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产品名称:
" J! g6 o- \3 a; a, O9 D F20 便携式膜厚测量系统
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产品简介: ~! O& {. q7 Y
利用光谱反射原理,进行非接触式测量.可对薄膜厚度、n、k值进行测量.常规可测4层膜.有五种不同波长选择(波长范围从紫外220nm至近红外1700nm)。薄膜厚度的测量范围是: 3nm~250um,精度为0.1nm。 & E& H* q. v4 X
产品背景:
, {! j! C, e! q: X; l 美国FILMETRICS公司成立于1995年,总部位于美国加州的圣地亚哥,是经济、快速膜厚测量系统的顶尖制造商,FILMETRICS公司的产品曾获得全美“100项重大科技成就奖”和“25项新产品奖”。1 J+ {; X" s! C0 F- _3 K
产品特性:
4 M$ m, j; y* Y: A, I 操作简单、使用方便;" d2 Y$ ^* N+ F: z# X
测量快速、准确;
% v) t7 }7 l4 Z, q 体积小、重量轻; 7 P7 t5 S) Q5 L, x0 T. |
价格便宜;
* f) d) H" E. C& v0 v! Q) F4 P6 {( E, ^产品应用: ! v+ ~& j- c2 c: l
半导体行业:光阻、氧化物、氮化物; 1 {" A8 ]3 s7 t/ L9 A& b9 G
LCD行业:液晶盒间隙厚度、 Polyimides; ; T2 W) p4 w* L0 x* z
光电镀膜应用:硬化膜、抗反射膜、滤波片 ) ]! g& u3 L9 F, R* d, \
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联系方式: + p) _' O3 F7 d' c2 Y$ e
北京高光科技有限公司 ' H( z* a8 s, h4 O) P$ J% ?
联系人: 田小姐
6 o/ |' Y2 C ]$ F" a# ]" oE-mail: ty@clight.com.cn
5 k9 p: w/ l3 D9 U# Z. c) D电 话: 010-58816816 1 B0 H0 l+ ^# s" j$ k
网 址: http://www.clight.com.cn |
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