推荐可以直接测量薄膜反射率和透射率分光光度计

liusp

一种可以同时测量薄膜反射率、折射率、透射率的光学薄膜测厚仪
/ d( v6 B4 v; D产品特征：
2 f* U+ i; t/ [4 t, B* D· 易于安装
· 基于视窗结构的软件，很容易操作
· 先进的光学设计，以确保能发挥出最佳的系统性能
' N, Z, H- b  O3 p/ v. u9 \· 基于阵列设计的探测器系统，以确保快速测量
· 独特的光源设计，有着较好的光源强度稳定性
· 最多可测量5层的薄膜厚度和折射率
· 在毫秒的时间内，可以获得反射率、透射率和吸收光谱等一些参数
9 N' T( e2 H' O$ k! \+ C  o- m4 O· 能够用于实时或在线的厚度、折射率测量
· 系统配备大量的光学常数数据及数据库
· 对于每个被测薄膜样品，用户可以利用先进的软件功能选择使用NK数据库、也可以进行色散或者复合模型（EMA）测量分析；
· 可升级至MSP（显微分光光度计）系统，SRM成像系统，多通道分析系统，大点测量。
· 通过模式和特性结构直接测量。
· 提供的各种配件可用于特殊结构的测量，例如通过曲线表面进行纵长测量。
5 P7 l& ^4 L; g( R% J8 a· 2D和3D的图形输出和友好的用户数据管理界面。

系统配置
& C0 G9 }( l" {* N- g型号：SRT100
检测器：双通道CCD阵列的每个像素2048
光源：氘灯和高功率卤素灯
7 v; K! @% k. i光传输：光纤
9 k- h" W7 E) ^2 ^载物台：黑色铝合金样品测量平台轻松调整高度，100mmx100mm尺寸
! |7 F" @3 }% R5 ^' ^通讯：USB
测量类型：薄膜厚度，反射光谱，透射光谱，折射率
软件：TFProbe 2.3
电脑需要：常规配置
; ]* ^" m/ r0 ~* I1 I" @9 F电源：110 - 240伏交流电/ 50 - 60Hz的，1.5A
, U* y) Z! Z7 h( J$ m保修：1年

4 t& k* \, N4 V5 A8 z产品规格
波长范围：250nm到1100 nm
光斑尺寸：500μm至5mm
样品尺寸：100mmx100mm
! G+ C$ H4 c: W8 c; F基板尺寸：最多可至50毫米厚
测量厚度范围*：5nm-50μm
  E( b; e! p: V2 x测量时间：最快2毫秒
$ w& d! ?& r# e# T精确度：优于0.5％（通过使用相同的光学常数，让椭偏仪的结果与热氧化物样品相比较）
重复性误差*：小于1A

产品应用:
半导体制造（PR，Oxide, Nitride..)
& S: S1 p3 u0 D9 q6 {8 G$ g液晶显示（ITO，PR，Cell gap... ..）
# R0 O9 v' j( d) L) p. `% u9 S医学，生物薄膜及材料领域等
油墨，矿物学，颜料，调色剂等
8 l1 C3 V0 ?4 U* \医药，中间设备
: R$ _: Z9 g6 a. \光学涂层，TiO2, SiO2, Ta2O5... ..
1 e- H. E' B% S7 R, x5 _4 m- Q半导体化合物
在MEMS/MOEMS系统上的功能性薄膜
/ n5 ^2 F0 o1 g" L* X7 l0 D+ W非晶体，纳米材料和结晶硅

$ U$ Y, o: w6 _) f* L我们是北京燕京电子有限公司  
, S$ H. w5 U0 w8 S如有兴趣，请联系 010-58237160  liusp@beijingec.com     msn:   po663340@hotmail.com
0 n" M* [+ c$ \8 M我公司可以免费给您做样品测试！
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