上海EMD销售美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品

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EMD代理美国SCI高精准薄膜度量 系统 与 软件分析 产品，

美国SCI为世界薄膜度量系统和分析软件行业的领军者，

2 y" ?7 w, A4 C9 e: ]* K其产品广泛应用于半导体，OLED/LCD, 光电，数据存储，显示器，微型机电系统以及光附膜产业，SCI的薄膜特性度量系统品种丰富，从台式研发设备到全自动生产工具以及分析/设计软件应有尽有。
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1) Film Wizard? 软件 : 市面上功能最强大的，多用途，界面友好的薄膜测试模拟软件

应用实例，目前已经有多套Film Wizard?软件应用于中国光电，半导体行业的研发和生产行业。

8 g) z6 ]' v9 c5 Z) O* p* \1 P2) FilmTek? 系统: 为SCI出产的基于分光光度技术的度量系统，有多种不同配置，配合不同需求.
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1.多层厚度（1? 到 250 microns）
. `8 ]( }- v3 a2.折射率n
3.吸收系数k
! |$ t, w# y3 _9 r4.双折射率
5.能隙（Eg）
6.表面粗糙度和损伤
. }' L. w4 C- Z0 C7.多孔性，薄膜成份，结晶度（EMA模式）
8 d! o8 f2 u5 b3 e: a8.薄膜温度特性
6 U( ^. V9 L# }  @& D! p6 u9.晶元曲率和薄膜耐压性

应用实例，上海***研发中心2007年成功引进SCI的FilmTek?2000。
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4 ~$ T" w- m+ y) K  O详细信息请电话或邮件联系EMD上海办事处或前往SCI网站查询，联系方式如下：
电话021-61021226转820/818    王小姐/陈先生
邮件：wangdongmei@eccn.com / benchan@eccn.com
9 |: k* K3 h3 t+ J* U+ s- {  x网址：http://www.emdeccn.com
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