光学薄膜测量仪(膜厚仪)F20(北京高光科技)
产品名称:F20 便携式膜厚测量系统
产品简介:
利用光谱反射原理,进行非接触式测量.可对薄膜厚度、n、k值进行测量.常规可测4层膜.有五种不同波长选择(波长范围从紫外220nm至近红外1700nm)。薄膜厚度的测量范围是: 3nm~250um,精度为0.1nm。
产品背景:
美国FILMETRICS公司成立于1995年,总部位于美国加州的圣地亚哥,是经济、快速膜厚测量系统的顶尖制造商,FILMETRICS公司的产品曾获得全美“100项重大科技成就奖”和“25项新产品奖”。
产品特性:
操作简单、使用方便;
测量快速、准确;
体积小、重量轻;
价格便宜;
产品应用:
半导体行业:光阻、氧化物、氮化物;
LCD行业:液晶盒间隙厚度、 Polyimides;
光电镀膜应用:硬化膜、抗反射膜、滤波片
>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>
联系方式:
北京高光科技有限公司
联系人: 田小姐
E-mail: ty@clight.com.cn
电话: 010-58816816
网 址: http://www.clight.com.cn 产品名称:
F20 便携式膜厚测量系统
http://www.coscn.org/PictureUpLoad/供应/Pic20073606103621641_1.jpg
产品简介:
有五种不同波长选择(波长范围从紫外220nm至近红外1700nm)。薄膜厚度的测量范围是: 3nm~250um,精度为0.1nm。
产品特性:
操作简单、使用方便;
测量快速、准确;
体积小、重量轻;
价格便宜;
产品应用:
半导体行业:光阻、氧化物、氮化物;
LCD行业:液晶盒间隙厚度、 Polyimides;
光电镀膜应用:硬化膜、抗反射膜、滤波片
>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>
联系方式:
北京高光科技有限公司
联系人: 田小姐
E-mail: ty@clight.com.cn
电话: 010-58816816
网 址:http://www.clight.com.cn 产品名称:
F20-HC 经济型高级膜厚测量系统
http://www.aptchina.com/resource/2009/1/7/2009171441398552.jpg
产品简介:
是在F20系统的基础上在软件中采用了仿真计算来测试单层或多层膜,波长范围是400~1000nm,薄膜厚度的测量范围是: 0.1~50um,精度好于0.4%。
应用领域:
硬化膜、曲面薄膜、宽带增透膜(AR-Coating)
>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>
联系方式: 北京高光科技有限公司
联系人: 田小姐
E-mail: ty@clight.com.cn
电话: 010-58816816
网 址:http://www.clight.com.cn 顶~~~~~~~~~~~~ 提前祝大家新年快乐,身体健康,工作顺利!祝我们的论坛人气越来越旺! 如果您对我们的产品感兴趣,您可以按以下联系方式联系我,或者可以寄样品给我,我们可以免费为您测量.
>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>
联系方式:
北京高光科技有限公司
联系人: 田小姐
E-mail: ty@clight.com.cn
电话: 010-58816816
网 址:http://www.clight.com.cn 如果您对我们的产品感兴趣,您可以按以下联系方式联系我,或者可以寄样品给我,我们可以免费为您测量
联系方式:
北京高光科技有限公司
联系人: 田小姐
E-mail: ty@clight.com.cn
电话: 010-58816816
网 址:http://www.clight.com.cn 产品名称: TG'A'wXxy
F20 便携式膜厚测量系统 3{ `fT5]U
4F/Q0"
产品简介: .\\i9}ye
有五种不同波长选择(波长范围从紫外220nm至近红外1700nm)。薄膜厚度的测量范围是: 3nm~250um,精度为0.1nm。 tV%M2 DxS
产品特性: ;c~6^s`2
操作简单、使用方便; :0V<
测量快速、准确; /J1O {L
体积小、重量轻; }9{6{TD
价格便宜; :MpIx&
产品应用: "o% N`Xlx
半导体行业:光阻、氧化物、氮化物; hE+6z%A8
LCD行业:液晶盒间隙厚度、 Polyimides; 7*uG9iX
光电镀膜应用:硬化膜、抗反射膜、滤波片 j[9xF<I
>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>>> ;OE{&
联系方式: {WT"\\Xj>B?
北京高光科技有限公司 }yC ve
联系人: 田小姐 %TvunV7NQS
E-mail: ty@clight.com.cn AZxOq !B
电话: 010-58816816 q^>$YY>F
网 址:http://www.clight.com.cn 3nm以下的薄膜厚度就测得不准了吗?还是? 回复8楼的朋友:
仪器最薄只能测到3nm的厚度 也就是说测量范围是 3nm~250um 如果薄膜厚度小于3纳米,测量肯定是不准的了。
页:
[1]
2