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EMD代理美国SCI高精准薄膜度量 系统 与 软件分析 产品，
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3 p ]& M2 h/ i; G) s& E. h美国SCI为世界薄膜度量系统和分析软件行业的领军者，
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其产品广泛应用于半导体，OLED/LCD, 光电，数据存储，显示器，微型机电系统以及光附膜产业，SCI的薄膜特性度量系统品种丰富，从台式研发设备到全自动生产工具以及分析/设计软件应有尽有。: ]9 G6 K) @9 M9 b( X4 C, z
4 K+ j+ D3 U" t) D$ J( J+ g1) Film Wizard? 软件 : 市面上功能最强大的，多用途，界面友好的薄膜测试模拟软件9 a' J. S; j8 V
! k, w. I% k0 i( J应用实例，目前已经有多套Film Wizard?软件应用于中国光电，半导体行业的研发和生产行业。
+ G B/ e% I. A: u. R9 r
* N+ ? d2 p* |) P3 t; v2) FilmTek? 系统: 为SCI出产的基于分光光度技术的度量系统，有多种不同配置，配合不同需求.+ p2 ~! V: i, k9 P) ^3 c7 S
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1.多层厚度（1? 到 250 microns）5 u# E' H! J. n$ }1 Q2 }2 _& h/ w
2.折射率n7 E2 ]' V- O! t
3.吸收系数k
6 d' K0 t2 l' n/ A4 E4.双折射率$ J+ v$ p! i1 }- g% c9 Y
5.能隙（Eg）% y. c6 z- j3 G, }
6.表面粗糙度和损伤
1 ]( B1 s4 J/ M2 [5 [; b5 }7.多孔性，薄膜成份，结晶度（EMA模式）! j0 ?6 U( V$ L* ]- n E4 F
8.薄膜温度特性
+ `) u# n* x2 l5 l0 I" T4 V( I3 k5 v9.晶元曲率和薄膜耐压性. K. R2 I/ p& O3 l$ C! ~* r- E
' f) Y% a7 O+ D( j8 U应用实例，上海***研发中心2007年成功引进SCI的FilmTek?2000。7 }8 R: S6 ?; O, g
- K( j2 ^* p$ v: L% P% _2 U+ H7 |$ H7 L3 b% L5 M
详细信息请电话或邮件联系EMD上海办事处或前往SCI网站查询，联系方式如下：. Q) { W5 _! E9 l+ E' H
电话021-61021226转820/818 王小姐/陈先生
: |7 N; d' ~, B2 G1 a. e邮件：wangdongmei@eccn.com / benchan@eccn.com7 P+ F2 ]: h7 a
网址：http://www.emdeccn.com0 C; e s4 h/ |& M) G
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发表于 2010-4-30 01:26:49
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