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光学薄膜论坛»论坛 › 薄膜工艺 › 薄膜工艺 › 如何测试基材的N和K

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[求助] 如何测试基材的N和K

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发表于 2014-10-27 13:26:48 | 显示全部楼层 |阅读模式

大家好：
我想测试PET的N和K，请问如何计算或者测出？谢谢！

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积分: 31

发表于 2014-10-28 02:27:25 | 显示全部楼层

用 ellipsometer，可以测出。

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积分: 5830

发表于 2014-10-29 11:30:31 | 显示全部楼层

没有椭偏仪的话，用macload包络法可以根据光谱曲线计算。

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楼主| 发表于 2014-10-29 14:47:10 | 显示全部楼层

谢谢两位！请问Macleod包络法是怎样测试的？我有这个软件，是不是要先测其对应波长的反射率？

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积分: 443

发表于 2014-11-16 14:33:21 | 显示全部楼层

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