推荐可以直接测量薄膜反射率和透射率分光光度计

liusp

/ Z0 h, f% U" t8 }
) a% F: `9 O; s1 W) B9 ^- P: r( I一种可以同时测量薄膜反射率、折射率、透射率的光学薄膜测厚仪
产品特征：
· 易于安装
2 }  U2 l! [4 K1 l! ?6 [& n6 I· 基于视窗结构的软件，很容易操作
9 b( B- E' m+ }1 G· 先进的光学设计，以确保能发挥出最佳的系统性能
· 基于阵列设计的探测器系统，以确保快速测量
· 独特的光源设计，有着较好的光源强度稳定性
· 最多可测量5层的薄膜厚度和折射率
0 F# R$ P& W' ]7 x! v· 在毫秒的时间内，可以获得反射率、透射率和吸收光谱等一些参数
/ `+ N. ~* S8 v$ U· 能够用于实时或在线的厚度、折射率测量
· 系统配备大量的光学常数数据及数据库
· 对于每个被测薄膜样品，用户可以利用先进的软件功能选择使用NK数据库、也可以进行色散或者复合模型（EMA）测量分析；
; l3 q% o# o0 O9 E% W# F· 可升级至MSP（显微分光光度计）系统，SRM成像系统，多通道分析系统，大点测量。
· 通过模式和特性结构直接测量。
$ C) ~% {' }7 L' J5 L& J· 提供的各种配件可用于特殊结构的测量，例如通过曲线表面进行纵长测量。
) q& u, c8 L1 J  M; i: [· 2D和3D的图形输出和友好的用户数据管理界面。

系统配置
8 d7 u, t+ S5 z/ t5 i0 f型号：SRT100
检测器：双通道CCD阵列的每个像素2048
光源：氘灯和高功率卤素灯
' A! U, S; g* G: O; s光传输：光纤
载物台：黑色铝合金样品测量平台轻松调整高度，100mmx100mm尺寸
$ M4 w8 H: u2 z& C2 D9 Q通讯：USB
, ^6 Z' M) T! y% g& ~+ L2 k测量类型：薄膜厚度，反射光谱，透射光谱，折射率
软件：TFProbe 2.3
电脑需要：常规配置
电源：110 - 240伏交流电/ 50 - 60Hz的，1.5A
& |. b( s4 [. c2 |保修：1年

6 |3 a6 h! Q0 ]6 |* [产品规格
7 O1 \9 o& N& N9 k% i* V( L波长范围：250nm到1100 nm
1 q$ i- \( B, Y. U- W光斑尺寸：500μm至5mm
7 g* H# h+ l" A& ~  M1 _( h样品尺寸：100mmx100mm
- S0 H2 u8 P0 X2 Y基板尺寸：最多可至50毫米厚
测量厚度范围*：5nm-50μm
6 [+ _% g, {6 f测量时间：最快2毫秒
4 @+ u, y% |8 _- s/ Z/ g精确度：优于0.5％（通过使用相同的光学常数，让椭偏仪的结果与热氧化物样品相比较）
重复性误差*：小于1A
7 Z0 v( {; H0 i4 O; d6 L
产品应用:
半导体制造（PR，Oxide, Nitride..)
" B% @8 D/ g5 F( N! L0 w液晶显示（ITO，PR，Cell gap... ..）
6 h# F# h' Z3 q9 f医学，生物薄膜及材料领域等
6 t, D6 _% C) t油墨，矿物学，颜料，调色剂等
) _( V/ p  [; ^- p( C* Y( {5 e医药，中间设备
光学涂层，TiO2, SiO2, Ta2O5... ..
半导体化合物
2 L" i. W( i/ V" N在MEMS/MOEMS系统上的功能性薄膜
非晶体，纳米材料和结晶硅

我们是北京燕京电子有限公司  
如有兴趣，请联系 010-58237160  liusp@beijingec.com     msn:   po663340@hotmail.com
" D8 F) \4 A9 ?: m我公司可以免费给您做样品测试！
' \. I$ s; f- O9 R; |