clight 发表于 2009-1-8 06:06:18

光学薄膜测量仪（膜厚仪）F20（北京高光科技）

产品名称：
    F20 便携式膜厚测量系统
   
产品简介：
    利用光谱反射原理,进行非接触式测量.可对薄膜厚度、n、k值进行测量.常规可测4层膜.有五种不同波长选择(波长范围从紫外220nm至近红外1700nm)。薄膜厚度的测量范围是： 3nm～250um，精度为0.1nm。
产品背景:
    美国FILMETRICS公司成立于1995年，总部位于美国加州的圣地亚哥，是经济、快速膜厚测量系统的顶尖制造商，FILMETRICS公司的产品曾获得全美“100项重大科技成就奖”和“25项新产品奖”。
产品特性：   
    操作简单、使用方便；
    测量快速、准确；
    体积小、重量轻；
    价格便宜；
产品应用：
    半导体行业:光阻、氧化物、氮化物；
    LCD行业:液晶盒间隙厚度、 Polyimides；
    光电镀膜应用:硬化膜、抗反射膜、滤波片
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联系方式:
北京高光科技有限公司
联系人: 田小姐
E-mail: ty@clight.com.cn
电话: 010-58816816
网 址: http://www.clight.com.cn

clight 发表于 2009-1-8 06:07:07

产品名称：
    F20 便携式膜厚测量系统
http://www.coscn.org/PictureUpLoad/供应/Pic20073606103621641_1.jpg
产品简介：
    有五种不同波长选择(波长范围从紫外220nm至近红外1700nm)。薄膜厚度的测量范围是： 3nm～250um，精度为0.1nm。
产品特性：
    操作简单、使用方便；
    测量快速、准确；
    体积小、重量轻；
    价格便宜；
产品应用：
    半导体行业:光阻、氧化物、氮化物；
    LCD行业:液晶盒间隙厚度、 Polyimides；
    光电镀膜应用:硬化膜、抗反射膜、滤波片
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联系方式:
北京高光科技有限公司
联系人: 田小姐
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clight 发表于 2009-1-8 06:23:28

产品名称：
    F20-HC 经济型高级膜厚测量系统
http://www.aptchina.com/resource/2009/1/7/2009171441398552.jpg
产品简介：
    是在F20系统的基础上在软件中采用了仿真计算来测试单层或多层膜，波长范围是400～1000nm，薄膜厚度的测量范围是： 0.1～50um，精度好于0.4%。
应用领域：
    硬化膜、曲面薄膜、宽带增透膜（AR-Coating）

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联系方式: 北京高光科技有限公司
联系人: 田小姐
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clight 发表于 2009-1-15 05:49:36

顶~~~~~~~~~~~~

clight 发表于 2009-1-19 22:53:19

提前祝大家新年快乐,身体健康,工作顺利!祝我们的论坛人气越来越旺!

clight 发表于 2009-3-10 07:06:31

如果您对我们的产品感兴趣,您可以按以下联系方式联系我,或者可以寄样品给我,我们可以免费为您测量.
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联系方式:
北京高光科技有限公司
联系人: 田小姐
E-mail: ty@clight.com.cn
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clight 发表于 2009-7-16 23:34:34

如果您对我们的产品感兴趣,您可以按以下联系方式联系我,或者可以寄样品给我,我们可以免费为您测量
联系方式:
北京高光科技有限公司
联系人: 田小姐
E-mail: ty@clight.com.cn
电话: 010-58816816
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clight 发表于 2009-12-12 05:00:59

产品名称： TG'A'wXxy
    F20 便携式膜厚测量系统 3{ `fT5]U
4F/Q0"
产品简介： .\\i9}ye
    有五种不同波长选择(波长范围从紫外220nm至近红外1700nm)。薄膜厚度的测量范围是： 3nm～250um，精度为0.1nm。 tV%M2 DxS
产品特性： ;c~6^s`2
    操作简单、使用方便； :0V<
    测量快速、准确； /J1O {L
    体积小、重量轻； }9{6{TD
    价格便宜； :MpIx&
产品应用： "o% N`Xlx
    半导体行业:光阻、氧化物、氮化物； hE+6z%A8
    LCD行业:液晶盒间隙厚度、 Polyimides； 7*uG9iX
    光电镀膜应用:硬化膜、抗反射膜、滤波片 j[9xF<I
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联系方式: {WT"\\Xj>B?
北京高光科技有限公司 }yC ve
联系人: 田小姐 %TvunV7NQS
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weimao_liu 发表于 2009-12-15 23:16:46

3nm以下的薄膜厚度就测得不准了吗？还是？

clight 发表于 2009-12-17 00:54:38

回复8楼的朋友：
仪器最薄只能测到3nm的厚度      也就是说测量范围是 3nm～250um    如果薄膜厚度小于3纳米，测量肯定是不准的了。
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