对与零级光谱位置的光栅角,即θ=(α+β)/2,得到更方便的光栅方程:1 c, [4 |& y; G D7 X
mλ=2dcosφsinθ
/ \& ]2 @/ E0 N# B0 t3 x! j5 h7 u 从该光栅方程可看出:
% i* Q! [ X9 S 对一给定方向β,可以有几个波长与级次m相对应λ满足光栅方程。比如600nm的一级辐射和300nm的二级辐射、200nm的三级辐射有相同的衍射角。
5 `# L7 X+ l1 r; S4 t衍射级次m可正可负。
0 t5 H1 @; ?8 W. K 对相同级次的多波长在不同的β分布开。 S- `- Y3 n# L2 a8 w/ o) x1 {" Y
含多波长的辐射方向固定,旋转光栅,改变α,则在α+β不变的方向得到不同的波长。, h: F3 l6 M" e) `3 a: ?
如何选择光栅) b. p. h/ E) J' E! A' ^
选择光栅主要考虑如下因素:
! u5 p/ u4 u) O( g% A; J 刻槽密度G=1/d,d是刻槽间隔,单位为mm。
( O" V5 j5 ^: V% m* f6 z闪耀波长: z4 E. z- F; Q3 p1 G P
闪耀波长为光栅最大衍射效率点,因此选择光栅时应尽量选择闪耀波长在实际需要波长附近。如实际应用在可见光范围,可选择闪耀波长为500nm。
3 l" M/ t/ S2 \* o a$ R6 ]光栅刻线 A6 @0 v0 |( e6 r/ O, j2 {
光栅刻线多少直接关系到光谱分辨率,刻线多光谱分辨率高,刻线少光谱覆盖范围宽,两者要根据实验灵活选择。
+ f/ ~0 G; h; F" y光栅效率" Y4 q# z) g) z4 ]8 r
光栅效率是衍射到给定级次的单色光与入射单色光的比值。光栅效率愈高,信号损失愈小。为提高此效率,除提高光栅制作工艺外,还采用特殊镀膜,提高反射效率。
0 l# k+ r9 Y5 P# n! \, v光栅光谱仪重要参数:7 F1 f! B. Z3 I( ?' @: f4 S
分辨率(resolution)
, L N! m3 w+ |/ P% M 光栅光谱仪的分辨率R是分开两条临近谱线能力的度量,根据瑞利判据为:
- m5 u) ^ s3 M1 N3 s R==λ/Δλ
" g+ \% v/ T3 m1 q' V, }5 x 光栅光谱仪有实际意义的定义是测量单个谱线的半高宽(FWHM)。实际上,分辨率依赖于光栅的分辨本领、系统的有效焦长、设定的狭缝宽度、系统的光学像差以及其它参数等。8 ?+ G& {0 Y* T8 @' t3 ?1 ]/ K
R∝M.F/W! \- y& Z3 f; W& d7 X# P
M--光栅线数 F--谱仪焦距 W--狭缝宽度3 _! \/ h+ L4 W% V' @7 d
色散
W. A: ]0 _# c- `. b6 b 光栅光谱仪的色散决定其分开波长的能力。光谱仪的倒线色散可计算得到:沿单色仪的焦平面改变距离χ引起波长λ的变化,即: b& [8 R2 ^2 C- D" z. u9 T5 c7 i+ a
Δλ/Δχ=dcosβ/nF' A/ m3 l: [, h: |( n8 J
这里d、β、F分别是光栅刻槽的间距、衍射角和系统的有效焦距,n为衍射级次。由方程可见,倒线色散不是常数,它随波长变化。在所用波长范围内,改变化可能超过2倍。根据国家标准,在本样本中,用1200 l/mm光栅色散的中间值(典型的为435.8nm)时的倒线色散。, o! n, M( o0 c* S2 q$ X
带宽# c n9 H, ]3 V; n3 T* j5 A
带宽是忽略光学像差、衍射、扫描方法、探测器像素宽度、狭缝高度和照明均匀性等,在给定波长,从光谱仪输出的波长宽度。它是倒线色散和狭缝宽度的乘积。例如,单色仪狭缝为0.2mm,光栅倒线色散为2.7nm/mm,则带宽为2.7*0.2=0.54nm。, d. ~* J3 X8 ^% q
波长精度、重复性和准确度
5 b' G8 D6 i5 d5 ~5 m/ E6 J6 \ 波长精度是光谱仪确定波长的刻度等级,单位为nm。通常,波长精度随波长变化,本样本中为最坏的情况。
0 m7 o; f7 W t 波长重复性是光谱仪设定一个波长后,改变设定,再返回原波长的能力。这体现了波长驱动机械和整个仪器的稳定性。卓立汉光的光谱仪的波长驱动和机械稳定性极佳,其重复性超过了波长精度。1 z4 {% a- Z3 _, L+ W7 v
波长准确度是光谱仪设定波长与实际波长的差别。每台单色仪都要在很多波长检查波长准确度。
$ @9 @, q' M4 SF/#: s x9 _8 v! b
F/#定义为光谱仪的直径与焦距的比值。这是对光谱仪接收角的度量,这是调整单色仪与光源及探测器耦合的重要参数。当F/#匹配时,可用上光谱仪的全部孔径。但是大多数单色仪应用长方形光学部件。这里F/#定义为光谱仪的等效直径与焦距的比值,长方形光学件的等效直径是具有相同面积的园的直径。 |
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