EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品

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EMD代理美国SCI高精准薄膜度量 系统 与 软件分析 产品，
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' ?$ R' T6 P+ S, e7 Z2 j美国SCI为世界薄膜度量系统和分析软件行业的领军者，
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其产品广泛应用于半导体，OLED/LCD, 光电，数据存储，显示器，微型机电系统以及光附膜产业，SCI的薄膜特性度量系统品种丰富，从台式研发设备到全自动生产工具以及分析/设计软件应有尽有。

1) Film Wizard? 软件 : 市面上功能最强大的，多用途，界面友好的薄膜测试模拟软件

' G1 y. }9 q8 P- L应用实例，目前已经有多套Film Wizard?软件应用于中国光电，半导体行业的研发和生产行业。
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2) FilmTek? 系统: 为SCI出产的基于分光光度技术的度量系统，有多种不同配置，配合不同需求.
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- D& C2 ?9 [( i4 |2 m! x9 s' N9 f1.多层厚度（1? 到 250 microns）
2.折射率n
3.吸收系数k
5 A6 |9 c- d: z4.双折射率
" q9 d' @+ c  J# T- X5.能隙（Eg）
2 i6 e8 P# A0 Z7 r% a* ?7 s6.表面粗糙度和损伤
! v/ j5 u6 I7 v6 w7.多孔性，薄膜成份，结晶度（EMA模式）
4 q) ?8 o7 i. Z4 _" k8.薄膜温度特性
9.晶元曲率和薄膜耐压性

应用实例，上海***研发中心2007年成功引进SCI的FilmTek?2000。
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2 W0 \- @' h$ A详细信息请电话或邮件联系EMD上海办事处或前往SCI网站查询，联系方式如下：
6 T$ U% s9 j  A: F电话021-61021226转820/818    王小姐/陈先生
, K/ A- L  B. p6 E邮件：wangdongmei@eccn.com / benchan@eccn.com
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